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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
张晗  李常贤 《微波学报》2023,39(6):12-17
针对带孔屏蔽腔体工作时受复杂电磁干扰问题,基于电磁拓扑理论和BLT 方程,考虑开孔倾斜、偏心、任意平面波照射、任意观测点位置等情况,提出用于计算斜开孔腔体屏蔽效能的解析模型。同时将腔体材料考虑为有损导体,对BLT 方程中散射矩阵和传播矩阵进行修改;并利用电压和电场分布关系,考虑腔体内多种传播模式,将模型的可计算频段拓展为0~3 GHz。最后,设计五组试验,对比CST 仿真值、Robinson 拓展算法计算值与文中所提模型计算值,验证所提模型的准确性与优化性。为实际工程中孔缝腔体屏蔽问题的预测与计算提供方法。  相似文献   

2.
平面波斜入射到有孔腔体的屏蔽效能分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
石丹 《电波科学学报》2011,26(4):678-682
使用解析方法研究了缝隙偏离中心的有孔屏蔽腔屏蔽效能。将有孔腔体的屏蔽和传输特性用等效传输线的高次模进行分析,推导了平面波以任意角度和极化方向入射时,有孔腔体屏蔽效能的解析计算表达式。分析了入射角度、极化方向、孔缝尺寸、测试点位置、腔体壁损耗、工作频率等参量与腔体屏蔽效能的关系。经与腔体谐振频率比对,表明该解析方法得到的结果可信,而且解析公式计算速度快,利于参量分析,能为屏蔽腔体设计提供依据。  相似文献   

3.
为研究双面含孔矩形金属腔体的屏蔽效能问题,运用矢量分解和等效传输线相结合的原理,给出了双面含单孔的矩形金属腔体内部中心点屏蔽效能计算方法,通过与电磁数值软件CST 的计算结果对比,验证了该计算方法的有效性,且耗时少、收敛快,运用该方法进一步研究了双面含孔阵矩形金属腔体屏蔽效能,得到了腔体内部多模谐振规律。在共振频率附近,腔体内中心点的耦合电场较强,当频率低于主频谐振时,屏蔽效能随着频率的降低而增大;在2GHz 频率范围内,腔体内部各个方向的屏蔽效能都存在多模谐振的现象,且谐振模式不相同;开有相同面积的孔阵屏蔽效能比单孔差,谐振模式变化不大。  相似文献   

4.
夏昌明  刘峰  周力 《电子质量》2003,(11):25-26
本文针对金属腔体屏效能预测的问题,使用Zeland公司的FIDELITY软件进行FDTD仿真。腔体内含一偶极子天线源,通过计算比较了源的位置不同时,不同频段范围内近场的屏蔽效能。  相似文献   

5.
带孔缝矩形金属腔体屏蔽效能研究   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
针对带孔缝矩形金属腔体在电磁辐射下的屏蔽效能问题,利用基于时域有限积分法的电磁仿真软件CST,建立了平面波辐照条件下含孔缝金属腔体的耦合模型,重点研究了电场极化方向,腔体材料,矩形孔缝的长度、宽度和深度,孔缝填充介质介电常数及其厚度等参数对屏蔽效能的影响规律.研究结果表明:典型金属材料对屏蔽效能的影响差别不大,垂直于电场极化方向的孔缝边长更能影响腔体的屏蔽效能,孔缝尺寸会影响矩形金属腔体的谐振点,孔缝深度能够通过衰减入射波在一定程度上影响屏蔽效能,孔缝填充介质会降低屏蔽效能,介质厚度及其介电常数会影响屏蔽效能峰值点.研究结果对金属腔体的电磁兼容设计有一定的指导意义.  相似文献   

6.
文中针对现有内置介质板腔体屏蔽效能拓扑模型中介质板等效导纳模型的局限性,考虑介质板高度、厚度与位置对介质板等效导纳模型的影响,建立内置介质板腔体屏蔽效能(BLT)方程拓扑模型。将传输线法、BLT方程拓扑模型与仿真结果进行对比,验证BLT方程拓扑模型的准确性和有效性。以300 mm×300 mm×120 mm开孔腔体为研究对象,分别探究其在3种不同谐振主模式下,介质板高度、厚度和位置对腔体屏蔽效能的影响。结果表明,改变介质板高度,腔体的谐振主模式不变,仅影响腔体屏蔽效能大小;腔体内部安装介质板可增强腔体屏蔽能力,但是介质板厚度过大,在一定范围内会削弱腔体屏蔽能力;距腔体孔阵0 mm~58 mm处安装介质板会削弱腔体屏蔽能力,距腔体孔阵100 mm~150 mm处安装介质板会增强腔体屏蔽能力。该结论可为机箱电磁屏蔽设计提供有效参考。  相似文献   

7.
基于现代生活中抗电磁干扰的重要性,给出了完善的求解双层带孔缝矩形腔体在平面电磁波照射下的屏蔽效能的建模过程.在建模中考虑了电磁波的入射角和极化角,并把电磁波作用在腔体外层孔缝上所产生的散射电压作为辐射源.把孔缝建模成不对称的共面带状线,把矩形腔体建模为一端完全开放、另一端完全封闭的矩形波导,并应用传输线理论推导出腔体内任意点的屏蔽效能.相对于以往模型而言,在建模的完整性、计算速度,以及屏蔽效能的提高上均有所改善,为工程实践提供了很好的理论参考.  相似文献   

8.
孔阵后,腔体的屏蔽效能也有明显提高.对内孔缝位置和腔体尺寸的分析表明:内孔缝位置对屏蔽系数的影响不明显,但随着腔体尺寸的递增,屏蔽系数的统计均值有递增趋势.  相似文献   

9.
孔缝对电磁屏蔽效能的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用时域有限差分法(FDTD)研究了电磁兼容系统中的孔缝耦合问题,介绍了FDTD方法的原理,并通过计算机建模分析了孔缝的形状、大小对电力设备电磁屏蔽效能的影响,最后利用屏蔽效能的统计定义,讨论了屏蔽效能的特点和规律。  相似文献   

10.
随着无线通信技术的快速发展,电子产品所处的电磁环境日趋复杂,电子系统和电子设备的EMC要求已经成为设计研制时必须予以充分考虑的重要指标.在电磁屏蔽设计中,金属箱体作为一种行之有效的屏蔽措施被广泛应用,屏蔽设计的合理性直接关系到产品的EMC性能.在简要阐述了金属板电磁屏蔽的机理及电磁屏蔽效能计算方法的同时,结合工程中常见...  相似文献   

11.
为了评估矩形金属机壳抗外部电磁干扰的能力,基于传输线矩阵法(TLM)分析加装印刷电路板的有孔阵矩形机壳的屏蔽效能。主要讨论孔间距和孔面积之与不变时增加孔的数量所引起屏效(SE)的变化;孔阵面积和孔径不变时,通过改变孔间距考虑孔的数量变化对屏效的影响;改变孔的数量及介电常数时屏效的变化以及在圆孔阵、圆内接方形孔阵、圆外切方形孔阵3种情况下屏蔽效能的对比;通过仿真结果,验证出最佳方案。  相似文献   

12.
电磁屏蔽室屏蔽等级和测量方法研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
电磁屏蔽室的屏蔽效能检测是衡量和判定屏蔽室等级的主要手段,因此正确选定其依据的屏蔽等级和测量方法的标准非常重要。文中对现行电磁屏蔽室屏蔽效能等级和测量方法的相关标准进行了梳理和对比,为在实际测量和确定屏蔽室等级时正确选定恰当的标准提出了可供参考的意见。另外结合工程实际,对屏蔽室单点与多点接地、绝缘、屏蔽门的设置等问题进行了讨论。  相似文献   

13.
为提高导弹强电磁脉冲防护能力,采用有限积分法对弹体内置矩形腔体的屏蔽效能进行了数值模拟.重点分析了双层嵌套腔体屏蔽效能与单层腔体屏蔽效能之间的关系,以及末制导雷达天线转动对壳体屏蔽效能的影响.结果表明:双层嵌套在L频段可提高屏蔽效能30 dB左右,但在S频段嵌套腔体与内层腔体的屏蔽效能相当;当外层腔体与内层腔体上孔缝共振频率相近时,嵌套腔体屏蔽效能会急剧恶化;天线转动对屏蔽效能的影响与入射波频段相关.该研究对提高导弹电磁防护能力具有指导意义.  相似文献   

14.
根据Robinson 等效传输线理论,估算了有孔屏蔽箱体在任意入射方向平面波照射下的屏蔽效能。该 方法将任意入射方向平面波的传播矢量和电场矢量分解,使得复杂模型等效为两个不同极化方向平面波垂直入射 箱体开孔平面的简单模型,从而推导了计算屏蔽效能的一般表达式。数值仿真结果与CST 软件仿真吻合较好,验证 了方法的有效性。分析了平面波入射仰角和方位角对有孔箱体屏蔽效能的影响,数值结果表明:在0°~90°范围内, 箱体屏蔽效能随着平面波入射仰角的减小而增大,随着平面波入射方位角的减小而减小。  相似文献   

15.
从屏蔽效能的原理出发,通过分析影响屏蔽效能的关键因素,提出箱式屏蔽效能测试方法,并对影响测试结果的因素进行优化。测试方法简便可行、数据可靠有效,为屏蔽材料的选型提供技术依据,为工程技术人员进行产品设计提供参考。  相似文献   

16.
欠模状态下屏蔽壳体内部场分布不均匀,屏蔽效能测量结果与位置相关,因此需要利用探头或单极子天线进行多位置测量,过程繁琐。文中利用长线天线来测量欠模状态下屏蔽壳体屏蔽效能,并与单极子天线测量结果进行比较。在暗室中测量天线自由空间反射系数S11;在混响室中利用不同天线测量屏蔽壳体的屏蔽效能,并利用S22分析腔体谐振特性。测量结果表明,长线天线宽频带匹配特性优于单极子天线,测量的屏蔽效能能够更好地反映屏蔽体谐振特性,为屏蔽壳体的屏蔽效能测试评估提供了指南,具有工程应用价值。  相似文献   

17.
胡卫东  李萍  彭煜 《电子科技》2013,26(9):92-94,97
由于非实心屏蔽体经常替代金属板进行电磁辐射的屏蔽和防护,文中基于电磁兼容理论和电磁分析的数值算法,从理论和仿真两方面对金属网格结构的远场屏蔽效果进行了分析。针对孔径宽度l、金属丝直径d和四边形的顶角θ的3个变量对屏蔽效能的影响问题进行研究,首先运用电磁仿真软件Hobbies进行建模和仿真计算,而后通过经验公式计算出不同网格尺寸对应的SE值,将仿真与估算的结果进行比对,得出结论。  相似文献   

18.
电磁屏蔽是保证建筑物内部电子信息系统正常运行而不受雷电干扰的重要措施,这种作用大小用屏蔽效能来度量。通过对常见电磁屏蔽效能的几种测量方法的原理、适用范围、优缺点的对比分析,结果显示:在屏蔽室尺寸为1.5~15.0m之间的长方形,测试频率范围与雷电流频率基本一致时,大环法的屏蔽效能测试值能较好地反映电磁屏蔽的效果;采用大环法对非理想形状屏蔽体屏蔽效能的检测,一定程度上解决了非理想形状电磁屏蔽效能检测的方法问题,具有一定的应用和推广价值。  相似文献   

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