板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统

针对板上芯片(COB)集成封装发光二极管(LED)补粉排测设备对光色参数检测的需求,研制了一套基于光纤光谱仪的LED快速光色检测系统。该系统包括光色参数检测模块、LED测试机械结构及显示模块等3个部分。光色参数检测模块主要由自制光谱仪构成,用于对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出LED的光色参数。LED测试机械结构由积分球和可加装不同COB封装LED的夹具测试平台构成。基于该系统架构,可快速测量LED的光通量、色坐标及色温等参数。利用该设备进行了COB封装LED的快速扫描并测量了它的光色参数,期间操作者可根据实际测量结果进行相应的补粉。结果表明:在测试10颗LED时,单次测量时间少于3s;LED色坐标准确度优于±0.003,色坐标重复性小于0.000 5,色温测试精度为0.6%@5700K,色温重复性误差小于0.000 8。测试结果满足了当前大功率COB封装LED测试系统对速度、准确性和重复性的要求。     

LAPS控制和测试系统的设计和实现

光寻址电位传感器(LAPS)是一种基于电解质溶液-绝缘层-半导体(EIS)结构的光、机、电一体化的传感器系统,主要用于进行生物化学多参数测量.主要简述了LAPS的基本原理,并且在此基础上设计和实现了整个LAPS控制和测试系统,包括流通系统、LED光源阵列、单片机控制系统等部分,为生物化学多参数分析提供了检测平台.     

基于AT89C51单片机的电网参数检测

系统采用AT89C51单片机作为处理器核心实现对电网参数的测量,文中给出了系统的工作原理硬件结构及软件流程。在硬件方面重点介绍了采样电路、模数转换电路、显示电路。软件方面将整套软件分成频率检测模块、数据采样模块、电参数计算模块、按键中断模块等几部分。     

表面贴装LED光电参数测试分选系统的研制

通过测量LED的相对光谱功率分布,计算出被测LED的色度坐标、纯度、峰值波长以及主波长等参数.测试装置提供与分选装置的通信接口,通过它们之间的通信实现在线测试,并可根据测试的结果和设定值对被测LED进行自动判断分选.实际应用表明:该系统测试速度快,单颗测试时间为100 ms;测试精度高,其中发光强度测量误差小于10%,峰值波长的误差在±1 nm内;主波长为620～760 nm的LED其主波长测量参数误差不大于1 nm,主波长为380～620 nm的LED其主波长测量参数误差不大于0.5 nm,白光的色度坐标误差不大于0.01.系统兼容性好,更换少量配件就可生产不同规格的表面贴装LED.     

位相测量技术中系统参数的选择与测定

位相测量轮廓术（PMP）是将被测物体表面投影光栅条纹的灰度分布变换为位相分布，从而求得被测物体高度分布的轮廓测量技术。本文讨论PMP测量系统参数：抽样间隔X、Y；光栅周期p、q；最大系统噪声nmax以及光瞳位置参数d、L的选择和测定。这些参数的合理选择与精确测定，将提高位相测量以及位相-高度转换的精度。     

基于颜色传感器的彩色铅笔自动分选系统

为实现铅笔颜色自动化测量的目的,研制了基于颜色传感器的彩色铅笔自动分选系统.使用STC89C52为主控芯片,TCS3200传感器为颜色采集模块,采集铅笔的颜色并以R、G、B分量形式输出数字信号传给主控芯片进行处理.LCD显示模块展示颜色检测结果和RGB分量值,LED指示模块实时展示系统目前的运行状态.软件部分包括主程序...     

基于DSP的科氏质量流量计信号处理系统

本文利用离散傅里叶变换（DFT）方法处理奥利质量流量传感器的信号，计算其频率和相位差，提出一种容易实现的、精度较高的频率跟踪方法，实现整周期采样，保证数字信号处理的精度。研制基于数字信号处理器（DSP）的实时信号处理系统，其硬件包括信号采集通道、DSP芯片、逻辑控制电路、液晶显示器（LCD）电路、键盘输出电路、温度检测电路和输出电路，其软件包括监控程序、中断服务模块、初始化模块、相位差测量模块、频率跟踪模块、键盘监控模块和显示模块等。仿真和实测结果表明，本文所研究的方法和研制的系统是可行的、有效的。     

蓝菲光学（Labsphere）将在ICIOE2008展示其LED测试、灯具能效测试、手电筒光色测试等系列产品线

蓝菲光学（Labsphere）将在第十届中国国际光电博览会（C10E2008）展示其最新用于大功率封装LED光、色测量系统、手电筒光、色测量系统、灯具能效测量系统、CCD定标用均匀光源系统和用于背光源的光学漫反射涂料、材料（Spectraflect（R）、Spectralon（R））。     

STD总线在LED光强自动分选控制中的应用

介绍STD总线在LED光强自动分选控制中的硬件配置、功能软件开发及应采取的各种抗干扰措施,实现了LED光电参数的在线测试。     

基于LabVIEW的LED光源的光谱及色度检测研究

介绍了一种基于高级图像编程语言（LabVIEW）的发光二极管（LED）的发光光谱及色度参数的检测。介绍了对LED光源光谱及色度检测的原理及测试方法,详细说明了怎样基于LabVIEW在此检测系统应用中软件功能的实现,并附上相关的实验结果加以说明。结果证明所提出的快速测试LED发光光谱及色度参数的方法的可行性和优越性。     

自驱动关节臂坐标测量机关节角度实时测量系统

针对传统的光电编码器角度测量方法无法满足自驱动关节臂坐标测量机角度高精度实时测量的问题,设计了基于FP GA组合设计方法的光电编码器角度实时测量系统,由原理图输入设计的抗扰动模块、Verilog HDL语言设计的四倍频辨相计数模块、Qsys搭建的数据传输模块和Visual Studio设计的软件模块组成.通过与数字采样...     

机载光电稳定平台检测技术的研究

给出了机载光电稳定平台的检测技术及方法,并提出了一种动态靶标的结构方案及原理,使其能够进行静态、动态的参数测试,尤其是可见光和红外成像系统同时工作时各种参数的测试。在此基础上为建立测量基准的传递方法、形成系统的光电侦察平台总体检测技术提供必要的准备和基础。着重阐述了机载光电稳定平台的静态、动态时的角度测量方法,首次提出了一种利用光线对接方法,实现可见与红外同时测量。还提出了一种数学计算方法,通过两个角度的测量和空间矢量法计算,得出动态靶标的空间坐标,以此作为机载光电稳定平台的指向坐标的真值,并给出了动态靶标的静态与动态精度的标定方法。     

LED光源发光特性连续测试系统的研制

基于运动导轨、多测试工位、计算机控制和LabVIEW软件开发,通过集成多种LED特性测试仪器,开发一套LED光源综合发光特性连续测试试系统,使待测的LED光源依次经过基于光强测试、基于积分球测试和基于光强空间分布测试的3个测试工位,实现LED光源的光、电、色等综合发光特性的自动连续测试。该套系统具有综合、自动、集成、连续、在线的突出优点,大大提高LED测试仪器的集成度和自动化水平,并有助于提高测试数据和结果的可靠性和准确性。     

基于电能测量的网络化智能传感器的设计与实现

基于IEEE1451智能传感器标准,以ADI公司的ADuC7027微处理器为核心芯片设计了网络化智能电能传感器,开发了硬件系统和软件系统,搭建了电能传感器的测试平台,对电能传感器的响应时问和电参数测量精度进行测试,以验证电能传感器原型的可行性。     

基于自动测试系统的ADC测试开发

A／D转换器（ADc）是混合信号系统中的重要模块，是电子器件中的关键器件。随着器件时钟频率的不断提高，如何高效、准确地测试ADc的动态参数和静态参数是当今ADc测试研究的重点。本文阐述了ADC的静态和动态参数测试，并在自动测试系统的ADC测试过程中，深入分析了ADC测试环境的配置，从而实现了一种低成本、高可靠性的ADC计算机辅助测试方法，并在BC3192VS0测试系统上得到了验证。     

RoboCup小型足球机器人测速系统研究

为了实现对RoboCup小型足球机器人的实时测速,设计了一种采用光电编码器和现场可编程门阵列(FPGA)实现的测速系统.采用FPGA作为控制芯片,以可编程单芯片系统(SOPC)的设计方法进行设计,嵌入NIOS Ⅱ处理器,利用FPGA的硬件可编程的特点设计各个功能模块,并且采用了M法进行测速,精度高、实时性好.系统实现了...     

LED中荧光材料量子效率测量系统的设计

LED作为新兴光源,与传统的白炽灯光源相比,具有很大的优势。衡量其荧光材料发光性能的一个重要参数就是量子效率。为了准确地测量荧光材料的量子效率,提出了一种基于半积分球装置的量子效率测量系统。该系统采用了中心波长为465nm的蓝光LED芯片作为激发光源,与直径为150mm的半积分球和直径为150mm、中心孔直径为8mm的平面反射镜搭配使用,运用光纤和线阵CCD光谱仪采集光谱数据,并进一步计算出量子效率。为了验证系统的有效性,分别采用两种不同的荧光材料对测量系统进行测试,测量结果与厂商所给的数值基本一致。实验结果表明,该测量系统能有效地评估LED中荧光材料的发光性能。     

基于红外光电传感器的转速测量系统设计

该文设计了以AT89C51单片机为核心的一种基于红外光电传感器的智能转速测量系统。系统采用红外光电传感器采集信号,利用整形电路获取转数计数器的计数脉冲,通过单片机进行数据处理,最后用LED数码管对测量结果进行显示。研究结果表明,该系统硬件电路简单、精度高、抗干扰能力强、测量速度快。     

Multiple parametric nanoscale measurements with high sensitivity based on through-focus scanning optical microscopy

High-throughput through-focus scanning optical microscopy (TSOM) involves defocusing along the optical axis and capturing a series of defocus images and is useful in optical nanoscale measurement. However, TSOM is usually affected by its optical and mechanical noises. In this study, the issue of sensitivity and application in three-dimensional (3D) multiple parameter measurement of TSOM is investigated. First, a TSOM system with objective scanning and its relative simulation algorithm are proposed. Second, based upon the system and algorithm, an experiment on an isolated Au line is performed and the corresponding matching library is established. Comparing the experimental TSOM image and simulated TSOM images of the library, 3D multiple parameter results of the Au line are extracted. Third, the precision of the system is analysed through a fidelity test particular for through-focus images. According to this study, the system is robust to the optical and mechanical noises and hence could be useful in 3D multiple parametric measurement and high-volume nanomanufacturing.