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尹岗 《工程设计CAD及自动化》2010,(12):52-54
一个直径10μm办公室灰尘就能将9μm的单模光纤挡住,严重影响光信号的传输效率甚至中断数据信号的传输。光纤端面检查和清洁是光纤接入前的一个必要步骤。另一方面,由于短距离低速光纤链路对光纤端面破损和脏污等现象并不是很敏感,这类潜在问题多数是在更换高速光模块或设备时才凸显出来,因为高速光纤链路对连接器的端面连接质量更敏感一些(损耗/回波/色散)。随着高速光纤在机房和数据中心的普及应用,对光纤清洁的重视程度日益受到用户关注。本文介绍检查光纤端面质量及清洁端面的各种常用方法。 相似文献
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采用表面轮廓仪测定了光纤和湿法刻蚀加工的单模与多模光纤端面粗糙度,并与光学显微镜检测的结果进行了对比.结果表明:表面轮廓仪表适合检测光纤端面及刻蚀加工后的三维特征,反映湿法刻蚀加工光纤端面的刻蚀深度和微腔形貌. 相似文献
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研究了一种基于机器视觉的光纤几何参数测量方法。该方法运用数字图像处理算法,首先,读取光纤端面图片,采用Deriche边缘检测算法进行图像分割;然后,利用去伪边缘算法完成对有效边缘的提取及合并;最后,进行曲线拟合,完成对光纤端面几何参数的测量。实验结果表明:该方法操作简便,算法复杂度低,光纤端面边缘拟合精确度较高,数据检测速度快,可以精确高效地检测出光纤端面几何参数的数据,对涂覆层直径的重复测量精度可达0.021μm,涂覆层圆度重复测量精度可达0.043%。 相似文献
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一:测量原理和装置测量光纤维参数的近场图形测试法是一种简便实用、精度较高,并可测量多个基本参数的方法。它利用朗伯光源均匀照射被测光纤的一端,在光纤另一端的端面附近观察到的辐射即为近场辐射。把光电接收器放在视场光阑后紧靠光纤的地方,使其沿光纤的直径方向移动,就可以进行近场扫描,从而获得光纤的近场图形。 相似文献
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研究了相移干涉轮廓仪干涉图处理的相位提取算法和相位去包裹算法,提出区分像素点的四步相位提取算法,该算法有效地消除了环境噪声,降低了相移误差的影响,同时具有广泛的实用性,为了验证该算法,首先检测一标准台阶面,测得台阶高度的平均测量误差为1.6%;然后以插入光纤的光纤连接器端面的三维轮廓为对象进行了实际检测,测得光纤端面与连接器端面高度差平均值为45.7nm,平均测量误差为2%,测得光纤端面上一污点高度为23.6nm,平均测量误差为3%。 相似文献
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周红 《功能材料与器件学报》2010,16(3)
为了能利用半导体材料ZnO对光谱曲线随温度变化而移动的原理设计一种光纤温度传感器,因此有必要对生长在光纤端面上的ZnO材料的温变特性的进行研究。基于ZnO材料的测温原理,利用电子束蒸发技术在蓝宝石光纤端面上生长ZnO薄膜,并设计了一种具有低插入损耗的光纤检测系统用于光学性能的分析。光谱测试结果显示,蒸镀在蓝宝石光纤端面上的ZnO薄膜具有陡峭的光学吸收边,随着温度的升高(室温~450℃),ZnO薄膜的禁带宽度减小,吸收边向长波长方向移动,符合半导体材料的温变特性。同时随着温度的升高,平均的透射率有一定的减小。ZnO薄膜温变特性的研究,将为进一步研制以ZnO镀膜为敏感材料的新型光纤温度传感器打下良好的基础。 相似文献
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复合材料的固化有着复杂的内部过程, 传统的工艺条件难以保障产品的质量, 发展智能化的在线监控技术是个有效途径, 在线监控系统需要有先进的传感器。研制了一种新型光纤传感器, 提出通过测量光纤末端近场模斑谱反映光纤埋置周围树脂折射率的变化。给出了利用这种传感器进行复合材料固化监测的实验结果。发现这种光纤传感器的信号能反映固化凝胶点、固化结束点及树脂粘度的最低点, 又由于光纤与复合材料的兼容性好以及装置简单、廉价、可靠性高, 因此可以应用于复合材料固化过程的在线监控系统。 相似文献
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光纤连接器端面超声机械研磨 总被引:1,自引:0,他引:1
为了提高光纤连接器端面的加工效率和加工质量,改善连接器光传输性能,探讨了在机械研磨的界面上引入超声能的复合研磨方式,设计了相应的超声机械研磨装置.实验结果显示,超声机械研磨效率是机械研磨的4~8倍,光纤表面粗糙度达到2~5nm,插入损耗小于0.1dB、回波损耗小于-60dB.研究表明,超声机械研磨技术可以提高光纤连接器的研磨效率和质量,使传输性能获得显著改善. 相似文献
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使用光散射空间分布自动测量系统对液晶光阀大屏幕投影系统中使用的光纤面板的表面在入射平面内的微分散射分布进行了测量,该系统的测量灵灵敏度优于10,线性动态范围达60dB,使用角负分布散射方法分析了光纤面板的表面粗糙分布特性及其对象质可能造成的影响。 相似文献
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反射式光纤测振仪的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
提出了一种反射式光纤测振系统。为克服环境、温度、光源输出、光路损耗等变化引起的漂移,它采用与反射面距离不等的两根接受光纤为参考通道,并利用两根接受光纤输出的信号比构成自补偿网络。本文给出该网络的理论依据,并介绍如何在电路设计上采用相应措施来提高稳定性和保证测试精度 相似文献
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