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SF6气体密度表作为电网体系中一次设备的重要监测设备,其可靠性关乎变电设备的安全运行。为了确保SF6气体密度表的可靠运行,有必要对其可靠性和寿命进行评估,而恒定应力加速寿命试验方法是结构复杂机械产品可靠性评估的有效方法之一。本文分析了SF6气体密度表的加速应力和正常应力水平,确定了多应力加速寿命试验方案,利用Weibull寿命-应力模型综合估计了SF6气体密度表的中位寿命、特征寿命、可靠寿命、平均寿命及相应的失效率,得到了其正常应力下可靠度曲线,为SF6气体密度表生产制造和使用维护提供了理论依据和数据参考。 相似文献
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加速寿命试验与电能表的可靠性试验方法 总被引:1,自引:1,他引:0
现行电能表相关标准对电能表的可靠性与寿命提出了相关要求,然而,相应的测试方法非常费时.本文在介绍了可靠性与加速寿命试验的一般理论基础上,结合电能表的应用环境,首次提出采用高温高湿环境实现加速寿命测试的方法用以评估电能表的可靠性,该方法在实验室中用10台样机进行10天左右的时间,可以验证电能表10年的平均寿命,从而大大可以减少试验时间并在浙江正泰仪表公司内部开展了验证.在此基础上,本文还探讨影响电子式电能表寿命的LCD、电池和电容等元器件的寿命评定方法. 相似文献
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大功率LED由于其寿命长等优点被广泛应用于室内照明、城市照明等场所,但其发热较多,致使结温升高,寿命缩短.文章简要介绍大功率LED寿命的定义和加速寿命测试方法最新进展;在理论上建立LED寿命预测的数学模型,理论基础是光通量衰减模型、阿伦尼斯方程和激活能,并提出了LED寿命的试验检测方法,关键是结温和光输出的测量;最后介绍如何根据这些数学模型推算LED光源的平均寿命. 相似文献
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LED是继传统光源之后的新型光源,它高光效、节能、单色性、高可靠性的特点使其广泛应用于各类领域。LED不仅在照明领域发展迅速,更逐渐在提高人类生活质量的其他方面崭露头角,例如:LED美容灯,提高工作效率的特殊灯具以及其他各种应用在农业、生物、医学领域的产品等等。与此同时,各测试机构或团体参考各种相关标准对LED的安全性能进行评估。随着国际上LED安全标准相继推出,无安全标准的时代已宣告结束。本文简要介绍CIE和IEC有关LED光生物安全性标准,并说明LED在帮助改善非规律工作人群生活上的特殊应用。 相似文献
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针对目前的寿命评估方法不能满足高可靠、长寿命以及多故障模式竞争的电力电子器件寿命评估需求,提出了基于性能退化的电力电子器件寿命评估方法。通过收集电力电子器件的性能退化数据,建立其性能退化模型和寿命分布模型,给出性能退化模型和寿命分布模型的模型参数估计、模型拟合优度检验以及模型优选方法。考虑到电力电子器件具有多个性能参数的退化,提出电力电子器件竞争失效模型,实现对高可靠、长寿命以及多故障模式竞争的电力电子器件寿命快速评估。以某型绝缘栅双极型晶体管为例开展寿命评估,评估结果和试验结果差距较小,验证了该方法具有良好的准确性和有效性。 相似文献
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针对目前的寿命评估方法不能满足高可靠、长寿命以及多故障模式竞争的电力电子器件寿命评估需求,提出了基于性能退化的电力电子器件寿命评估方法。通过收集电力电子器件的性能退化数据,建立其性能退化模型和寿命分布模型,给出性能退化模型和寿命分布模型的模型参数估计、模型拟合优度检验以及模型优选方法。考虑到电力电子器件具有多个性能参数的退化,提出电力电子器件竞争失效模型,实现对高可靠、长寿命以及多故障模式竞争的电力电子器件寿命快速评估。以某型绝缘栅双极型晶体管为例开展寿命评估,评估结果和试验结果差距较小,验证了该方法具有良好的准确性和有效性。 相似文献
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Takao Nakamura 《Electrical Engineering in Japan》2006,154(4):42-48
We have demonstrated ZnSe‐based white light emitting diodes (LEDs) with longer lifetimes of over 10,000 hr at 14.5A/cm2 by introducing an i‐ZnMgBeSe/p‐ZnMgSe double cladding structure, which includes a very thin i‐ZnMgBeSe layer for suppressing electron overflow and a p‐ZnMgSSe layer for efficient p‐type carrier concentration. By adopting the double cladding layer instead of only the conventional p‐ZnMgSSe cladding layer, rapid degradation is suppressed and the lifetime tendency becomes similar to that of the LEDs consisting of a III‐V semiconductor system. The device simulation and the temperature dependence of optical power showed that the i‐ZnMgBeSe layer played the main role in increasing electron confinement. Our experimental data and reliability test results indicate that the suppression of the electron overflow is essential to achieve a long lifetime acceptable for practical use. © 2006 Wiley Periodicals, Inc. Electr Eng Jpn, 154(4): 42–48, 2006; Published online in Wiley InterScience ( www.interscience.wiley.com ). DOI 10.1002/eej.20285 相似文献
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The test duration of semiconductor lasers required for Telcordia reliability qualification is usually lengthy. An alternative accelerated life test to validate the reliability design is critical for the timely deployment of new products. In this paper, the results of fitting time-to-failure extrapolations based on experimental data from 500-5000-h measurements are compared. It is shown that, for buried-heterostructure lasers that exhibit gradual performance degradation, the lifetime predictions based on 500-1000-h experimental data are consistent with those based on 5000-h data. For ridge-type lasers, little degradation occurs; hence, an early reliability prediction is less accurate. The determining factors that affect the accuracy of the early reliability predictions are discussed. 相似文献
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智能电能表是电力贸易结算的主要度量设备,其可靠性关系到产品电力企业与制造企业,电力用户与电网企业之间的安全性、经济性以及公正性等问题。智能电能表可靠性试验作为一种评估、提高可靠性的有效方法,贯穿了设计、制造、交付、使用、维护整个寿命周期,并随着不同的使用目的衍生出了一系列专用可靠性试验,具有广阔的研究和使用场景。简述了可靠性试验的发展历程,结合智能电能表发展过程综述了在学术界、制造业、用户方对智能电能表可靠性研究的研究历程,展望了在与国际接轨后满足IR46标准新一代电能表可靠性工作。 相似文献