共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
《国外电子测量技术》2012,(5):91-91
新的DIMM直插式夹具有助于客户使用现有逻辑分析仪模块进行更高速度的内存捕获2012年5月4日全球测试、测量和监测仪器提供商泰克公司宣布,推出用于逻辑调试和协议验证的下一代DDR3探测解决方案,采用了泰克TLA7000系列逻辑分析仪支持 相似文献
2.
泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能 总被引:1,自引:0,他引:1
《电子测量与仪器学报》2009,23(12):54-54
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3.1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案, 相似文献
3.
《国外电子测量技术》2009,28(12)
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列.用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能.新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用.泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP-DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案.这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案,为验证和改善工程师的设计提供帮助. 相似文献
4.
《国外电子测量技术》2009,(12):93-93
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDRNII试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。 相似文献
5.
《电子测量与仪器学报》2015,(8)
<正>是德科技公司日前宣布推出配合逻辑分析仪执行DDR4x16DRAM(动态随机存取存储器)设计测试的全新BGA(球形栅格阵列)内插器解决方案。借助Keysight W4636ADDR4x16 BGA内插器解决方案,工程师能够快速且精确地捕获地址、命令信号和数据信号子集,以完成高达2 400 Mb/s的设计调试和功能验证测量。 相似文献
6.
7.
《可编程控制器与工厂自动化(PLC FA)》2009,(7):13-13
全球领先的测试、测量和监测仪器提供商——泰克公司日前宣布,为DPO/DSA70000B系列和DP07000系列示波器推出第三代经过验证的DDR分析软件产品(DDRA选件)。泰克DDR测试解决方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP—DDR和GDDR3的全部速度,同时覆盖了物理层和数字域。 相似文献
8.
9.
10.
11.
12.
数字示波器中海量存储的实现 总被引:1,自引:0,他引:1
对于数字示波器,除了模拟带宽、实时采样率之外,存储深度也是一个重要技术指标。本文介绍了存储深度的提高对于数字示波器测量、调试信号的影响和意义,提出了采用DDR2SDRAM作为海量存储介质的方案,并成功在FPGA上进行验证实现。 相似文献
13.
《国外电子测量技术》1999,(5)
TLA714/720便携及台式逻辑分析仪 泰克公司的高性能仪器TLA714/720便携及台式逻辑分析仪和TDS694C高速数字示波器以及相关的连接探头,提供了在数字设计应用前沿完整的解决方案。这套集成工具有能力让我们去面对今天数字设计、软件工程调试、验证等大多数设计的挑战。 相似文献
14.
《电子测量与仪器学报》2015,(9)
<正>软件可以帮助工程师使用逻辑分析仪调试协议与时序违规是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布推出B4661A存储器分析软件——一款全新的软件包,可与是德科技逻辑分析仪搭配使用。在DDR4、LPDDR4总线速度发生变化时,Keysight B4661A存储器分析软件提供业内独有的功能及一致性违规测试能力。这款B4661A存储器分析软件具有一个性能 相似文献
15.
16.
PLC控制系统的现场调试是设备投产运行前的一个重要环节,尤其是对I/O点数多、控制逻辑复杂的系统,首先需要细心了解生产工艺流程与现场设备的配置;其次要精心规划调试的内容和步骤。本文介绍了自动检测机的现场调试技术,并对出现的几个特殊情况提出了分析意见和解决方案。 相似文献
17.
18.
DDR3器件广泛应用于各种设备的单板,而在实际调试与测试中,DDR3的读写时序测试是非常复杂的也是最为耗时的。本文比较各种读写分离方法优劣点及使用场合,通过分析DDR3读写时序的特点,利用ODT及读写前导码的时序关系,使用力科示波器特有的级联Cascaded触发功能,提出一种较为新颖的DDR3的读写分离的眼图测试方法。 相似文献
19.
20.
三沪直流工程系统调试过程中, 对主要技术问题进行了分析和解决, 如: 极Ⅰ、极Ⅱ和双极调试结合在一起, 提高了系统调试效率, 保证了系统调试按期完成; 对宜都站5631 交流滤波器不平衡保护跳闸原因进行了分析, 对其功能进行了完善; 对直流控制保护系统功能进行了完善, 包括: 直流线路保护、极母线差动保护和中性母线差动保护功能的完善, 直流线路故障测距的功能完善, 站用电辅助电源功能完善, 最后一条线路跳闸保护动作逻辑验证和完善, 直流滤波器不平衡电流保护逻辑的完善, 换流变压器分接头动作的同步性和稳定性改进等; 对系统调试计算和仿真试验研究进行了分析。这些关键技术问题的解决, 保证了系统调试的按期完成和顺利投入运行。 相似文献