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基于常压氦质谱累积检漏,提出了航天器推进系统漏率测试不确定度评定方法,建立了一元一次线性数学模型,运用最小二乘法理论对比分析了氦气累积过程和漏率标定过程的A类和B类不确定度计算结果,试验验证检漏不确定度评定的影响因素,认为氦气累积过程B类不确定度对航天器推进系统漏率测试结果的不确定度评定影响较大,而B类不确定度主要来源于检测仪器的固有测试误差,同时总结了检漏仪测试数据变化量与漏率测试不确定度的关系,为提高航天器推进系统漏率计算结果精准性指明了方向。 相似文献
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漏率标定技术是航天器密封性能检测的重要组成部分,直接决定计算漏率的大小。为减小漏率标定测试数据误差,提高检测精度,本文基于常压氦质谱累积检漏法,通过理论分析与实验,研究了注入氦气量、收集室体积、航天器漏率等参数对漏率标定数据的影响。结果表明,测试数据与注入的氦气量呈线性关系,并随着收集室体积的增加而减小;收集室累积空间体积在30~100 m3之间时,漏率标定测试数据变化率在10-9量级且相对稳定,有助于完善漏率标定数学模型;通过标准漏孔模拟航天器的漏率,当漏率小于1×10-4Pa·m3/s时,标定测试数据(1 h内)相对偏差小于30%,同时可采取缩短漏率标定时间、风机循环使氦气分布均匀等方式提高航天器的漏率检测精度。 相似文献
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利用经典的分子流、黏滞流、过渡流流导公式及圆管分子流流导几率的精确数值解,对21世纪数篇文献呈现的漏孔流导随上游压力变化关系曲线进行了分析,并将密封器件的漏孔简化为长圆管,得出了以下结论:从流量角度观察气流是否偏离分子流状态是非常不灵敏的,因此可以认为,如果上游压力不超过1×105Pa,对于等效标准漏率L< 1.4 Pa·cm3/s的漏孔,气流大致处于分子流状态;当任务允许的L最大值Lmax<14 Pa·cm3/s时,不论L的值是大是小,均不必考虑气流是否偏离分子流状态;仅在压氦法的压氦阶段,当Lmax和L均接近1.4 Pa· cm3/s时,从流量角度气流会处于黏滞流状态,导致合格判据偏保守;而在压氦法的其他阶段和预充氦法各阶段,只要L< 1.4 Pa· cm3/s,气流均处于分子流状态.从而证明对于密封器件氦质谱细检漏而言,Lmax取1.4 Pa·cm3/s可以满足气流处于分子流状态的要求,且该值大于粗检的下限. 相似文献
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细长管道检测长度对检漏结果及效率影响的实验测试及分析 总被引:1,自引:0,他引:1
为提高喷吹法检测细长管路的工作效率,需确定管路检漏长度与检漏效率之间的关系.本文以理论分析结果为依据,设计了管道内径为Φ40 mm,长度分别为30,36,48,72,108,156 m的实验.通过对关键检漏参数及实验数据的分析和讨论,研究结果认为:管路越长其检漏效率越低,不仅所需要的检漏时间多,而且不利于漏孔的定位与定量.当内径为Φ40 mm时,最佳的管路检测长度为36~48m. 相似文献
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渗透率对柔性收集室检漏测试结果的影响分析 总被引:1,自引:0,他引:1
柔性收集室检漏技术是氦质谱非真空积累检漏技术的一个重要分支,因此研究柔性收集室检漏技术具有重要的工程实际意义.本文首先以柔性收集室中的氦气分压为研究变量,通过建立和求解常微分方程定量得到了氦气分压随时间变化的数学解析解.其次,通过比较渗透情形与理想情形,得到了采用柔性收集室而导致的测试相对误差与时间之间的数学关系,并结合具体两例讨论了渗透系数对检漏测试结果的影响.研究结果表明:测试结果的相对误差与被测件的泄漏率、累积时间、材料的渗透系数、有效容积均相关.本文的研究结论可以为柔性收集室的工程应用提供理论依据. 相似文献
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氦质谱检漏仪背压检漏标准剖析及非标漏率计算程序 总被引:1,自引:2,他引:1
薛大同 《真空科学与技术学报》2005,25(Z1):20-26
本文叙述了对密封器件进行氦质谱检漏仪背压检漏的步骤.在此基础上,从真空技术的基本原理出发,分析给出了测量漏率R与等效标准漏率L的关系式,指出无法得到L的解析表达式以及为避免由R求L时出现双值,L不应超过其极大值点,用数值计算和曲线拟合的方法给出了L极大值点的拟合公式;介绍了GB/T 2423.23规定的查表法和诺模图计算法,指出了其表5中的个别数据错误,给出了不同有效容积V下去除压力后到检测漏率之间的停留时间t2对R的衰减因子曲线簇,提出据此灵活确定最大t2的优点;介绍了GJB128A,GJB360A,GJB548A规定的固定法和灵活法,给出了与固定法所规定的R的拒收极限相对应的L和严酷等级,指出固定法不适合需要高气密等级的场合及不应混淆R与L的界线,给出了与灵活法所规定的L的拒收规范值相对应的严酷等级,指出对于不同V值严酷等级从几十到上千,显得很不规范;介绍了R-L关系曲线法,该方法在V、加压压力PE、加压时间t1以及t2不变的情况下,预先给出R-L关系曲线,检漏操作人员可用此曲线由R反查出L;提出由R求L完全可以由计算机采用优选法快速、可靠搜索出来. 相似文献
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为解决在片测试系统中1~1000Ω电阻无法进行整体校准问题,通过采用GaAs材料作为衬底,利用半导体工艺中薄膜溅射法,使用轰击离子Ar~+与靶材作用形成反应层,激发出的溅射原子NiCr打至GaAs表面,制作薄膜电阻。采用方块电阻为50Ω/块,通过调节长与宽的比值,研制出1~1 000Ω电阻标准件。为消除电阻测量过程中芯片内部回路引线的影响,研制出相对应的短路器。通过组建具有温度控制系统的定标装置,在-40~100℃温度下对标准件进行定标,定标结果表明电阻标准件的阻值与温度具有良好的线性关系,短期重复性RSD优于0.05%,年稳定性RSD优于0.1%,可以有效解决现有在片测试系统低值电阻参数的整体校准问题。 相似文献
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S. G. Baidakov B. Yu. Grishin V. V. Komarov A. N. Kostin A. I. Mashin 《Measurement Techniques》2011,54(2):175-179
A unit is described for automatic calibration of gas flow controllers, within which there is a reference flowmeter device
ERU-0.5, making it possible to measure gas working medium flow rates of 0.01–0.5 cm3/sec with a total error of ± (0.3–0.7)%. The operating principle of the construction, a procedure for determining gas mass
flow rate, the main parameters of the flow rate device, and measurement errors are considered. 相似文献
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研制了一种新型的液体流量标准装置.通过采用高准确度电子秤、控制换向器的不确定度和提高管路机械加工精度等手段,使质量法装置扩展不确定度达到0.05%(k=2).计算机通过RS-232接口连接通信控制器、变频器和电子秤,实现检定过程的自动控制与数据实时采集;且装置稳定可靠,检定效率高. 相似文献
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Adjustment of ultrasonic detection sensitivity with the aid of standard tes blocks with noncircular reflecting surfaces is
discussed. The shapes of reflecting surfaces and their angular position in the block with respect to the plane of entry of
ultrasonic oscillations make it possible to use them for adjusting straight and oblique transducers. Composite test blocks
for inspecting plane and rod-shaped materials are described.
Translated from Izmeritel'naya Tekhnika, No. 5, pp. 35–38, May, 1997. 相似文献
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大口径气体超声波流量计广泛应用于烟道排放监测和工业控制等领域。超声波流量计的传播时间测量准确度校准是非实流校准的重要环节,通过建立超声波流量计时间测量准确度校准装置,实现对大口径气体超声流量计传播时间的非实流校准。该文首先提出3种不同的超声流量计传播时间校准方法,分析不同方法的影响因素,其次通过改变探头间距离,对不同探头间距时超声波流量计传播时间的测量误差进行校准。试验结果表明:超声波流量计传播时间的测量误差随距离变化,并确定利用标准声速对超声波流量计传播时间进行修正的方法更为准确,测量结果不确定度为0.2%。 相似文献
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The total time on test transform has been used in reliability to compare two random lifetimes. Despite that it has been used widely in this context, it is not very clear in which sense the random variables are being compared. In this paper we provide a characterization which reveals the true nature of this comparison. Given that this comparison is of particular interest when the stochastic order does not hold, we also provide sufficient conditions for the comparisons of the total time on test transforms, when the stochastic order does not hold. Applications to the comparison of several parametric families of distributions are provided. 相似文献