基于SOPC的边界扫描测试控制器开发

本文阐述了一种新颖的基于SOPC边界扫描控制器的设计,提出了一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描测试子系统嵌入在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的Cyclone Ⅱ系列的现场可编程阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时开发的具有自主知识产权的JTAG控制IP核模块为SOPC系统提供了一个颇有实用价值的组件,无需专用边界扫描测试设备即可实现系统的边界扫描测试功能.详细论述了基于SOPC的边界扫描控制器设计及JTAG总线控制IP核模块的开发.仿真及实验结果表明,此设计正确合理,能够进行有效的边界扫描测试.     

标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨

本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总线”第一部分“标准测试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。阐述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法,综述了美国相应标准ＩＥＥＥ Ｓｔｄ １１４９．１公布前后提出和试行在印制板级和实验级实现的若干方法和方案,包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实践中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发     

系统级边界扫描测试系统的设计与实现

模块测试与维护总线(MTM-Bus)给层次化边界扫描测试技术提供了方便。本文简要介绍了MTM-Bus原理及应用,论述了系统级边界扫描测试系统的结构与设计,通过FPGA实现了MTM-Bus主、从模块控制器,构建了测试系统,并设计了测试系统软件。通过测试验证,表明系统工作稳定,关键技术通用性强,能够准确地进行故障诊断和定位。     

IEEE 1149.1测试的扩充

本文讨论了专用边界扫描控制器在PCB板测试中的应用以及如何提高测试数据吞吐量的问题,讨论了专用边界扫描控制器结合传统的在线自动测试设备和飞线探测器在生产环境中的应用。     

边界扫描测试系统的设计与实现

为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统,并通过对目标板的故障测试,验证了该系统满足完整性测试,互联测试的设计要求且对印刷电路板（PCB）和集成电路（IC）制造和使用过程中出现的桥接故障和呆滞故障有良好的故障诊断、定位功能。     

数字电路BST的测试矢量预装和响应提取

在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连线故障测试过程中向边缘扫描单元(BSC)预装测试矢量序列和提取响应序列的方法.     

PXI模块仪器进入边界扫描测量

针对集成电路单元器体数超过百万,功能越来越复杂的数字电路的测量,1980年后期计算机业界成立联合测试工作组(JTAG)研讨一种数字集成电路边界扫描技术,简化传统测试所需的大量激励和输出引脚,只规定4个边界扫描引脚:测试数据输入(TDI);测试时钟(TCK);测试模式选择(TMS);测试数据输出(TDO).四个边界扫描的寄存器和被测集成电路的重要边界扫描节点,预先布置在集成电路芯片内部,四个边界扫描引脚组成的测试进入端口(TAP)在集成电路则占有固定的位置.这种边界扫描技术在1990年获得认证成为IEEE1149.1标准,边界扫描和可测试性设计相结合的集成电路测试已普遍获得业界的认可.但是,集成电路的测试系统一直属于自动测试设备(ATE)供应商市场,即使测试测量仪器供应商亦难进入.     

基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描可测性结构进行了探索,具有重要的理论价值和实际意义。     

边界扫描的互连测试故障诊断技术研究

影响边界扫描测试效基于遗传算法,建立了板级边界扫描系统的遗传模型,生成了高效、优化的PCB测试矢量集.在此矢量集的基础上,分析了互连测试中主要的故障模型,进行了基于BP神经网络的故障建模与诊断.并实际验证了该算法的正确性.     

基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析

为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(DFT)已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成部分。IEEE1149.1作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段。现在大部分的复杂芯片都支持IEEE1149.1标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理入手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。     

边界扫描测试系统的以太网接口设计

将边界扫描测试技术应用于远程测试,可实现仪器设备的远程测试与故障诊断。研制了一种边界扫描测试系统的以太网接口设计方案,采用C8051F021单片机可编程外部存储器接口与网络接口芯片RTL8019实现总线连接,提高了RTL8019的访问速度,设计了网络接口电路和硬件底层驱动程序,并组建基于网络的边界扫描测试系统硬件平台。通过测试验证,测试结果表明,该以太网接口可以很好地完成网络数据通信,使测试系统具有远程测试功能,提高了边界扫描测试技术的应用价值。     

利用边界扫描测试和SVT改善基于Haswell的电脑主板的测试覆盖率

针对使用Intel最新一代CPU"Haswell"开发的笔记本电脑、超极本电脑,其主板测试覆盖率普遍低于50%的问题,提出基于边界扫描测试结合SVT测试在不增加测试点的情况下提高测试覆盖率的方案。该方案以便携型边界扫描测试仪和SVT测试盒为硬件,在边界扫描测试软件中无缝集成SVT测试程序,具有结构简单、成本低廉、易于复制的特点,适用于研发、新品导入、量产、维修等多种环境。     

边界扫描技术的优化设计

边界扫描技术是工业领域可测性设计的主流技术。对其进行优化设计,可以缩短测试施加时间,提高故障诊断率。本文从其本身的优化设计以及与其他DFT技术相结合的综合优化设计两个角度详细论述了基于边界扫描的优化设计问题,对该领域的进一步深入研究具有重要的理论价值和实践价值。     

基于边缘扫描技术的PCB测试节点优化设计

介绍了一种可用于PCB测试的方法。边缘扫描技术是一种先进的数字电路测试技术,可广泛应用于大规模集成电路的测试。本文详细介绍了边缘扫描技术的测试电路结构及其工作模式,并将其应用于PCB的测试,本文利用基于贪婪策略的最优化算法分析了PCB的测试节点,可以利用最小的测试节点集实现PCB的测试。实际应用电路的分析结果表明,本文介绍的PCB测试方法,可以有效地降低PCB级测试的硬件开销。     

一种用于磁盘机频率特性测试的扫频信号源

本文提出了一种利用微机资源,用于磁盘机机械,电路系统频率特性测试的扫频信号激励源的设计方案。该激励源采用了两级分频方案,能在较宽的频率范围内进行任意波形的扫频,具有较好的频率变化梯度。在低频场合,不失为一种理想的扫频信号源。本文最后给出了主要的技术指标。     

基于DSP的数字化交流传动互馈试验台控制器研究

介绍了一种能量互馈型的交流牵引传动试验台的结构和工作原理,针对系统需求设计了基于CAN总线技术、以数字信号处理器(DSP)为核心的数字化控制器.该控制器具有丰富的外围接口,能够可靠地实现数据通信,既可对系统各个变流器单独控制,又满足试验台的联合控制要求.实验表明该控制器可以稳定、可靠地运行.     

考虑寄生参数的隔离型双有源桥DC-DC变换器的开关开路故障分析与容错控制策略

双有源桥(DAB)DC-DC变换器开关管的驱动电路故障导致开关开路故障(OCSF),这使得DAB系统拓扑对称性缺失、高频电压和电流发生畸变和直流偏置,进而对系统的可靠性和长期运行稳定性造成不良影响.对此,研究DAB开关管和高频变压器寄生参数对OCSF后系统运行状态的影响,以完善DAB故障分析体系.针对OCSF问题,提出一种基于对称拓扑和对偶原理的故障容错策略,通过闭锁开关使系统运行拓扑恢复对称,并在此基础上提出一种不改变控制器参数、只需改变控制器输出饱和参数的实用控制方法,并在理论上讨论了该方法的可行性.最后,通过实验验证了OCSF模态分析及所提容错控制策略的正确性.     

基于滑模控制的新型双准Z源NPC型五电平逆变器并网控制策略

针对传统双Z源二极管箝位(NPC)型五电平逆变器的Z源网络电感启动电流过大、升压能力有限等问题,提出一种新型的双准Z源NPC型五电平逆变器拓扑结构。用一种新型的双准Z源结构代替传统的双Z源结构,能够降低近2/3的Z源网络电感启动电流,提升逆变器直流侧电压接近2倍。将滑模控制应用到准Z源五电平逆变器系统的控制中,该方法无需线性化处理,只需通过系统数学模型就可推导出适当的控制规律。分析新型双准Z源五电平逆变器拓扑的工作原理;应用状态空间法和小信号模型对准Z源五电平并网系统进行数学模型推导和分析,并进行滑模控制器的设计;仿真和硬件实验结果表明,与传统比例-积分(PI)控制相比,滑模控制能够显著提高系统稳定性,降低电流谐波。