集成电路测试的质量

文章从技术的角度出发,讨论了保证集成电路(IC)测试质量的一些问题,内容涉及IC测试的硬件基础,关于IC测试软件的若干要素和必要的规章制度等三个方面。     

ETS系列新一代集成电路测试系统

测试IC/PCB/MCM……测试数字电路,混合信号电路…… 25兆赫—100兆赫测试速率 100ps、50ps分辨率 32 I/O管脚——512 I/O管脚 64Mbyte/s超高速接口     

VXI数模混合集成电路测试系统

1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路     

集成电路测试程序库的实用化

“七五”期间，通过国家重点科技攻关项目———集成电路测试程序库的完成，在集成电路测试技术中心建立了我国第一个大型的集成电路测试程序库。在“八五”的科技攻关中，测试程序库得到进一步的扩充、完善与发展，达到技术上可解决高难度测试分析和鉴定性、仲裁性、商检...     

基于Internet的集成电路测试管理系统

本文利用普及的Internet,通过集成电路测试管理系统实现了属于一个公司的两个或以上办公场地之间数据共享、编辑与查询功能.集成电路测试管理系统是针对该行业的需求而量身定做的MES(生产管理系统).该系统通过流程控制机制将各部门间的工作规范化,从而严格地按照一定的顺序进行下去而不会产生跨级.     

大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可     

集成电路测试的JTAG标准

1.引言 随着集成工艺的飞速发展,芯片集成度越来越高。与此同时芯片表面安装技术和多层板技术的发展也相当迅     

小尺寸集成电路CDM测试

本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想.     

IC测试解决方案入门

IC在交付给客户前必须经过测试,以检验IC在制造过程中是否产生了缺陷。制造缺陷有很多种,人们可以用一种故障模型来描述其逻辑性能。由输入激励和可预期输出组成的测试向量,可用来确定芯片是否有毛病。随着芯片越来越复杂,测试生成和应用变得越来越费时,而且费用也越来越昂贵。在很多情况下,如果不把可测性作为设计目标,并在设计项目初期就把它考虑进去,那么,故障覆盖率就不会满足质量需求。可测性是用可控性和可观察性来衡量的。可控性是内部逻辑可由芯片输入控制的程度;可观察性则是内部逻辑可在芯片输出     

数字集成电路测试中测试矢量的生成

引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。     

电子测试仪器发展新动向

移动通信、数据传输、光纤通信、网络检测的高速增长促进了电子测试仪器技术的不断改进和发展。专家们指出,在２０００年以后的新世纪里,数字化、模块代、网络化和系统化已成为电子测试仪器发展的新趋势,采用各种各样先进技术的第３代电子测试仪器将不断问世。 通常,电子测试仪器可以分为独立式仪器、模块化仪器和ＰＣ插卡式仪器３个大类。 在实际应用领域中,台式、便携式和手持式独立仪器又分为基础仪器和专业仪器两种。基础仪器通常包括示波器、逻辑分析仪和数字万用表等电子测试仪器;专业仪器则是以网络分析仪、ＲＦ信道仿真器、…     

大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现

为了满足大功率集成电路的测试需求,文中给出了具有大功率负载驱动能力的电压电流源和高精度集成电路测试系统的设计方法。该测试系统采用四象限驱动和钳位技术、电流扩展技术、恒流源和恒压源设计技术,故能提供精确且宽范围的激励值,同时具有对大功率负载进行驱动的能力,并可以灵活地对被测器件施加电压或电流激励,以对被测器件进行测量。     

射频集成电路测试技术研究

射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件，由于其高频特点，准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例，运用微波理论，分析了RFIC典型参数，如S参数、带宽、PldB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法，并对影响RFIC性能测试的主要因素进行了分析。最后，给出了一种LNA电路的测试结果。