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本文采用一次烧渗法制备出掺杂V2O3系PTC陶瓷的Ag-Zn-Ti电极,测量了电极的电学性能,采用差热—失重分析、XRD分析和电子探针X射线衍射显微分析等方法研究了电极的结构,同时对电极与陶瓷基体的接触状态进行了分析。研究结果表明:在电极与陶瓷基体间获得良好的欧姆接触,Zn和Ti固溶进入Ag晶格而形成固溶体,Zn对形成欧姆接触具有重要影响。 相似文献
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简要介绍了掺杂V2O3中的M-I相变以及相关PTC特性,综述了国内外掺杂V2O3系PTC陶瓷的研究现状,论述了近期在掺杂体系、淬冷处理工艺和金属添加剂等方面的研究进展,并展望了掺杂V2O3系PTC陶瓷的应用前景。 相似文献
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曾有报道认为离子半径较小的Yb^3+离子,在BaTiO3中主要取代Ti位表面为受主杂质,从而不能使BaTiO3材料在空气中半导化。本文研究了Yb2O3的掺杂行为,表明它同其它稀土杂质一样,可以使空气烧成的BaTiO3陶瓷半导化。在纯施主掺杂的BaTiO3半导化陶瓷中,材料的升阻比随施主掺杂量的增加而降低,这是由于晶界上中性钡缺位浓度随施主掺杂量的增加而降低造成的。 相似文献
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研究了PTC陶瓷粉末掺杂高分子PTC材料的电性能,发现掺杂后复合材料的室温体积电阻率降低,PTC强度增加,这为解决高分子PTC材料中室温体积电阻率高与PTC强度低的矛盾提供了一条新的途径,同时发现绝缘高介陶瓷粉末对高分子PTC材料也有改善作用。另外,辐照交联可以很好地加材料的PTC强度和降低NTC强度。对实验现象从理论上进行了定性分析。 相似文献
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Y2O3掺杂BaTiO3陶瓷的介电特性 总被引:3,自引:0,他引:3
讨论了掺杂Y2O3的BaTiO3陶瓷的介电特性,并计算了晶粒电阻、晶界电阻、晶界宽度和晶界势垒高度,也讨论了在掺Y2O3材料中加入少量Li2CO3对材料微观结构与宏观性能的影响。 相似文献
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BaPbO3掺杂对(Sr,Pb)TiO3陶瓷性能的影响 总被引:4,自引:2,他引:2
研究了一系列BaPbO3掺杂的钛酸锶铅基陶瓷的制备过程和电学性能,结果表明:低阻的BaPbO3的添加能显著降低材料的烧结温度,促进晶粒生长,但并不能明显降低材料的室温电阻率,XPS分析证实了BaPbO3加入后在与(Sr,Pb)TiO3固溶时,四价的Pb被还原为二阶,BaPbO3不以低阻相单独存在。 相似文献
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对于钴包覆陶瓷粉末热压烧结的Al2O3-TiC-Co新型复合材料力学性能和断裂行为进行了研究。结果表明,Co在基体中以金属相存在,分布于晶界的金属钴的存在能有效地改善Al2O3-TiC材料的力学性能,影响其断裂行为。 相似文献
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研究了Sm2O3掺杂的bi2O3-ZnO-Nb2O5(BZN)基陶瓷(Bi1.5-xSmxZn0.5)(Zn0.5Nb1.5)O7(O≤x≤0.6,BSZN),的结构及介电性能.结果表明纯BZN陶瓷的结构为立方焦绿石单相;当Sm2O3掺杂量较少(O<x≤0.5)时,样品的相结构仍然保持立方焦绿石单相;随着Sm2O3掺杂量的进一步增加(x≥0.6),样品出现其它相.同时,试样的介电性能随结构的变化而呈现有规律的变化. 相似文献
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SrTiO3陶瓷中掺杂和Ti/Sr比的配合 总被引:9,自引:2,他引:7
在SrTiO3双功能陶瓷的制备中,最关键的是晶粒生长、晶粒半导化和晶界绝缘化。SrTiO3晶粒生长和半导化受到多种因素的影响,诸如杂质的各类和含量、Ti/Sr比、烧结温度、氧分压等,这些因素是相互制约、共同作用的。研究表明,适当的Ti过量促进晶粒生长;Ti/Sr≈1时,可降低数烧结对氧分压的要求;过量Ti^4+和Sr^2+的固溶限受到氧分压和施主掺杂的影响,与此类似,施主杂质Nb^5+和La^3+ 相似文献
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SrTiO_3陶瓷是一种具有多功能特性的介质材料。用La_2O_3掺杂改性的SrTiO_3陶瓷,可以提高其介电常数和降低介质损耗,对其介电温度特性和介电频率特性也有明显的改善.本文主要报道 La_2O_3对SrTiO_3陶瓷介电性质的影响。 相似文献
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ZnO压敏陶瓷的一价离子掺杂 总被引:8,自引:1,他引:8
本文研究了一价金属离子掺杂对ZnO压敏陶瓷电性能的影响。根据晶界的Schotky势垒模型分析计算了ZnO晶粒表层15nm浅范围的正电荷中心浓度ND对ZnO压敏陶瓷小电流区非线性特性的影响。结果表明ND减小,非线性增强,如果掺入ZnO压敏陶瓷中的一价金属离子进入了ZnO晶粒体内对正电中心进行补偿,则会使大电流区的非线性变差。 相似文献
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通过掺杂Y2O3和优化烧结工艺制备了ZnO-Bi2O3-Nb2O5压敏陶瓷。利用XRD、SEM和VSR研究了Y2O3掺杂量对其电性能的影响。结果表明,随着Y2O3掺杂量增加,陶瓷电阻率ρ减小,非线性系数α增大;Bi2O3气氛下烧结(1170℃、保温2.5h)的陶瓷,当x(Bi2O3)和x(Nb2O5)为3%、y(Y2O... 相似文献
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研究了施主掺杂的(Sr,Pb)SiO3陶瓷,探讨不同的施主Nb掺杂浓度对材料电阻率和显微结构的影响,通过复阻抗解析,分别得到施主浓度的变化对材料晶粒和晶界电阻率的影响规律。结果表明随施主浓度的增加,晶粒和晶界电阻率变化呈现相似的U型曲线,但晶界的电阻率值及变化幅度远大于晶粒,证明了晶界对材料的电阻特性起主导作用。 相似文献
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用传统固相烧结工艺,制备了纯相的Bi4Ti3O12 (BTO)陶瓷,A位掺杂的Bi3.25La0.75Ti3O12(BLT),Bi3.15Nd0.85Ti3O12(BNdT)铁电陶瓷.X射线衍射结果表明,所有样品均为单一的层状钙钛矿结构,La、Nd掺杂未改变BTO的晶体结构.铁电测试结果表明,BTO、BLT和BNdT陶瓷的剩余极化2Pr值分别为12.4、23.8和39.4μC/cm2.A位掺杂后,BLT、BNdT的2Pr值比未掺杂的BTO分别提高了1.92和3.18倍.漏电流测试表明,BLT、BNdT陶瓷的漏电流密度比BTO明显降低.A位掺杂显著提高了BTO陶瓷的铁电性能. 相似文献
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施主掺杂(Sr,Pb)TiO3陶瓷的正电子湮没(PAT)研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文采用正电子湮没技术(PAT)研究了施主掺杂(Sr,Pb)TiO3陶瓷的半导化机制,结果表明,在低施主掺杂浓度下,半导化行为与准自由电子浓度有关,主要取决于电子补偿机制,同时晶格失氧对半导化也有贡献。高浓度时,重新绝缘源于缺陷的缔合。 相似文献