基于面阵CCD的不规则平面物体面积测量仪的研制

介绍了一种基于面阵CCD的高性能面积测量仪的研制.详细阐述了有关的工作原理和术.本光电仪器充分应用了PIC单片机自身的软硬件资源,具有便携式、可编程、存储容量大、图文显示等特点,并可推广应用于其他领域.     

不规则形体面积的CCD测量研究

不规则的薄的形体,其面积的测量比较复杂,通常在要求快速性的情况下,往往无能为力。本文介绍一种应用线阵ＣＣＤ测量面积的原理和方法,由单片机实现数据的采集、处理和测量过程的控制,简化对不规则形体面积的分割、积算过程。研究表明,测量精度得到提高,测量效率成倍增加。适合各种场合的面积测量。     

基于面阵CCD图像的温度场测量研究

推导出具有实物面的高温辐射体温度和CCD像素点亮度之间的关系。结合比色测温法，给出一种基于彩色CCD图像的温度场测量方法。用一套经黑体炉标定过的测温系统，分别在黑体炉和普通煤炉上进行测温试验，取得较好结果。通过比较计算温度值和热电偶测量值，分析了本测温方法的误差来源。     

面阵图像传感器在位移测量中的应用研究

在位移测量中,探索采用普通面阵ＣＣＤ取代线阵ＣＣＤ显得具有重大实用价值。本文将讨论微型ＣＭＯＳ电视摄像机作为图像卖座器在实时光电位移测量时的处理生能分析。理论和实际测试结果表明,在体积、成本、测量精度和抗干扰能力等方面,面阵图像传感器都优于线阵ＣＣＤ。     

利用线阵CCD对物体尺寸测量的研究

介绍了一种对物体尺寸精密测量的方法.该方法采用线阵CCD作为光电传感器件,通过对CCD输出信号进行二值化处理并从计算机获得数字式信号,从而实现对物体尺寸的精确检测.测量结果表明:与其他传统的检测方法相比,该方法具有测量精度高、速度快,操作简单,检测过程中运行稳定等优点,在工业生产的尺寸测量中有实用价值.     

用线阵CCD测量颗粒尺寸分布的研究

线阵CCD器件的应用已相当广泛，文中介绍了一种以线阵CCD为接受器件的颗粒尺寸分布测量新方法。基于群体粒子的衍射理论，一般采用以环形光电管（SSPD）为接受器件、以矩阵迭代为反演手段的测量方法；而我们采用了以线阵CCD为接受器件、以shifrin变换为反演手段的新方法，线阵CCD能在小的衔射角范围内获取大量的数据，这为我们反演的准确和测量精度的提高提供了有力的保障。对几微米以上的实际样品测试实验表明：与目前以SSPD为接受器件的测量方法相比，峰值粒径测量的精度有所提高，其相对误差在3％左右，且该法仅需要很少的预知信息，此外测量的结果更为详细。     

基于面阵CCD成像技术的测量仪器及系统的研制

介绍了基于面阵CCD成像技术的测量仪器的光学系统参数设计、测量原理和电路系统的实现方法。应用结果表明其设计有独到之处,适用于许多难以检验的小尺寸工件的测量,操作简单。精度可以满足工艺控制的要求。     

面阵CCD在大尺寸形位误差测量中的应用

本文介绍了在半导体激光光纤和位相结合的准直情况下,利用面阵ＣＣＤ探测器测量大尺寸形位误差的原理,并针对二维位相板衍射图像的特点,提出了一种处理此类衍射图样的图像处理新方法－正交投影法,消除了ＣＣＤ表面保护玻璃形式的干涉条纹的影响,对空气扰动也起到了很好的抑制作用,并且使二维图像处理变形为一维计算,大大提高了计算速度。此面阵ＣＣＤ测量系统与双频激光干涉仪测量直线度误差的比对实验结果表明,二者的测量结     

一种驱动面阵CCD特殊时钟信号实现方法

在面阵驱动电路设计中,经常遇到具有3种电平状态(零电平、正、负电平),同时电平幅值较高的时钟信号驱动电路设计的问题是以往线阵CCD驱动电路设计中从未遇见过的.本文提供一种满足新任务需求的驱动面阵CCD器件时钟信号的实现方法及电路.     

线阵-面阵CCD三线阵立体测绘相机焦平面组件的研制

介绍了线阵-面阵CCD(LMCCD)制式相机的相关原理,提出实现LMCCD相机的关键在于相机焦平面组件的研制.给出了LMCCD相机焦平面组件在研制过程中的关键技术,如LMCCD像面基板与CCD的高精度拼接,焦平面组件电子学部分的低噪声、高集成度设计,焦平面组件在真空环境下的热噪声抑制和热传导设计,以及焦平面组件的装配和焊接等.最后,给出了研制和测试结果.LMCCD拼接的共面精度优于5 μm,平移量和平行度均优于2μm;在典型工作情况下,实验室测试信噪比优于90;在15 min的工作周期下,焦面组件的温度控制在30℃以下.这些结果满足LMCCD制式相机关于CCD拼接、焦面温度控制和信噪比的要求.     

使用CCD的实时液位测量系统研究

本文描述了一种实用的液位测量系统。该系统采用线阵ＣＣＤ作为传感器，由微机系统完成数据采集、处理、参数分析及显示，并控制随动测量头进行定位跟踪测量。实现了大范围、高精度的自动化监测。     

采用 CCD 器件的半导体材料应力测试仪的研制

研究和实现了采用面阵ＣＣＤ器件的半导体材料应力测试仪。介绍了测量原理，设计完成了相应的光学测量系统、硬件控制系统和控制测量所需的软件。最后介绍了对硅上ＳｉＯ２、Ｓｉ３Ｎ４膜应力实际测量的结果。     

用低分辨率CCD进行高精度边缘检测的一种新方法——模糊成象法

本文从信息获取的角度出发，提出了一种用低分辨率ＣＣＤ进行高精度边缘检测的新方法，可从根本上突破象元间隙给尺寸测量精度带来的限制，其实质是用光学方法对输入图象进行某种变换（波形展宽），变换的结果使ＣＣＤ探测到更丰富的边缘信息，再用数学方法对其进行反变换（拟合），以恢复被测物体的精确边缘位置信息。     

螺纹参数CCD视觉检测系统的研究

基于面阵CCD视觉检测技术,设计并实现了一种螺纹参数非接触式自动检测系统,可实时准确地测量螺纹的牙型角、螺距、导程、螺纹升角、螺纹高度、大径、中径、小径等参数。并着重研究了螺纹图像预处理、边缘检测、亚像素定位等关键技术,以提高螺纹参数的测量精度。实验结果表明,该检测系统可以完成各项螺纹参数测量,相对测量精度优于1·3%。     

基于面阵CCD的振动非接触测量

介绍了基于面阵CCD的振动非接触测量系统的原理和结构。对系统参数的确定方法和系统所采集的序列运动图像的处理方法进行了分析。并通过实验验证了系统的可靠性     

线阵CCD阵列检测系统设计

以TCD1208AP为例，叙述了线阵CCD的时序逻辑，并设计了相应的阵列检测系统。系统使用单片机作为控制单元，使用在系统可编程器件设计了CCD的时序发生器，使用模数转换器AD9243和FIFO缓存器构成高速数据采集系统。分析了时序发生器的组成原理，并基于ispLSI1016实现设计，给出了实测波形。分析了14位3 MHz模数转换器AD9243和9位4k容量的FIFO存储器IDT7204的时序，设计中使用2片IDT7204构成一个14位的缓存器．给出了数据采集系统接口电路图，并对电路设计进行了说明。     

基于线阵CCD检测器的芝麻油掺假速测仪

研制了一种采用固定光栅分光，线阵CCD检测器检测的新型芝麻油掺假速测仪，阐述了其工作原理以及软硬件设计，并将其应用于实际样品的测定。