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为了在无损状态下获得圆截面发光体内部谱线强度空间相对分布,提出了利用Abel变换,将被检对象外部的逐层扫描数据通过3次样条函数方法数值求解,从而得到被检对象内部参数分布情况的实验方法.运用该方法对汞发光体的577、405nm和365nm特征谱线进行了测量和计算,结果表明:3条谱线具有相似的分布规律,在靠近发光体中心处发光最强,然后沿径向迅速衰减,当半径r>1.5mm时,发光强度几乎趋于零.汞发光体内部谱线相对强度的这一变化规律主要决定于电极形状.这种研究方法也可以用来测量其他具有球对称或轴对称性发光体或辐射体(如火焰、电弧等)的内部强度相对分布. 相似文献