集成电路在线测试技术

介绍集成电路在线测试的原理与方法,着重介绍使用通用集成电路测试夹(CLIP)进行集成电路在线测试的几种不同仪表的工作原理与特点.文中对静态法集成电路在线测试仪表的硬件结构,软件组成作了重点阐述.     

CMOS集成电路测试与巧妙应用

电子技术的迅猛发展,使科学技术得到了突飞猛进。尤其是CMOS集成电路由于功耗低、抗干扰能力强等突出优点而得到广泛应用。根据CMOS集成电路的性能特点,介绍了如何在实践中(维修)用万用表测试CMOS集成电路的好坏,并介绍了巧妙应用一只CMOS与非门组成一个三相电动机断相保护器的原理。     

专用集成电路入检测试系统

专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途。被测对象的主要技术指标．测试系统的组成、功能殛主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法。开发研制了集成电路入检设备．该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。     

基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化，该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比，采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性，此方法对组合电路和时序电路以及对大规模集成电路的内测试和外测试皆试用。     

混合信号集成电路测试中的约束条件分析

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求.本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励.     

IIL双极型逻辑集成电路测试装置

双极微处理机成套片子的出现,标志着微处理机的应用达到了一个新的水平。只要将IIL双极型微程序控制单元(MCU)及中央处理单元与标准存贮器和配套电路组合起来,便可得到一部完整的微处理机。多数情况下,选用IIL双极微处理机片子,是基于运算速度或编制微程序的灵活性。由上述特点出发,这套片子能以最少的辅助逻辑构成高性能的处理机或控制器。因具有多路独立地址总线、数据总线以及分立的输出许可线等特点,故可成倍地减少总线传输时间和省去有关硬件。 IIL双极型逻辑集成电路,即集成注入逻辑电路(IIL),又称并合晶体管逻辑电路(MTL),它具有速度较高、阀值电压低、     

模拟集成电路频率特性测试(英文)

本文提出了一种基于边界扫描测试技术的模拟电路频率特性测试方法。测试选用矩形脉冲作为激励,通过加入模拟开关,简化了模拟电路的测试过程。以模拟集成芯片uA741为被测核心电路进行实验,结果证明该设计是可行性的,而且与传统测试方法相比,该方法具有更高的可靠性和可测性。     

微电脑控制水泵性能测试装置评议会在连云港召开

<正> 连云港市机械工业公司受江苏省机械工业厅委托,于1985年2月12日至13日在江苏省连云港市水泵厂召开“BSJK 40—200水泵性能测试装置评议会”,对该厂与浙江省机械科学研究所联合研制的BSJK 40—200水泵性能自动测试成套装置进行了评议。参加评议会的有江苏省农业机械科学研究所、江苏工学院、博山水泵厂等14个单位34名代表。代表们认为:测试装置的设计是符合ISO3555—1977“离心泵、混流泵和轴流泵验收试验规范—     

微电脑控制水泵性能测试装置评议会在连云港召开

连云港市机械工业公司受江苏省机械工业厅委托,于1985年2月12日至13日在江劳省连云港市水泵厂召开“BSJK 40-200水泵性能测试装置评议会”,对该厂与浙江省机械科学研究所联合研制的BSJK 40-200水泵性能自动测试成套装置进行了评议。参加评议会的有江苏省农业机械科学研     

微电脑钢卷尺

日本京都量具公司在松下电子器件公司等协助下,最近研制成功了一种带微电脑的钢卷尺(如图所示),已率先在世界上销售。这种钢卷尺能把尺带移动量每隔0.25毫米用编码器检测一次,读数精度高,在5米长度范围内,以1毫米为最小单位在液晶屏幕上显示。它还带有记忆装置,即使在     

集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计

集成电路规模的不断增加,使测试的开销在产品总成本中所占的比重越来越大,测试的过程更为复杂,因此对电路芯片需要采用边界扫描测试进行可测性设计。对边界扫描控制器中的测试方式选择TMS模块的功能进行了详细说明,给出了该模块的电路设计方法与步骤。通过与测试软件的结合,能检测芯片间互连线的开路故障、短路故障、固定型故障,以及芯片的内部逻辑功能是否正常。     

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置

研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。     

基于遗传算法的数字集成电路多故障测试生成方法

在数字集成电路多故障测试生成算法的研究中,寻求具有高故障覆盖率,较短测试生成时间是问题的关键。文中采用遗传算法,通过对已有算法的分析,提出了计算简单、切实有效的适应度函数,减小了算法的时间复杂度,实验结果证明该算法可以有效地得到故障的测试矢量。     

BC3130系列IC卡测试系统

目前,AC卡的应用在我国发展迅速,在金融、电信、交通、医疗卫生等领域正被越来越广泛地应用。像其它电子产品一样,随着AC卡的生产及应用的进一步深入发展,AC卡的质量将成为进一步推广应用的关键因素,特别是在一些对质量较为敏感的应用领域,如金融、医疗卫生,身份识别等领域,AC卡的质量能否有保证往往决定了其是否能在这些领域推广使用。北     

微电脑应用实例

二十一、微机控制的电解电容器自动分选装置电解电容器自动分选装置在苏州电讯仪器厂研制成功。该装置采用TP801单板机控制,通过连续转动的夹具集合对在夹电容的