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本文描述依据EIAJED-4701/100和IEC 60749-25标准,设计了加速条件为-25℃/125℃的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1组COB(chip on board)集成封装LED器件的加速老化,分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老化实验结果表明,不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同,蓝光LED器件的主波长变化不明显,白光LED器件色温略有变化;器件的结温、热阻随老化时间呈升高趋势;各组LED器件的失效情况相差很大;COB器件的光通量维持率与失效情况都优于普通功率型LED。本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对评价LED的可靠性有重要的参考意义。 相似文献
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大功率LED热阻测试系统的开发 总被引:1,自引:0,他引:1
LED照明已成为21世纪最引人注目的新技术领域之一,其中的大功率LED更是能适应普通照明领域的需要。然而结温和热阻制约着大功率LED的发展。大功率LED热阻测试技术的开发有利于LED在散热技术上的完善,有助于大功率LED实现迅速发展和更为广泛地应用。本文叙述了利用动态电学测试方法测量大功率LED热阻和结温的原理、测量方法,并基于此开发了热阻测试系统SHU-THERM-1。通过对比实验,证明本热阻测试系统能实现对单个大功率LED稳态热阻的自动且准确测量,精度较高,稳定性好。 相似文献
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LED日光灯结构设计研讨 总被引:1,自引:0,他引:1
通过分析LED日光灯的结构设计对LED日光灯性能的利弊影响,对LED封装类型及位置布置的优化组合方式进行了研究,提出了光照分布更加合理的LED日光灯结构设计方案,并探索突破LED日光灯技术瓶颈的思路。 相似文献
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基于热管散热的LED器件封装热分析 总被引:4,自引:0,他引:4
大功率发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)结点温度的高低汽接影响到LED的寿命和可靠性,故保持LED结温在允许的范围内,是大功率LED封装和应用必须解决的核心问题.提出将扁平热管应用在大功率LED的散热上;比较了扁平热管和铜板两种散热方式下 LED的结点温度和热阻的热特性.研究结果表明,在输入功率为3 W时,热管冷却LED的结点温度为52℃,而铜板冷却LED的结点温度为83℃,对应的系统总热阻分别为8.8 K/W和19K/W.由此证明,在大功率条件下,热管的散热能力明显优于传统的铜板散热. 相似文献