共查询到19条相似文献,搜索用时 213 毫秒
1.
板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统 总被引:1,自引:0,他引:1
针对板上芯片(COB)集成封装发光二极管(LED)补粉排测设备对光色参数检测的需求,研制了一套基于光纤光谱仪的LED快速光色检测系统。该系统包括光色参数检测模块、LED测试机械结构及显示模块等3个部分。光色参数检测模块主要由自制光谱仪构成,用于对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出LED的光色参数。LED测试机械结构由积分球和可加装不同COB封装LED的夹具测试平台构成。基于该系统架构,可快速测量LED的光通量、色坐标及色温等参数。利用该设备进行了COB封装LED的快速扫描并测量了它的光色参数,期间操作者可根据实际测量结果进行相应的补粉。结果表明:在测试10颗LED时,单次测量时间少于3s;LED色坐标准确度优于±0.003,色坐标重复性小于0.000 5,色温测试精度为0.6%@5700K,色温重复性误差小于0.000 8。测试结果满足了当前大功率COB封装LED测试系统对速度、准确性和重复性的要求。 相似文献
2.
3.
4.
表面贴装LED光电参数测试分选系统的研制 总被引:1,自引:0,他引:1
通过测量LED的相对光谱功率分布,计算出被测LED的色度坐标、纯度、峰值波长以及主波长等参数.测试装置提供与分选装置的通信接口,通过它们之间的通信实现在线测试,并可根据测试的结果和设定值对被测LED进行自动判断分选.实际应用表明:该系统测试速度快,单颗测试时间为100 ms;测试精度高,其中发光强度测量误差小于10%,峰值波长的误差在±1 nm内;主波长为620~760 nm的LED其主波长测量参数误差不大于1 nm,主波长为380~620 nm的LED其主波长测量参数误差不大于0.5 nm,白光的色度坐标误差不大于0.01.系统兼容性好,更换少量配件就可生产不同规格的表面贴装LED. 相似文献
5.
位相测量轮廓术(PMP)是将被测物体表面投影光栅条纹的灰度分布变换为位相分布,从而求得被测物体高度分布的轮廓测量技术。本文讨论PMP测量系统参数:抽样间隔X、Y;光栅周期p、q;最大系统噪声nmax以及光瞳位置参数d、L的选择和测定。这些参数的合理选择与精确测定,将提高位相测量以及位相-高度转换的精度。 相似文献
6.
为实现铅笔颜色自动化测量的目的,研制了基于颜色传感器的彩色铅笔自动分选系统.使用STC89C52为主控芯片,TCS3200传感器为颜色采集模块,采集铅笔的颜色并以R、G、B分量形式输出数字信号传给主控芯片进行处理.LCD显示模块展示颜色检测结果和RGB分量值,LED指示模块实时展示系统目前的运行状态.软件部分包括主程序... 相似文献
7.
基于DSP的科氏质量流量计信号处理系统 总被引:13,自引:2,他引:13
本文利用离散傅里叶变换(DFT)方法处理奥利质量流量传感器的信号,计算其频率和相位差,提出一种容易实现的、精度较高的频率跟踪方法,实现整周期采样,保证数字信号处理的精度。研制基于数字信号处理器(DSP)的实时信号处理系统,其硬件包括信号采集通道、DSP芯片、逻辑控制电路、液晶显示器(LCD)电路、键盘输出电路、温度检测电路和输出电路,其软件包括监控程序、中断服务模块、初始化模块、相位差测量模块、频率跟踪模块、键盘监控模块和显示模块等。仿真和实测结果表明,本文所研究的方法和研制的系统是可行的、有效的。 相似文献
8.
9.
介绍STD总线在LED光强自动分选控制中的硬件配置、功能软件开发及应采取的各种抗干扰措施,实现了LED光电参数的在线测试。 相似文献
10.
11.
针对传统的光电编码器角度测量方法无法满足自驱动关节臂坐标测量机角度高精度实时测量的问题,设计了基于FP GA组合设计方法的光电编码器角度实时测量系统,由原理图输入设计的抗扰动模块、Verilog HDL语言设计的四倍频辨相计数模块、Qsys搭建的数据传输模块和Visual Studio设计的软件模块组成.通过与数字采样... 相似文献
12.
机载光电稳定平台检测技术的研究 总被引:15,自引:8,他引:7
给出了机载光电稳定平台的检测技术及方法,并提出了一种动态靶标的结构方案及原理,使其能够进行静态、动态的参数测试,尤其是可见光和红外成像系统同时工作时各种参数的测试。在此基础上为建立测量基准的传递方法、形成系统的光电侦察平台总体检测技术提供必要的准备和基础。着重阐述了机载光电稳定平台的静态、动态时的角度测量方法,首次提出了一种利用光线对接方法,实现可见与红外同时测量。还提出了一种数学计算方法,通过两个角度的测量和空间矢量法计算,得出动态靶标的空间坐标,以此作为机载光电稳定平台的指向坐标的真值,并给出了动态靶标的静态与动态精度的标定方法。 相似文献
13.
14.
15.
16.
17.
LED作为新兴光源,与传统的白炽灯光源相比,具有很大的优势。衡量其荧光材料发光性能的一个重要参数就是量子效率。为了准确地测量荧光材料的量子效率,提出了一种基于半积分球装置的量子效率测量系统。该系统采用了中心波长为465nm的蓝光LED芯片作为激发光源,与直径为150mm的半积分球和直径为150mm、中心孔直径为8mm的平面反射镜搭配使用,运用光纤和线阵CCD光谱仪采集光谱数据,并进一步计算出量子效率。为了验证系统的有效性,分别采用两种不同的荧光材料对测量系统进行测试,测量结果与厂商所给的数值基本一致。实验结果表明,该测量系统能有效地评估LED中荧光材料的发光性能。 相似文献
18.
该文设计了以AT89C51单片机为核心的一种基于红外光电传感器的智能转速测量系统。系统采用红外光电传感器采集信号,利用整形电路获取转数计数器的计数脉冲,通过单片机进行数据处理,最后用LED数码管对测量结果进行显示。研究结果表明,该系统硬件电路简单、精度高、抗干扰能力强、测量速度快。 相似文献
19.
High-throughput through-focus scanning optical microscopy (TSOM) involves defocusing along the optical axis and capturing a series of defocus images and is useful in optical nanoscale measurement. However, TSOM is usually affected by its optical and mechanical noises. In this study, the issue of sensitivity and application in three-dimensional (3D) multiple parameter measurement of TSOM is investigated. First, a TSOM system with objective scanning and its relative simulation algorithm are proposed. Second, based upon the system and algorithm, an experiment on an isolated Au line is performed and the corresponding matching library is established. Comparing the experimental TSOM image and simulated TSOM images of the library, 3D multiple parameter results of the Au line are extracted. Third, the precision of the system is analysed through a fidelity test particular for through-focus images. According to this study, the system is robust to the optical and mechanical noises and hence could be useful in 3D multiple parametric measurement and high-volume nanomanufacturing. 相似文献