泰克让测试设备变得更有洞察力

从移植性测试到调制性测试 随着数字射频、嵌入式系统、高速总线速度的提高和类型的复杂,速度更快的混合信号示波器（MSO）正变得越来越重要。在执行4GHz以上的模拟调试的同时,查看千兆位速率的多条总线的数字特征,变得至关重要。这使得设计人员需要更高性能的测试设备。     

基于ASIC的直接数字频率合成器前端设计与实现

对基于ASIC设计流程的直接数字频率合成器(DDS)进行系统架构以及模块划分和算法分析;利用Verilog HDL进行RTL级功能仿真与测试平台的编写;完成模块中所有数字部分的设计、仿真,直至综合优化和时序分析的全过程.为满足高频率和低抖动的要求,需要反复综合,并充分考虑速度和面积等方面的影响;最后,对采用DDS实现数字调制进行了功能仿真与测试.     

全面的实时测试和调试解决方案让您从容应对设计挑战

高速数字系统的设计挑战随着嵌入式技术的发展,数字系统设计要求的速度越来越快,特别是在信号调试方面需要的速度更高。高速串行系统调试使工程师需要面临最重要的环节就是信号完整性测试。信号完整性是数字信号和模拟信号在传输的过程中没有任何的损耗,即传统意义上的一致性测试。对任何电路来说,即使只有一个放大器,也会涉及到信号完整性问题,特别是在高速情况下,外界因素的影响、逻     

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

R■数字锁相接收机

在连续波多侧音体制的距离、距离变化率测量系统中。采用数字锁相接收机,可直接估算飞行目标的距离和速度值。接收机体制的变化使接收机调正简便,工作可靠,同时系统得到简化,精度得到提高。本文重点介绍了数字锁相环、数字锁相接收机的数学模型,以及模型的数字实现和指标测试结果。     

通向快速数字化测试的解决方案——泰克实时频谱分析仪及其在RFID测试中的应用

为了更好地推进各类数字RF应用的测试工作,泰克公司举行新闻发布会,推出了AWG5000任意波形发生器。最新的AWG5000可以满足客户的需求,提高了测试效率,降低了测试成本,为各类数字RF技术的验证提供了理想的选择。泰克公司推出的超高性能DSA70000系列实时频谱分析仪和业界速度最高的多功能探头P7500,构成了新一代高速串行数据测试平台的核心。这样,数字新世界的研发工程师们将拥有更快解决难题、加速将创新推向市场的能力。泰克公司还致力于RFID测试需求的研究,将实时频谱分析仪应用于RFID测试,为RFID测试人员提供了非常方便的测试手段。     

CMOS数字IC管脚电容的估算与测量

针对CMOS数字IC管脚电容的测试问题,从标准规定、规范规定的角度进行了分析;利用最小阻抗通路法对管脚电容在各种偏置情况下的量值进行了估算;并结合LCR测量仪的测试原理,解释了与CMOS数字IC端电容测试相关的疑问,得出了电容只需简单测试即可的结论.     

信号发生器满足数字RF基带和IF测试需求

作为一项将数字计算技术与传统模拟射频技术整合到一起的技术,"数字RF"是推动新型无线应用发展的主要驱动力.特别是随着数字RF性能不断提高,信号速度和复杂性也在不断提升.因此,突发、跳频和瞬态现象也使验证和调试工作变得非常困难.由于需要在一台设备中融合数字和模拟信号处理技术,如模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)和RF等功能,数字RF的应用也带来了特殊的测试要求.     

安捷伦连推多款高端仪器 领跑行业技术发展

安捷伦公司一直秉承这样的理念,即安捷伦的技术实验室和高速数字测试专家密切合作为客户提供突破性技术,同时为客户提供无与伦比的信号纯度和同类最快速度的产品,这也成为安捷伦的一个关键策略。为此,每年安捷伦向实验室和研发部门投入巨资来开发突破性的技术,以解决客户在研发下一代设备时面临的测量挑战。在这样的理念下,也就不难理解为什么安捷伦科技公司副总裁、电子测量事业部数字测试部总经理Siegfried Gross先     

DDS自动测试技术研究

重点研究了如何快速又精确地输出DDS的测试值并使测试值符合测试规范.基于NI卡板、信号分析仪、示波器和信号发生器,对DDS的特性参数进行测试研究.信号发生器提供时钟信号与比较器输入;信号分析仪对频域和调制域信号进行测试;示波器对时域信号进行测试;通过IabViEW编程得到DAC数字正弦波和输入数字码并实现测试自动化;最后将结果返回计算机,测试结果符合规范.实验证明,在实际应用中该方法快速精确并具有很好的通用性,可拓展到其他芯片的测试.     

新闻

泰克公司为TDS3000数字荧光示波器(DPO)推出两种新模块-TDS3TMT和TDS3EM。TDS3000数字荧光示波器配备了新的TDS3TMT应用模块后,以每条通道最低价格,以45Mb/s的高速测试数字网接口线路卡,提供给电信网络制造业工程师以前所未有的速度能力。TDS3TMT模块可以用来测试E1/DS1、在ITU—T G.703E3/D3HE和ANSI T1.102标准,以及在这些标准上的用户自定的标准。示波器业务部副总裁DavidChurchill说:“TDS3000数字荧光示波器结构明显地减少测试时间,允     

继电保护数字物理混合动态仿真测试系统分析

为提高继电保护可靠性,减少电力系统故障发生率,降低系统失稳所带来的经济损失与社会影响,提出数字物理混合动态仿真测试系统。首先,根据继电保护与仿真测试系统现状,确定数字物理混合动态仿真测试系统开发需求与整体思路;其次,从硬件系统、软件系统等层面对数字物理混合动态仿真测试系统的设计方案与实现技术进行阐述;最后,通过实际测试,验证该系统运行稳定性,评价该系统在距离保护、继电保护整定值校核等方面的应用效果。希望此次探究能够在一定程度上为相关研究与实践操作提供指导。     

泰克AWG系列应对数字RF应用挑战

混合信号开发环境中的设备测试,是下一代全球通讯网络、计算技术所带来的关键问题,采用数字RF技术实现的无线通信系统,把数字计算技术与传统模拟无线频率技术集成起来,串行通道与并行通道同时应用,使信号速度和复杂性不断提高,突变、跳     

数字注入式红外实时仿真技术研究

介绍了新研制的数字注入式红外成像仿真系统中采用的一些实时仿真技术,主要包括:通过多线程技术实现监听、仿真计算、结果输出等多任务的实时调度;通过光纤反射内存网实现实时通讯;通过乒乓缓存、DirectDraw实现红外图像的实时平滑显示;通过主控猝发DMA传输提高仿真结果输出速度.测试结果显示,上述方法能有效提高仿真实时性.     

DB791型数字电平表

一、概述 DB791型数字电平表是自动测试电报信号的数字式仪表,可显示三位数字.被测信号频率范围为300赫～10千赫;信号电平测量范围为+11分贝至-70分贝;测试速度为1.2秒;测量精度为±0.4分贝.本仪表专为自动化测试而设计,有数据输出,供电传打字机打印电平数值,能配合电报自动化测试. 图1是该电平表的原理方框图.模拟信号通道的作用是将被测信号变换成某一电平范围内的直流信     

数字闭环光纤电流传感器暂态特性仿真研究

数字闭环光纤电流传感器暂态特性主要包含频率响应与阶跃响应,对于电力系统的继电保护控制、故障录波等应用领域至关重要。在工程应用中,传统的测试方法由于其测试系统复杂、测试电流信号小等问题,不利于评估光纤电流传感器的暂态特性。利用数字闭环光纤电流传感器的闭环控制机理,提出一种在数字闭环光纤电流传感器反馈回路中添加相位调制激励的方法。首先,分析数字闭环光纤电流传感器的相位调制原理,通过建立数学模型验证相位调制激励的等效性;其次,根据数字闭环光纤电流传感器闭环控制算法,提出频率响应与阶跃响应的调制激励产生方法;最后,利用现有数字闭环光纤电流传感器产品平台完成频率响应与阶跃响应的仿真与测试。结果表明:采用相位调制激励的仿真数据与试验数据最大误差为0.12%,该调制激励方法不需要搭建复杂的测试系统,在现有硬件平台中即可实现不同电流信号的仿真测试。     

器件测试

Integra J750测试系列在测试头专用系统中备有512或1024个数字脚。它可提供特性齐全的100MHz数字能力,包括定时、定格式及动态周期转换;备有图形控     

一种采用数字激励测试的MASH结构ΣΔ模数转换器

介绍了一种采用数字激励源测试的MASH(MultistAge noise SHaping)2-2结构ΣΔ模数转换器。为了简化测试过程,降低测试成本,该模数转换器加入辅助测试电路,无需高精度的测试仪器,仍可测得ΣΔ模数转换器性能参数。文中对采用数字激励源测试的原理进行阐述,并对MASH2-2结构ΣΔ模数转换器进行设计。该转换器采用1st Silicon0.25μm1P4M工艺,在电源电压3V,过采样时钟频率6.144MHz的条件下,利用传统的模拟测试和数字激励源测试证明其在0~20kHz频率范围内,SNDR>89dB。测试的结果证明了采用数字激励测试方案的正确性。     

精确、迅速、简单：R＆S公司示波器的时钟和数据信号抖动分析功能

为可靠地测试信号的完整性，开发人员需要功能强大的测试仪器。R＆SRTO示波器具有超群的低噪声模拟前端、高动态范同ADC，高波形捕获和分析速度和触发抖动极低的数字触发系统。除自动的抖动测量外，新的R＆SRTO-K12抖动分析选件还提供广泛的智能测试功能。     

通用数字电路板测试系统硬件设计

针对传统依靠人工使用示波器、万用表、逻辑分析仪等设备对数字电路板进行测试具有过程复杂、工作量大、可靠性低等缺点,介绍一套通用数字电路板测试系统的硬件设计方案。跟传统数字电路板测试系统相比,文中的设计性能参数更优,主要包括:测试频率最高50 MHz并可调为100 MHz的整数分频;测试电平兼容-6~+9 V且可编程步长为100 mV;测试通道32路,每通道可设为输入输出三态可选且同步工作,存储深度1 Mbit,电流驱动能力达50 mA并有过载保护。