温度对平晶平面度影响的定性分析及相关问题探讨

在测量平晶工作面的平面度时,温度不仅对平晶平面度的大小有影响,而且直接影响对平晶表面形状（凹凸）的判断。文章给出了温度对平晶平面度影响的实例分析,并提出了两种平晶表面形状判断的辅助方法,且对JJG28—2000《平晶》检定规程中平晶表面形状判断方法进行了必要的补充说明。     

（2／3）d范围内平晶平面度测量方法分析

在JJG28-2000平晶检定规程中,对平晶有效直径d范围内的平面度和（2／3）d范围内的平面度均有规定的要求。但该规程附录D中的计算公式和图示并不是平晶有效直径d范围内的平面度测量方法,且没有给出（2／3）d范围内的平面度测量方法,该文将对此问题进行分析,最后给出了符合现行规程要求的新测量方法,补充了计算公式。     

平行平晶平面度测量结果的不确定度评定

本文依据JJG29-2000《平晶检定规程》,使用平面等厚干涉仪,对平行平晶平面度的不确定度进行了分析,给出了完整的不确定度评定过程,为平行平晶平面度校准提供了完善的不确定度评定方法。     

平面平晶平面度测量结果的不确定度评定

文章介绍了平面平晶平面度测量常用的方法之一:用等厚干涉法,测量工作平晶平面度时的误差来源、类型、不确定度合成方法及各分量对测量结果的影响程度.     

平晶平面度综合测量方法探讨

在JJG28-2000平晶检定规程中,对平晶有效直径d范围内的平面度和(2/3)d范围内的平面度均有规定的要求.本文将对此问题进行分析,最后给出了符合现行规程要求的新测量方法,补充了计算公式.     

浅析环境温度对检定平晶平面度的影响

本文针对检定平晶工作面平面度的时候,由于环境温度变化对平晶平面度测量的影响,对其进行了分析,并同时通过相关实验得出结论,即在检定温度范围内,温度的变化会影响平面度的量值大小,旨在为从事相关工作的技术人员提供参考依据。     

PG15-J4型激光平面干涉仪的数字化改造

本文研究对中国科学院上海光学精密机械研究所生产的PG15-J4型激光平面干涉仪进行数字化改造,通过加装CCD相机,将干涉图像采集到计算机中,然后对采集到的图像进行滤波、细化等处理,并按照JJG 28—2000《平晶检定规程》对图像处理后得到的条纹进行计算,得到被测平晶的平面度。经实验验证,改造后的干涉仪满足了对?150mm以下的一、二级平晶的检定要求,适用于计量部门对平晶进行检定。     

平晶表面形状加压分析判断法的原理与应用探讨

平晶表面形状的判断对于平晶平面度的计算非常重要，错误的判断将会直接导致计算错误。该文通过对加压分析判断法原理的介绍，讨论在实际检定工作中的注意事项。灵活掌握该方法不仅对于平晶检定工作，而且在使用平晶测量量具或工件表面平面度时都非常重要。     

平晶检定时干涉条纹的快速调整方法与平面度计算

在平面等厚干涉仪上检定平晶工作面平面度时,需要在被检区域调整出3到5条干涉条纹,依据测量原理和计算公式求出被检平晶工作面的平面度.文章重点分析干涉条纹的快速调整方法与标准平晶平面度的正确引用方法.     

等倾与相移两种干涉仪的平面度绝对测量比对

采用三平面互检测量方法,分别在等倾干涉仪和相移干涉仪上对平晶平面度进行了绝对测量比对。针对两种干涉仪不同的测量原理,提出了一种规范方法以从相移干涉仪数十万点阵测量数据中,提取符合等倾干涉仪测量数据格式的结果;对比等倾干涉仪的结构与环境控制方法,研究了相移干涉仪进行平面度绝对检验过程中的温度、温度梯度、温度分层情况,采取双重保温措施下达到了0.002μm的测量重复性,和0.01μm的绝对检验测量不确定度。与等倾干涉仪的检定结果的差异小于0.01μm,证明了相移干涉仪用于平晶的平面度检定工作可行性。