基于极零点灵敏度的模拟电路可测性分析

介绍了基于模拟电路极零点灵敏度的分析方法,给出了极零点灵敏度的计算公式。介绍了模拟电路可测性度量的概念,以及基于极零点灵敏度的模拟电路可测性分析方法,给出了求可测性度量的方法。该方法可以用于确定模拟电路的测试点和测试方法。作为例子,对一个3阶电路进行了简要分析。     

模拟电路故障诊断问题的拓扑可观性研究

本文对模拟电路的可测性作了分析与探讨,提出了一种新的可测性分析方法——拓扑节点可观度分析法,从而使可测性分析与设计有了定量化依据。文中引入了拓扑可观的概念;给出了定量分析步骤及可观度计算公式。文中还讨论了以节点可观度为依据的测试点自动选取方法,给出了分析算法及应用实例。     

数字IC可测性设计和自动测试生成技术

描述了一种自动局部扫描可测性设计方法，该方法在电路内部提供附加逻辑，把时序元件串成一条扫描通路，辅以适当的控制信号，使时序元件和组合元件分离开，从而达到可测试的目的，介绍了一种改进的ＰＯＤＥＭ测试生成算法和一种基于模拟的测试生成方法，该方法能较好处理时序电路的测试生成问题。     

基于LFSR优化的BIST低功耗设计

在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的测试矢量,从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上,针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型,介绍了几种基于LFSR(线性反馈移位寄存器)优化的低功耗BIST测试方法,设计和改进可测性设计电路,研究合理的测试策略和测试矢量生成技术,实现测试低功耗要求。     

基于LFSR优化的BIST低功耗设计

在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的测试矢量,从而消耗了大量功耗.在分析BIST结构和功耗模型的基础上,针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型,介绍了几种基于LFSR(线性反馈移位寄存器)优化的低功耗BIST测试方法,设计和改进可测性设计电路,研究合理的测试策略和测试矢量生成技术,实现测试低功耗要求.     

基于BP神经网络的模拟电路故障诊断

模拟电路的可靠性决定了电子设备的可靠性.针对目前BP网络在模拟电路故障诊断中存在的容差和非线性等问题,提出多频组合法,对电路中的软故障进行诊断.通过在电路输入端施加3 V的正弦激励,选取不同的测试频率,对测试点进行测试,得到各待测元件的故障值.该系统解决了模拟电路中的容差问题,提高了诊断率,并在仿真中得以证明.     

模拟集成电路的测试节点选择

如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.     

一种矢量信号检测电路设计

根据同频相关原理设计了一种矢量信号检测电路,该电路用模拟电路和数字电路实现了被测正弦信号与同频正弦、余弦函数间的互相关,能够检测出和基准信号同频的信号振幅和相位,并给出了实验测试结果。     

基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究

针对模拟电路多故障诊断中经常可能遇到的可测点不足和测试量受限的问题,提出了基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法.推导了基于4个测试点电压增量的双故障诊断方程,给出了诊断流程和仿真实例.理论分析和实验结果表明,该方法可用于线性模拟电路的多故障诊断,对硬故障和软故障均有效,在可测点不足和测试量受限的条件下具有优越性,适合大规模线性模拟电路的多故障诊断和测试.     

一种基于总线复用的SoC功能测试结构设计

由于SoC结构的复杂性,必须考虑采用多种可测性设计策略.从功能测试的角度出发,提出了一种基于复用片内系统总线的可测性设计策略,使得片内的各块电路都可被并行测试.阐述了其硬件实现及应用测试函数编写功能测试矢量的具体流程.该结构硬件开销小,测试控制过程简单,可减小测试矢量规模,已应用到一种基于X8051核的智能测控SoC,该SoC采用0.35μm工艺进行了实现,面积为4.1 mm×4.1 mm,测试电路的面积仅占总面积的2%.