迈克尔逊干涉仪实验中易出现的问题之探讨

迈克尔逊干涉仪实验是大学物理实验课程中重要的实验之一,由于教材描述比较简单,学生在调节迈克尔逊干涉仪时经常会遇到各种各样的困难。本文对在迈克尔逊干涉仪的调节和使用中易出现的几个问题进行了细致的分析和探讨,并给出了解决方案。     

迈克尔逊干涉仪测薄膜厚度特殊实验现象的分析与数据论证

在利用迈克尔逊干涉仪等厚干涉现象测定透明玻璃薄膜厚度过程中会出现一种特殊的实验现象,即当动镜M1移动到某一位置时,薄膜边缘与边框间的空气部分会出现彩色条纹,对该实验现象产生的原因分析,并通过实验验证了此结论的正确性.     

对迈克尔逊干涉仪等倾成像特性研究

对迈克尔逊干涉仪上形成的等效光源做详细的分析,指出等倾干涉条纹出现椭圆的原因并指明调整思路.     

迈克尔逊干涉仪干涉机理的解析法与图解法

针对大学物理及物理实验教材中的不足，从波动理论出发，对迈克尔逊干涉仪产生各种干涉条纹的干涉机理用解析法和图解法进行分析并作比较。     

迈克尔逊干涉仪干涉机理的解析法与图解法

针对大学物理及物理实验教材中的不足 ,从波动理论出发 ,对迈克尔逊干涉仪产生各种干涉条纹的干涉机理用解析法和图解法进行分析并作比较     

迈克尔逊干涉仪干涉机理的解析法与图解法

针对大学物理及物理实验教材中的不足,从波动理论出发,对迈克尔逊干涉仪产生各种干涉条纹的干涉机理用解析法和图解法进行分析并作比较.     

迈克尔逊干涉仪调节方法的改进

本文分析了迈克尔逊干涉仪测光波波长产生误差的原因，并对其调节方法作出改进，从而减少了测量误差，提高了测量精度。     

用迈克尔逊干涉仪测定透明介质的折射率

提出用迈克尔逊干涉仪等倾干涉法测定透明介质的折射率。实验证明,这种方法是有效和简便的,是对迈克尔逊干涉仪实验内容有益的补充。     

用迈克尔逊干涉仪测量纳米级薄膜厚度的研究

通过实验，介绍了如何利用波动光学原理和迈克尔逊干涉仪测量纳米膜厚度，为纳米技术和纳米材料的研究打开了新思路，提供了新方法。     

基于迈克尔逊干涉仪的波长自动测量装置的设计及演示

用迈克尔逊干涉仪、光敏电阻、角位移传感器、电动机、单片机和计算机组装了一套光波长自动测量装置.该装置不仅能够自动、精确地测量激光波长,还可以演示测量结果随测量环数的增加而趋于正态分布的规律.     

光纤Michelson干涉仪的声发射检测实验研究

提出了一种基于Michelson干涉仪原理构成的非接触式光纤超声传感系统,用于固体中传播的超声波的检测．这种传感器的特点是能够精确地检测由固体中传播的超声波产生的微弱振动．当超声波信号导致反射器振动时,干涉仪的输出光强度受到了超声信号的调制．通过检测干涉仪的输出光强度,并利用Fourier变换,测得了超声信号的振幅和频率．对传感系统的位相调制特性进行了仿真,并对实验结果进行了分析,表明该系统可用于固体中声发射的频率特征识别．     

基于光谱型白光干涉仪的绝对距离测试研究

采用微型光纤光谱仪记录宽波段(450～900 nm)下的光谱干涉图,提出一种解包络线的方法来提取相位主值,同时由总光程差与棱镜折射率成正比的关系进行相位解包裹.由线性关系的斜率和截距分别求解得到棱镜的等效厚度和两参考镜之间的绝对距离.利用该方法测试了参考镜在不同位置处的距离,结果与千分尺数值之间的偏差小于1%,同时获得了99.9%的线性度.还测试了BK7玻璃的厚度,与其他方法相比,其精度达0.21%.分析了影响测试精度的因素,并对测距范围进行了讨论.     

用Michelson干涉仪测量光折变聚合物折射率调制度

利用Michelson干涉仪的工作原理及光折变聚合物的光敏特性,提出了用Michelson干涉仪直接测量光折变聚合物折射率调制度的方法。利用制作的光折变聚合物样品,测得的数据与文献报道一致,分析了测量误差的影响因素,实验误差为3.78%,进而验证了该方法的可行性,并可以发展为光聚合物折射率调制度测量的通用平台。     

迈克耳孙干涉仪测薄透明体厚度和折射率

提出用迈克耳孙干涉仪同时测量薄透明体厚度和折射率的新方法．根据本方法，当插入迈克耳孙干涉仪光路中的被测透明体与光路呈不同夹角时，对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化定量测量．推导出圆环数、薄透明体与光路夹角、厚度、折射率关系，据此可测得薄透明体厚度和折射率．使用此方法，光学系统只需在测量前校准，测量中不再变动，可进一步降低系统误差．     

点光源条件下迈克尔逊非定域干涉条纹的分析

迈克尔逊干涉仪常用于观察分振幅干涉条纹,但极少有人对条纹线型进行严格的分析讨论。笔者对点光源条件下迈克尔逊非定域干涉条纹的空间曲线方程进行了计算和分析,得到圆、椭圆、抛物线、双曲线和直线5种形式的条纹线型。进一步对产生不同线型的原因进行了分析计算,证明出现何种条纹与2个平面反射镜中虚光源的相对方位有关。     

光纤Mach-Zehnder干涉仪臂长差的精确测量

提出了一种光纤Mach-Zehnder干涉仪臂长差的精确测量方法.理论分析表明,采用白光光纤Michleson解调干涉仪,白光干涉相邻峰值之间的距离为Mach-Zehnder干涉仪两臂光程差的一半.利用改进的干涉条纹观测系统和高精度的位移发生系统,提高了白光干涉峰值信号的识别精度,使Mach-Zehnder干涉仪臂长差的测量分辨率和精度分别达到了1 μm和10 μm.     

白光散斑测试技术

从实际应用的需要出发,对改善白光散斑技术的测试效果在实验方法上进行了详细的探讨。结果表明,改进后的白光散斑技术可用于现场大范围位移的测试,且干涉条纹质量及测量精度有了很大的提高。     

迈克尔逊干涉仪测波长的最佳区间的讨论

用迈克尔逊干涉仪的点光源非定域干涉测氦氖激光的波长时 ,其值总是偏大。笔者通过理论分析并结合具体实验找出产生误差的主要原因是由于两主镜面M1和M2 无法严格垂直造成的。并且得出了用迈克尔逊干涉仪测氦氖激光波长的最佳区间