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相似文献
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1.
激光辐照参数对光导型光电探测器响应的影响   总被引:1,自引:1,他引:0  
杜立峰  孙静  张蓉竹 《光电工程》2011,38(12):120-123,129
文章针对激光照射下光导型碲镉汞光电探测器的响应特性展开了研究,主要讨论了强激光照射下辐照时间、波长及光功率密度对探测器响应特性的影响.从传统载流子的漂移扩散模型出发,在考虑温度的变化下推导出描述半导体载流子的动态方程,并通过数值模拟,给出了理论上的激光辐照主要参数对探测器电阻及输出电压的影响.结果表明:半导体探测器材料...  相似文献   

2.
200~400nm波段光电探测器光谱响应度测量装置研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文叙述了200~400nm波段光电探测器光谱响应度的测量装置原理、测量系统及不确定度。采用紫外光谱强度大的氙灯作为光源,采用紫外分光效率高的单色仪进行分光,腔型热释电探测器与标准硅光电探测器进行相对光谱响应比较得到标准硅光电探测器相对光谱响应度。绝对值标定则是利用低温辐射计对无窗紫敏硅光电探测器进行测量后再传递到标准硅光电探测器,从而最终测量出标准硅光电探测器在紫外波段的绝对光谱响应度。  相似文献   

3.
关于新的光电探测器光谱响应度工作标准的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文介绍了新的光电探测器光谱响应度工作标准 ,该项标准参加了 2 0 0 0年CCPR(国际计量委员会所属光度和辐射咨询委员会 )组织的国际比对。在新的工作标准中 ,用调制光代替原来的直流光 ,以减少杂散光、噪声等对测量准确度的影响 ;用锥腔型热释电探测器代替原来的热电堆探测器作为参考探测器 ,用锁相测量仪器代替原来的直流测量仪器并增加温度控制 ,以便提高测量系统的灵敏度和光谱响应度标准的平坦程度 ,进而提高准确度 ;以双单色仪代替原来的单色仪 ,大大减少杂散光 ;同时增加了光谱响应度的绝对定标  相似文献   

4.
本文设计了一种基于MEMS工艺的电容式非制冷红外探测,并利用ANSYS对器件的热力学特性进行了分析.使用ANSYS模拟研究了器件温度响应、位移响应与吸收的红外辐射能量的关系,研究了器件结构尺寸对器件性能参数的影响.红外探测器的温度响应和位移响应与吸收的红外辐射能量呈线性关系;随着红外探测器结构尺寸的增加,其温度响应度、位移响应度、热时间常数都随之增加,探测能力增强,但瞬态响应特性降低;当铝膜与氮化硅层的厚度比为0.5~0.6时,器件的位移响应度最大.  相似文献   

5.
光电探测器相对光谱响应度标准   总被引:3,自引:0,他引:3  
本文介绍光电探测器相对光谱响应度标准的实验装置、方法及测量结果。该装置以补偿型真空热电堆为参考基准,采用双光路替代法,全部测量过程自动化。总的不确定度为±(1.5~4.0)%。  相似文献   

6.
林延东  吕亮 《计量学报》2012,33(6):494-498
基于低温辐射计建立了一系列激光波长上光探测器响应度测量基准。进行了基准装置性能的研究,应用光辐射有效加热功率检验方法进行了不确定度评估。在氦氖、氩氪离子以及钛蓝宝石激光器的10个波长上测量了作为标准探测器的陷阱探测器的响应度。在氦氖、氩氪离子激光波长测量结果的不确定度达到0.8×10-4,在钛蓝宝石激光器达到1.1×10-4。对标准探测器的面响应均匀性、非线性、偏振响应、角度响应等特性对响应度测量结果的影响进行了研究。  相似文献   

7.
陷阱探测器面响应均匀性的测量   总被引:2,自引:0,他引:2  
对陷阱探测器的面响应均匀性进行了测量。在主要灵敏面内 ,面响应均匀性测量结果的重复性达到 4×10 -5。给出了对 S1337、S12 2 7等 4种不同硅光电二极管构成的陷阱探测器的面响应均匀性的测量结果。测量结果表明 ,不同类型探测器之间面响应不均匀性存在显著差异 ,其中 S1337构成的陷阱探测器的面响应均匀性最好。正确选择合适类型探测器 ,对保持和传递低温辐射计达到的很低的不确定度非常重要。  相似文献   

8.
《中国测试》2015,(12):79-82
为解决传统的全吸收型激光能量计存在的量值上限问题,提出一种采用无畸变取样的新型激光能量校准装置。该装置主要由透射式光学元件及标准探测器组成,利用透射式化学元件反射的弱光以降低校准系统对标准探测器的量程要求。文中给出该校准装置实现高能激光能量测量装置校准的原理和方法,并给出该套校准装置的不确定度评定方法。该校准装置一方面可以测量激光器的输出能量,另一方面可以校准现场用的其他高能激光能量测量设备。  相似文献   

9.
陷光探测器偏振响应特性的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
偏振响应特性是反映光探测器质量的重要参数。陷光探测器(陷光二极管)是低温辐射计的传递探测器。中对陷光探测器的偏振响应特性进行了测量研究,并提出了对它的数值表述方法。探测器偏振响应特性的测量结果的不确定度达到0.005%。测量结果表明,不同的反射型陷光探测器的偏振响应特性相差很大,在光辐射测量中不容忽视。  相似文献   

10.
在流水式量热计中温度传感器无法实时地反映流水温度变化,为了达到准确测量能量的目的,必须保证对应的温度积分值基本不受传感器响应时间的影响.为此建立了温度传感器的热模型,深入研究了水流温度在稳态和动态条件下温度传感器响应特性及其对温度积分值的影响,得出了在准稳态下,温度的积分值基本不受响应时间影响的结论.提出了一种采用强制热交换方式加快水流热交换,使得水流温度快速达到准稳态的方法,此方法在新型量热计系统中得到成功应用,并取得较好的效果,这也为其它类似积分型测量系统提供一个很好的借鉴,具有广阔的应用前景.  相似文献   

11.
文中介绍新研制的紫外激光能量计,采用接收口径为50mm的热释电探测器,配有可承受1MW/cm2高功率密度的吸收层。该能量计可测各种准分子激光能量,测量上限可达焦耳量级。文中有仪器框图、探测器构成、仪器性能实验及其误差分析结果。  相似文献   

12.
本文讨论影响用作探测器的雪崩光电二极管响应度恒定的因素,在此基础上提出了两种保持响应度恒定的可行方法,恒温恒压法和偏置电压温度补偿法,并进行了实验验证。  相似文献   

13.
激光光强分布测量中面阵CCD信号畸变的校正   总被引:1,自引:0,他引:1  
当面阵CCD用于激光能量空间分布测量时,由于CCD探测器光电响应非线性、光电响应非均匀性等因素影响,必然使信号产生畸变。本文通过理论分析与实验对畸变进行了校正,收到了良好的效果。  相似文献   

14.
硅光电探测器光谱响应度测量标准装置   总被引:5,自引:0,他引:5  
张建民  林延东  邵晶  樊其明 《计量学报》1998,19(3):194-198,206
本文介绍了硅光电探测器光谱响应度测量的原理和装置,描述了相对和绝对光谱响应度标定方法,详细分析了引起标定误差的因素和误差合成,简要分析了国际比对结果。本装置的波长范围为300 ̄1000nm,相对光谱响应的不确定度(1σ)为0.21% ̄0.86%,绝对光谱响应的不确定度(1σ)为0.25% ̄0.87%。  相似文献   

15.
林延东 《计量学报》2008,29(4):313-316
介绍了常用的腔型和平面型两种热电型光辐射探测器时间响应特性的测量方法和测量结果.测量结果表明不论是腔型还是平面型光辐射探测器,其时间响应特性都不是理论预言的简单指数衰减函数,而是包含两个指数衰减函数的组合函数;探测器达到平衡的时间是入射光功率的函数,两种探测器的平衡时间都可能很长.所以,如何选取测量读数前等待平衡时间对测量结果有重要影响.对该项因素的影响进行了分析,并提出了解决办法.  相似文献   

16.
国产氧化钒非制冷红外探测器的响应率、非均匀性、噪声等效温差等响应特性是影响红外成像系统核心指标的重要因素.研究探测器的靶面温度和环境温度对响应特性的影响,可以为探测器的分温区标定、改进非均匀性校正算法、整机热设计等各个方面提供有效的指导,进而为后续提升红外图像质量和整机连续工作稳定性奠定基础.  相似文献   

17.
报道了以Si(111)为衬底的GaN光导型紫钙探测器的制备及其光电流性质,探测器的光谱响应表明,这种GaN探测器在紫外波段250-360nm有近于平坦的光电流响应,36nm附近陡峭的截止边,在357nm波长处,测得5V偏压下的响应度高达6.9A/W。响应度随外加偏压的增加而增加,5V时达到饱和,通过拟合光电流响应随入射光调制频率的变化关系,得到GaN探测器的响应时间为4.8ms。  相似文献   

18.
InP 层对正面及背面入光 PIN 探测器响应度影响研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
InP盖层对光的吸收及入射光在探测器多界面间的多次反射,使InP层对InGaAs/InPPIN探测器的响应度产生了很大的影响。本文测量了正面和背面入光PIN探测器的响应度,并与测量的InP晶片透射率及模拟的透射率进行比较,分析了InP层对正面及背面入光PIN探测器响应度的影响。结果表明,随着InP层厚度的增加,响应度峰与峰的间隔Δλ不断减小,波形越来越密集。所以正面入光探测器的响应度起伏比较明显,且随着InP层厚度的增加,响应度极值对应的波长发生红移。背面入光探测器的响应度非常密集而成为准连续的带状。  相似文献   

19.
刘建  刘慧  赵伟强  杨臣铸 《计量学报》2012,33(4):317-320
使用响应度分布不均匀的探测器来测量光分布不均匀LED的平均发光强度时,其测量结果可能会引入显著的测量误差。设计实验装置对3种不同类型的探测器的响应度分布进行测量,结果表明带光漫射器的光度探测器响应度均匀性很差,这样的光度探测器用于测量一种白光LED平均发光强度时,响应度不均匀引起的测量误差可达2.0%。类似于光谱失配修正方法,给出了对探测器响应度不均匀性评价的方法以及响应度不均匀性评价因子c的表达式,并建议在进行LED平均发光强度测量时,应避免使用带光漫射器的光度探测器。  相似文献   

20.
介绍了高准确度光辐射功率校准原理和方法,利用低温辐射计作为主标准器,以陷阱探测器作为传递标准,激光器作为光源,通过激光功率稳定装置,校准了硅陷阱探测器和铟镓砷陷阱探测器的绝对光谱响应度。选取476.1, 488, 514.7, 521, 568, 632.8, 647.1, 785, 852, 980, 1064, 1550,nm共12条谱线完成了校准实验,绝对光谱响应度测量不确定度均优于0.05%。通过量子效率模型得出了硅陷阱探测器的绝对光谱响应曲线。利用InGaAs陷阱探测器分立波长点的绝对光谱响应度与相对光谱响应曲线进行了验证分析。结果表明,2种陷阱探测器均可用作传递标准进行高准确度的可见光和近红外光辐射功率校准和量值传递。  相似文献   

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