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本通过比较在X射线荧光能谱分析中标准样品的两种分类方法,分别作为参考曲线的分析结果,提出在测量各种不同的陶瓷原材料时应采用细致分类的标准样品,即与该陶瓷样品的化学成份等相一致的标准样品来作参考曲线。其误差能大大减小,从而得出令人满意的测量结果。 相似文献
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几种典型粘土矿物的X射线定性分析 总被引:2,自引:0,他引:2
针对在X射线的衍射测试中,有时会出现不同粘土矿物的重迭峰现象,不易正确定性判断矿物类型的问题,本文采用不同的样品处理方法,使高岭石、蒙脱石、绿泥石显示出各自特有的衍射特征,并以此将它们正确区分开。 相似文献
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本介绍了应用能量色散X射线荧光分析仪(The Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry System简称:EDXRF)测定陶瓷产品及其原料中硅酸盐各主量元素(如硅、铝)和次量元素(如钾、钠、钙、镁、铁等)含量的方法,并采用“粉末压片”的快捷方法来制备样品,对硅酸盐原料中的化学成分进行快速的定性分析和定量测定,取得了较满意的结果。 相似文献
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TZP陶瓷中立方相氧化锆的X射线定量相分析 总被引:2,自引:0,他引:2
采用X射线衍射方法研究了四方相氧化锆多晶 (TZP)陶瓷中的物相 ,提出了应用氧化锆双谱线峰强度比I( 2 0 0 ) /I( 0 0 2 ) 计算TZP陶瓷中少量立方相氧化锆 (c-ZrO2 )含量的X射线定量相分析方法 .此外 ,推导建立了TZP材料中c -ZrO2 和t -ZrO2 的X射线定量相分析的计算公式xc=Ic ,t ( 2 0 0 ) -KtIt( 0 0 2 )Ic ,t ( 2 0 0 ) +( f +fKt-Kt)It ( 0 0 2 )× 10 0 %xt=( 1+Kt) fIt( 0 0 2 )Ic ,t( 2 0 0 ) +( f+fKt-Kt)It( 0 0 2 相似文献
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本文论述了小径管透照工艺参数和透照布置的技术要求,制作出13种常用规格的小径管的曝光条件及平移距离,省去了操作人员许多计算上的麻烦,方便实用,并对返修焊口缺陷定位问题进行了说明。对于实际小径管探伤有一定的借鉴意义。 相似文献
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引言 自从X射线被发现以后,X射线分析法在很多领域获得了应用。而今,在水泥工业生产和研究实验中,也已获得进一步的发展。利用x射线衍射(XRD)可以进行物质结构和物相分析,利用x射线荧光(XRF)可以进行元素分析。在水泥工业中,用于工艺和质量控制的X射线最新分析系统表现出的主要优点是:样品制备工作量极小、测量时间短、分析灵活方便、可重复再现性高,并能充分与现代化的工艺技术相结合。 在过去几十年中,X射线分析法经过几大发展阶段后,性能更加优良,应用更加广泛。在这之中,除了分析效率大大提高以外, 相似文献
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实验室Lab-X3500荧光定硫分析仪采用X射线荧光法测定石油产品中的硫,通过探测仪和微型计算机将特征X射线的光子能量转化为脉冲形式的电信号测出硫含量。本文简要论述了此定硫分析仪的测定原理、分析流程和主要特点,同时与燃灯法(GB/T380)及管式炉法(GB/T387)进行比较,可知两种国标方法有较好的一致性,且X射线荧光法操作简单、分析速度快、结果符合要求偏差。 相似文献
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叶蜡石加热相变特征的X射线粉晶衍射分析 总被引:9,自引:0,他引:9
对叶蜡石经不同温度加热处理产物的物相特征进行了较系统的X射线粉晶衍射分析,发现叶蜡石的加热相变过程具有明显的阶段性。根据主要物相及其变化和组合特征,从室温到熔点(1710℃左右)一般可划分为7个演化阶段,即叶蜡石阶段(室温-500℃),叶蜡石Ⅰ脱水阶段(500-800℃),叶蜡石Ⅱ脱水阶段(800-960℃),偏叶蜡石阶段(960-1150℃),不定形SiO2与莫来石初晶形成阶段(1150-130 相似文献
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目前通用的各种X射线荧光分析方法是以比较式样和标样(一个或几个)的分析线的测量强度为基础,把测量标样所获得的数据拟合成一条光滑曲线,一般最好与最小二乘法曲线相吻合。如果基体效应严重,则可用简单的校准法(也就是分析线强度随浓度的变化)进行准确分析。如果基体效应严重,但分析成分的浓度范围很小,且标样与试样很相似,也采用上述方法。而这类自动化分析过程所采用的分析软件,大多有以下3个步骤。 相似文献