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导电油墨厚度对RFID标签天线辐射效率的影响 总被引:5,自引:5,他引:0
为提高RFID电子标签天线的辐射效率,从理论上分析了影响标签天线辐射效率的一系列因素,以偶极子和叠缝隙2种天线为研究对象,研究了导电油墨厚度对RFID标签天线的辐射效率的影响。结果表明:决定天线的辐射效率的是印刷标签天线所用的总油墨量,而不是整个天线结构中不同区域内油墨的分布情况。为实际RFID电子标签生产中导电油墨的控制和改进,提供一些指导。 相似文献
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为评价无源RFID标签天线的印刷质量,对无源RFID标签天线的质量性能进行了理论分析。针对成品后的天线性能与仿真后的天线性能间存在的差异,在丝网印刷的条件下,以RFID标签天线间的间隙偏差、天线厚度偏差和最大阅读距离偏差为自变量,建立了评价无源RFID标签天线印刷质量的数学线性回归模型,为RFID标签天线在生产过程中的优化提供了一定指导。 相似文献
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周鹏飞 《中国新技术新产品》2011,(16):9-9
本文从介绍RFID系统的基本原理开始,分析了RFID标签天线对于整个RFID系统的重要性。结合13.56MHz的标签天线的使用现状,着重分析了磁场耦合式天线的影响参数、结构和原理。最后探讨并分析了近期标签天线的设计热点。 相似文献
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EAS软标签的制造工艺分析 总被引:1,自引:1,他引:0
分析了电子防盗系统(EAS)软标签传统制作工艺的特点,提出用印刷技术和新型油墨制造EAS的思路和关键的技术点,以及目前面临的技术难题. 相似文献
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目的研究不同丝网印刷工艺对RFID标签性能的影响,得到最优丝网印刷工艺条件组合。方法研究印刷速度、刮印压力、刮印角度、固化条件等参数变化对天线性能参数的影响。结果当刮刀速度为50~70 m/min时,天线的阻抗稳定,印刷成品质量好,天线的可识别距离最大;刮印压力的最优值为100 N/m左右,刮刀角度应大于40°,固化温度大于110℃,固化时间应在20~40 min之间。结论标签阻抗随刮刀速度呈现U形变化,而最大识别距离呈现相反趋势;标签阻抗随刮刀压力和刮刀角度均成U形变化趋势;天线阻抗随着固化时间和固化温度的升高而降低,最大识别距离呈现相反趋势。 相似文献
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金属等环境介质对射频信号的干扰影响着无源UHF RFID系统性能在应用中的充分发挥.利用三维结构的微带天线模型将贴片天线在电气上与金属表面分离以构成与底面无关的RFID标签,但因此而加大了RFID标签结构的复杂性,造成RFID标签生产成本的增加.通过改变微带天线的馈电形式,将传统非平衡单馈电结构的微带天线改进成平衡双馈电结构,三维的微带天线也简化成平板结构,减小了RFID标签体积.该天线模型不但可以降低RFID标签制造工艺难度,也为RFID标签在不同应用环境中提供了兼容性. 相似文献
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基于喷墨印刷的RFID标签天线性价比优化方法研究 总被引:3,自引:3,他引:0
以小型偶极子天线为研究对象,采用无选择和选择性2种不同的喷墨印刷方式印制,对比了2种印刷方式下天线的识别距离和油墨耗用量。实验证明,在表面电流密度较高处进行选择性印刷,以增加墨层厚度的方法,有利于降低喷墨印制无源超高频RFID标签天线的成本,性价比明显提高。 相似文献
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无源RFID标签天线的丝网印刷墨层厚度分析 总被引:5,自引:3,他引:2
结合丝网印刷墨层厚度的各主要影响因素.分析了理论墨层厚度和实际墨层厚度与网版目数的关系,建立了网版静态及受压变形两种状态下的墨层厚度计算模型,拟合了网版目数和实际墨层厚度之间的关系曲线,并选择合适的丝网印刷工艺参数,印刷制作了两款无源RFID标签天线,通过天线电阻值的波动情况分析,论证了用丝网印刷工艺制作无源RFID标签天线的品质可靠性. 相似文献
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RFID技术是一项革命性的技术,它通过射频信号自动识别对象和获取数据,无需人工干预,可在恶劣环境中工作,能同时对多个标签进行批量处理,可大量存储数据,应用领域广泛。标签天线是RFID标签的重要组成部分,本文阐述了制作标签天线的传统工艺、印刷工艺及模切工艺的技术现状。 相似文献
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射频识别(RFID)系统中的多个标签同时应答时会引起数据碰撞现象,使阅读器正确读取信息所使用的算法称为防碰撞算法,深入分析目前RFID系统常用的防碰撞算法的特点,提出基于标签的唯一标志符的防碰撞算法,仿真结果表明该算法有明显的优越性,得到高吞吐率、低错误率。 相似文献
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针对测量平衡RFID标签天线阻抗的准确性问题,提出了一种利用s参数测量的优化方法。该方法将平衡RFID标签天线等效为双端口网络,通过联合使用端口短路、开路延伸方法测量S参数,根据拐点选取最邻近数据并进行区间的数据拟合,从而计算出天线阻抗。首先 h1 进行了测量理论分析.然后设计了实物测量场景(915MHz频段的RFID天线),并将该优化方法与传统的Bahm方法、无延伸单端口方法、延伸单端口方法进行了对比。结果表明,在工作频段内,该优化方法所测的标签天线的阻抗实部,虚部与仿真结果基本一致,比传统的Balun2及单端口等测摄方法准确;在工作频段外,所测阻抗实部仍然与仿真结果接近,尽管阻抗虚部与仿真结果存在一定的偏差。 相似文献