一个有效的不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法

本文介绍一个不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法DALG—EX18。该算法充分考虑不完全Scan结构的特点,同时也考虑MOS电路中由三态器件引出的一些特性,在传统5值D-算法基础上,引入18值及其计算规则,加入新的处理步骤,并辅以可观值/可控值引导D-驱赶和一致性操作,从而提高故障覆盖率,加快测试生成速度。DALG—EX18算法已用C语言在VAX 11/750机上实现,一些电路的实验结果表明,该算法是有效的。     

串行反馈内置自测试设计的研究

本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构，分析了它的状态转移图的拓扑结构，并对若干电路做了模拟实验。研究表明：添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分，既能提高测试图形的随机性，又可以降低错误特征被漏检的可能性，从而提高故障覆盖率。     

面向最大串扰噪声的测试生成方法

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.     

FPGA互连测试中的反馈桥接故障覆盖问题

现场可编程门阵列(FPGA)内部资源众多,其中互连资源出现故障的概率远远高于片内其他资源,而在以往许多互连测试研究中,所生成的测试配置存在无法覆盖反馈桥接故障的难题,所以较难有测试配置实现故障列表的100%覆盖。因此通过约束桥接故障只发生在单个查找表(LUT)内的信号线上,并结合单项函数,对反馈桥接故障模型进行优化改进,从根本上解决难题；然后对优化后的反馈桥接故障设置相应的约束条件,再使用布尔可满足性理论(SAT)生成满足约束条件的测试配置。采用优化后的故障模型对ISCAS"89基准电路进行了测试配置生成实验,结果表明生成的测试向量解决了反馈桥接故障的覆盖难题,并且在实现故障列表的100%覆盖下,优化后的故障模型所需要的测试配置数最少。     

基于多配置LFSR的测试生成结构设计

针对内建自测试技术中传统的测试生成故障覆盖率过低、硬件开销过大等缺点,提出了一种多配置LFSR的混合测试矢量生成结构,结构利用矩阵理论先后对随机性矢量和确定性矢量进行反馈网络的配置;针对确定性矢量的生成,提出了一种反馈配置解的寻优算法,在一定程度上减少了硬件开销,因结构生成的混合测试矢量可以同时检测出被测电路中的随机矢量可测性故障和抗随机性故障,进而保证了测试故障覆盖率。最后,通过实例和对几种综合基准电路的测试,验证了该方案的可行性。     

一个能克服VAX／VMS实时性缺陷的操作系统—VAXELN

本文讨论、测试并比较了VAXELN与VAX/VMS的有关性能.结果表明:VAXELN是Digital专门为VAX机的实时专用系统开发而推出的实时操作系统.它的实时性比VAX/VMS好,较好地解决了VAX/VMS系统规模大、系统开销偏大和系统引导时间长的缺陷.它的特点是:先在 VAX/VMS系统上借用VAX/VMS和它自身提供的开发资源,开发出应用程序,然后,在菜单方式下生成一系统映象程序,最后,抛开VAX/VMS系统,将系统映象引导或下线加载到裸机上运行.     

VAX-11系列机的性能测试

本文用14个Benchmark程序就VAX—11/730,VAX—11/750,VAX—11/780,Micro VAXⅡ及IBM4361—M05的性能进行了比较。结果表明Micro VAXⅡ的性能相当接近于VAX—11/780的性能。而VAX—11/730与VAX—11/750之间的差距较大。VAX—11/780在某些情况下甚至可以超过IBM4361—M05。     

基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成

针对数字电路中多故障测试生成较难的问题,本文提出了基于混沌搜索的数字电路多故障测试生成算法。该算法先把多故障转换成为单故障,再用神经网络的方法对单故障电路构造故障的约束网络,最后用混沌搜索方法求解故障约束网络能量函数的最小值点获得原电路中多故障的测试矢量。在一些国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。     

减少自反馈测试硬件代价的两种方法

由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点“反馈”连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.     

IIR滤波器的测试及可测性设计

基于加法器测试生成,提出了无限脉冲响应(IIR)滤波器的一种通用可测性设计、测试方案.在测试模式下,通过切断IIR滤波器中的反馈回路提高了该设计的可测性.通过复用原电路中的部分寄存器和加法器来提高其可测性,降低了额外的测试硬件面积开销.该方法能在真速下高效地侦测到IIR滤波器基本组成单元内的任意固定型组合失效,没有降低电路性能.     

基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法*

引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。     

组合电路测试码产生的“前—后”值算法

本文从逻辑变量的前后值形式表示法开始导出了基本门电路和一般数字电路中的“前—后”值公武,给出了这个公式的基本性质和在故障诊断中的应用。对于固定性逻辑故障,本算法通过形式化的公式把单故障和多故障数字电路的描述统一起来了。当从初级输出经过中间引线变量,向初级输入逐渐展开“前—后”值公式时,便可生成电路所有单故障和多故障的测试码,它无须事先假定某一引线故障,也无须事后进行故障模拟,从而时间可以大大节省。它也可以象 D 算法或布尔差分算法那样,通过敏化和解方程两个过程,对事先设定的故障生成测试码。为了阅读方便起见,本文例举了较多的例题,来说明算法的原理。本算法是在×××机插件诊断任务中提出的,本文主要是从理论方面来说明“前—后”值算法,至于算法实现中软件上的问题不在本文论述。     

VAX数据库语言智能编辑IntelEdit的实现技术

智能编辑IntelEdit是为VAX—DBMS网状数据库开发的集成软件工具,它能半自动地生成模式文件,顺序文件、格式文件、数据文件和CDDL源程序。本文介绍IntelEdit的总体结构,知识库实现技术,以及VAX—Pascal通用的一个工具箱,并讨论了实现该软件的若干特殊技巧。     

四值代价分析方法及其应用

现有的代价分析方法都是二值的,无力予报电路中的不可检测的故障。本文由于引进了故障电路代价FC 这个新概念,变二值代价分析为四值代价分析,并用GC 和FC 对电路中引线的可控制性和可观测性作了重新定义,因而能在求测试之前即识别出电路中与予置有关的那部分不可检测的故障。本方法是在文献[1]的基础上提出的,适用于“G-F”二值算法[2],文献[1]适用于D 算法。本方法从“G-F”二值算法的特点出发,把包括文献[1]在内的一般方法所称的引线x_i 置1(0)二个代价叫做正常电路中引线x_i 置1(0)代价GCx_i(x_i),又另外引进故障电路中x_i 置1(0)代价FCx_i(x_i)二个新值。x_i的四种代价值的计算服从统一的计算公式,仅初始条件和约束条件有所不同,程序实现简便。本方法定义GCx_i 和GC(?)_i 为正常电路中引线x_i 的可控制性;FCx_i和FC(?)_i 为故障电路中引线x_i 的可控制性,GCx_i+FC(?)_i 和GC(?)_i+FCx_i 为故障线A 在x_i 处的可观测性。实践证明,在测试生成过程中,本方法不仅能引导程序自动选择低代价的较易成功的故障敏化模式和引线置值模式,而且能在求测试之前即发现那些没有予置序列的时序电路和那些将使予置失败的不可检测的故障。本方法已在一种大型时序电路的测试生成中用程序实现,取得了提高故障复盖率1%前提下,提高速度一个数量级的良好应用效果。     

简论VAX—11DATATRIEVE的特点

本文初探VAX—11 DATATRIEVE的特点,介绍用VAX—11 DATATR—IEVE建立数据检索系统的方法,并以实例说明DATATRIEVE比较适宜在非计算机专业人员中推广使用。     

VAX—11计算机上ULTRIX—32系统生成的实用技术

本文系统地讨论了VAX—11计算机上ULTRIX—32操作系统生成的实用技术。描述如何根据特定的硬件配置生成最佳的操作系统运行环境:在扩充硬件设备后、如何简单迅速地扩充系统功能、提高系统的效率。     

CAN总线系统测试

CAN总线在控制领域有着很广泛的应用,常作为电路测试的现场总线。以CAN2.0B协议的应用为例,阐述了CAN总线的测试软件设计,以及常用的调试方法。通过PC机控制CAN网络节点的功能,及时通过反馈信息来调节CAN网络节点的任务。     

ASM图在时序电路测试生成中的应用研究

随着电路规模的不断扩大,将测试技术向高层次推进,提高测试的效率成为数字系统测试的必然要求.本文研究了基于ASM图的时序电路测试向量生成方法.该方法根据电路的功能描述构造ASM图,然后将其转换为状态图,利用有限状态机的有关知识构造测试向量,最后通过软件仿真和实测验证说明测试向量的正确性.该方法生成的测试向量能体现系统的功能,且具有较高的故障覆盖率.     

基于LXI总线的数字多用表模块设计

作为LXI仪器总线测试的具体应用,针对测试测量的通用性和可扩展性,成功研制了基于LXI总线的数字多用表模块;重点阐述了LXI总线数字多用表模块硬件电路的设计,以及SCPI命令解释器生成方法;硬件电路主要包括LXI接口电路和测量功能电路,∑-△测量功能电路包括模拟信号调理电路、∑-△A/D转换电路,LXI接口电路采用ARM9微控制器S3C2410和网卡控制器CS8900A的形式;结合LXI总线的优势,实现了高精度数字多用表模块功能,并就如何提高数字多用表模块的测试速度及准确度等问题进行了深入探讨.     

一种组合电路内建自测试的改进方法

对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内建自测试的改进方法;分析与实验结果表明,该方法能减少系统硬件占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。