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IC测试仪分为两类,一类是专用IC测试仪,另一类是通用IC测试仪。专用IC测试仪只用于某一特定产品,其优点是结构简单因而制做成本低;缺点是设计投入高,仪器精度较低而且没有灵活性。如果该产品停止生产,就会造成浪费。通用IC测试仪一般性能优异,一台仪器可测试多种产品,但是价格较高,通常每台售价达数万至数十万美元,高性能的IC测试系统售价更达数百万美元。为解决这一难题,华智(香港)有限公司集十年IC测试方面的经验,于1993年10月研制成功了一种高性能低价格的通用数字IC测试 相似文献
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本文从ASIC的概念出发,说明有数字ASIC和模拟ASIC之分。论述了模拟ASIC的重要性和必要性,电路功能及所用元器件的复杂性和特殊性。就如何发展模拟ASIC,强调要发挥CAD的关键作用,做好软件实用化和建立数据库的工作;当前应建立实用的双极、CMOS、BiCMOS标准工艺线;要解决特殊测试问题和尽可能利用CAT技术。最后,望上级给予模拟ASIC应有的重视和扶植,促进IC产业协调发展。 相似文献
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充电监控显示集成块bq2007 总被引:2,自引:0,他引:2
bq2007是benchmarq公司生产的新型充电监控显示模块,使用bq2007可以构成功能完善的Ni-Cd,NiMH和Li^+离子电池充电器,并具有灵活的充电控制方式,可显示各种充电状态,并可大范围准确地进行充电监控显示,同时还有完备的安全保护功能,本文介绍了bq2007的功能、显示模式以及在充电监控显示方面的应用。 相似文献
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唐德兴 《电子工业专用设备》1989,(1):45-46
<正> 半导体器件及IC的高、低温测试,是器件生产中很重要的一环。尤其是LSI的高档产品更是不可缺少。此外,对于测试IC新品、失效分析、可靠性试验以及某些电子材料的性能等,都有广泛的用途。 国外生产的探针测试设备,除可进行常温测试外,一般都附带有高、低温测试附件。根据需要,可对器件进行-60℃~300℃左右的高、低温测试。而目前国产的各种型号探针测试台,均无此功能。因此给需要开展高、低温测试工作的用户带来不便。某些本应进行高、低温测试的器件,有的不得不放弃此项试验,有的只能采用精度及可靠性强度均较低的模拟法摸拟测试。例如采取对器件加高、低电压的方法,模拟量由经验而定。 相似文献
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利用已设计成功的中规模集成电路测试仪的外国设备和设计经验,设计了分立半导体器件测试仪,其关键技术是高压可程控电源及大电流电容放电和采样,本文对此作了较详细的说明。对计算机与测试仪之间的接口也作了详细的阐述,并介绍了测试单元电路及相应的计算机软件流程图。 相似文献
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汹涌的数字化浪潮自80年代开始,电子系统数字化的趋势已经十分强劲。MPU、MCU、DSP、DRAM、EEPROM这些构筑数字系统的基本器件,在微细加工技术和设计技术的带动下以极低廉的成本大批量制造,性能/价格比飞速提高。数字信号处理(DSP)技术、数字通信技术、图像压缩技术成为开拓市场的强大引擎。在通信领域,数字式移动通信取代了模拟式移动通信;在工业和民用控制领域,采用数字技术对温度、速度、坐标等参数实时监测控制的质量和效率越来越高;在消费产品中,数字音视频系统(VCD、DVD…)已经成了主流,数字彩电正成为商家… 相似文献
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本文介绍我所新近研制的一种微机控制的数字集成电路测试仪及其软硬件设计技术,重点叙述在计算机的应用。该仪器所采用的微机、监视器和打印机都是市购的廉价通用品。该仪器作为微机的外设,能在监视器的中文系统引导下测试24芯以下(包括24芯)的TTL和CMOS数字集成电路以及28芯存储器,并且能在不改动硬件设计条件下而扩展到40芯组件测试。商业性样机已经生产出来,并已提供用户试用。 相似文献
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三、常用的几种集成运算放大器1.精密基准型集成运放μA741 μA741是前几年应用最为广泛的集成运放(国内型号有F007、5G24),它的各项技术参数,如电压增益、输入阻抗、工作电压范围等都比较均衡,能满 相似文献
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一、模拟集成电路概述电子电路中的工作信号,不外乎有数字信号和模拟信号两种类型。所谓模拟信号,是指那些在时间上和数值上都是连续的信号。我们将工作于模拟信号下的电子电路,统称为模拟电子电路(简称模拟电路)。多年来,模拟电路从分立元件的电子管、晶体管发展到单片集成电路。模拟集成电路又从双极型发展到晶体管和场效应管混合型或晶体管和MOS场效应管混 相似文献