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应用磁控共溅射技术和后退火方法制备了GaAs/SiO2纳米颗粒镶嵌薄膜,并分别应用原子力显微镜、X射线衍射和卢瑟福背散射实验来观测薄膜的形貌、相结构和化学组分.结果表明GaAs纳米颗粒的平均直径很小(约为1.5~3.2nm),且均匀地分布于SiO2之中,薄膜中的GaAs和SiO2组分都符合化学计量关系.应用脉冲激光高斯光束对薄膜的光学非线性进行了Z扫描测试和分析.结果表明,薄膜的三阶光学非线性折射率系数和非线性吸收系数都由于量子限制效应而大大地增强,在非共振条件下,它们分别约为4×10-12m2/W和2×10-5m/W,在准共振的条件下,它们分别约为2×10-11m2/W和-1×10-4m/W. 相似文献
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应用磁控共溅射技术和后退火方法制备了GaAs/SiO2纳米颗粒镶嵌薄膜,并分别应用原子力显微镜、X射线衍射和卢瑟福背散射实验来观测薄膜的形貌、相结构和化学组分.结果表明GaAs纳米颗粒的平均直径很小(约为1.5~3.2nm),且均匀地分布于SiO2之中,薄膜中的GaAs和SiO2组分都符合化学计量关系.应用脉冲激光高斯光束对薄膜的光学非线性进行了Z扫描测试和分析.结果表明,薄膜的三阶光学非线性折射率系数和非线性吸收系数都由于量子限制效应而大大地增强,在非共振条件下,它们分别约为4×10-12m2/W和2×10-5m/W,在准共振的条件下,它们分别约为2×10-11m2/W和-1×10-4m/W. 相似文献
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镶嵌于介质中半导体纳米颗粒非线性光学性质的研究动态 总被引:1,自引:1,他引:1
介绍了有关镶嵌于介质半导体钠米颗粒非线性光学性质的研究动态,这种材料具准零维量子点特征,其三阶光学非线性系数大,响应快,功耗低,在光开关,光存储及全光逻辑运算等领域具有广阔的应用前景。 相似文献
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复合金属颗粒膜光学非线性增强因子的分析与计算 总被引:1,自引:0,他引:1
分析了金属颗粒膜的光学非线性增强效应,计算得到了Au和Ag颗粒膜的二次谐波增强因子FSHG与介质的介电常数的关系,以及在等离子体共振吸收频率处的三阶极化率增强因子F(3). 相似文献
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富勒烯分子LB膜三次非线性光学性质研究 总被引:1,自引:1,他引:1
在C60花生酸复合LB膜中实现了立体简并四波混频和多重前向光学相位共轭输出,观察到了共轭光输出的累积效应,采用相对测量法测得C60LB膜的X(3)为(1.8±0.4)×10-8esu,分析了前向共轭光强与信号光、泵浦光强的关系,最后讨论了非线性效应产生的原因. 相似文献
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基于Maxwell—Garnett(M-G)有效介质理论,建立 了研究金属纳米不连续薄膜光学性质的理论 模型,对半球形纳米颗粒在等效薄膜中的体积分数和纳米尺度效应提出修正处理; 给出了可见光区附近Au纳米颗粒等效薄膜的有效相对电容率和光学常数随波长变化的结果, 并 获得薄膜的光反射率、透射率和吸收率随膜纳米尺度的变化谱。计算结果表明,金属纳米等 效 薄膜有效电容率和光学常数随纳米尺度增大而增大,谱峰出现很小的红移。进一步发现,纳 米尺 度越小,光的反射率和吸收率越小,但透射率越大,峰值位置随纳米尺度增大有小量红移, 结果与实验相符。 相似文献
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采用电沉积方法,在表面活性剂/电解液界面制备了硫化镉纳米膜,考察了样品的表观形貌及光学性质.原子力显微镜(AFM)及透射电镜(TEM)测试表明,纳米膜由粒径为33 nm左右的球形颗粒组成;X_射线光电子能谱测试表明,纳米膜由硫化镉和金属镉组成;用椭圆偏振仪测试样品在不同波长下的复折射率、复介电常数,并计算得出硫化镉纳米膜的平均厚度为190 nm;用Z-扫描方法硫化镉纳米膜的非线性折射性质,计算得出硫化镉纳米膜的非线性折射系数为5.06×10-6cm2/kW;荧光光谱测试表明,硫化镉纳米膜具有光致发光性能. 相似文献
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采用Cu,In,Se三元扇形复合靶,在玻璃基片上用射频磁控反应溅射技术制备CuInSe2(CIS)纳米颗粒膜.CIS颗粒的大小可通过改变溅射功率、基片温度和膜厚来调节.测量并讨论了所制备的CIS纳米颗粒膜的内部晶相结构、电阻率、导电类型以及光吸收等性质. 相似文献
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纳米锗颗粒镶嵌复合薄膜的显微结构研究 总被引:2,自引:0,他引:2
用离子束浅射技术成功地制备了Ge-SiO2纳米颗粒镶嵌复合薄膜。采用透射电子显微镜研究了不同热处理条件下获得的薄膜样品的显微组织结构,并用X射线光电子能谱技术分析了薄膜样品的成分。研究结果表明,镶嵌纳米锗颗粒为fcc结构、其点阵参数随着锗颗粒度的不同而有一个变化范围。 相似文献
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Au掺杂TiO2/SiO2薄膜的光学非线性特性研究 总被引:2,自引:0,他引:2
采用溶胶-凝胶方法制备了Au掺杂的TiO2/SiO2复合薄膜(厚度约为1.0μm)。X-ray衍射分析表明,Au的颗粒镶嵌在TiO2/SiO2复合薄膜的玻璃网络中。谢乐公式计算给出Au的颗粒大小约为10nm。采用Z-Scan测量技术得此薄膜的光学非线性折射率为1.09×10-7esu。 相似文献