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空间辐射环境探测可减轻或避免辐射环境对航天器和宇航员的危害,已成为近年来各航天大国研究空间环境的热点.对空间辐射环境进行探测的探测器较多,包括气体探测器、闪烁体探测器和半导体探测器,半导体探测器具有能量分辨率高、探测效率高等优点,已逐渐取代其他两种探测器.金刚石辐射探测器是半导体探测器的一种,具有探测精度高、耐候性好、无需制冷、寿命长以及抗辐射能力强等优点,特别适合长周期、强辐射的深空探测.同时,金刚石禁带宽度大,不响应可见光,可实现日盲观测,已被欧洲空间局(ESA)用于太阳紫外辐射探测.俄罗斯工业技术中心在多种粒子复合探测方面正在研制宇宙射线光谱仪,尽管探测能区集中在中高能,但该光谱仪可实现电子、质子和重粒子的复合探测.基于目前金刚石辐射探测器在单粒子辐射探测中的应用及空间复杂的多种粒子辐射环境,我国的空间辐射环境探测研究应通过设计基于多层金刚石膜的单粒子辐射探测器来提高探测器的能量分辨率,再构建探测器矩阵进行多种粒子复合探测,将人工神经网络算法引入数据处理过程,以拓展探测范围到低能区,实现全能量范围粒子的探测,从而为开展金刚石探测器在空间站、深空辐射环境探测等领域的应用探索奠定基础. 相似文献
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空间辐射环境探测可减轻或避免辐射环境对航天器和宇航员的危害,已成为近年来各航天大国研究空间环境的热点。对空间辐射环境进行探测的探测器较多,包括气体探测器、闪烁体探测器和半导体探测器,半导体探测器具有能量分辨率高、探测效率高等优点,已逐渐取代其他两种探测器。金刚石辐射探测器是半导体探测器的一种,具有探测精度高、耐候性好、无需制冷、寿命长以及抗辐射能力强等优点,特别适合长周期、强辐射的深空探测。同时,金刚石禁带宽度大,不响应可见光,可实现日盲观测,已被欧洲空间局(ESA)用于太阳紫外辐射探测。俄罗斯工业技术中心在多种粒子复合探测方面正在研制宇宙射线光谱仪,尽管探测能区集中在中高能,但该光谱仪可实现电子、质子和重粒子的复合探测。基于目前金刚石辐射探测器在单粒子辐射探测中的应用及空间复杂的多种粒子辐射环境,我国的空间辐射环境探测研究应通过设计基于多层金刚石膜的单粒子辐射探测器来提高探测器的能量分辨率,再构建探测器矩阵进行多种粒子复合探测,将人工神经网络算法引入数据处理过程,以拓展探测范围到低能区,实现全能量范围粒子的探测,从而为开展金刚石探测器在空间站、深空辐射环境探测等领域的应用探索奠定基础。 相似文献
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单粒子效应对航天器的威胁及空间飞行试验评论(一) 总被引:2,自引:0,他引:2
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果,对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。 相似文献
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单粒子效应对航天器的威胁及空间飞机试验评论(二) 总被引:1,自引:0,他引:1
列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果,对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。 相似文献
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列举了若干航天器因单粒子效应而出现的异常或故障。阐述了单粒子效应空间飞行试验方法和预估方法。总结了多颗航天器单粒子效应空间飞行试验结果。依据空间飞行试验结果,对静止卫星、低太阳同步轨道卫星和椭圆轨道卫星在太阳宁静和太阳耀斑期间单粒子效应作了比较。 相似文献
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在大型半密闭空间内发生具有不同粒度分布的水雾体系,用喷雾激光粒度仪测试粒度分布规律并采用Van Der Hulst公式计算不同大小水雾粒子对红外辐射的散射效率因子、吸收效率因子和消光效率因子。结果表明:试验条件下水雾粒子的平均直径在5~65μm范围内。计算结果显示:水雾粒子对3~5、8~14μm红外辐射的消光作用主要取决于散射效应而非吸收效应。当水雾粒子的直径大于等于红外辐射的波长时,水雾体系对该波长红外辐射能够产生较强的消光效果。综合分析水雾体系的稳定性和消光特性,直径在3~30μm之间的水雾粒子对3~5、8~14μm红外辐射的衰减效果更为明显。 相似文献
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Brignon A Richard S Gusarov A Berghmans F Georges M Thibert T Lien Y 《Applied optics》2007,46(22):5329-5335
Optical phase conjugation (OPC) provides a means of dynamical correction of thermally induced aberrations in high-power laser systems. This method is particularly interesting for space applications because it is passive, mechanically simple, and allows for improved beam quality with only a small loss in power. To exploit it one has to assess the effect of the space environment, and in particular of space radiation, on the properties of the materials that are suitable for phase-conjugating mirrors (PCMs). We have investigated both materials providing OPC via stimulated Brillouin scattering and actual PCMs with regard to their radiation hardness. Proton- and gamma-irradiated PCMs in the form of 30-cm long silica rods and 5-cm long TeO(2) crystals were tested in a single frequency flash-lamp pumped Nd:YAG system delivering up to 220 mJ pulses with a 20 ns duration at a 50 Hz repetition rate. The difference in the reflectivity between irradiated and nonirradiated components was found to be within the measurement errors. Gamma irradiation of TeO(2) resulted in a decrease of the laser-induced damage threshold, while for silica possible changes were below the detection limit. Our results show that synthetic fused silica, and Lithosil in particular, can be used for generating the OPC in laser systems operating in a space radiation environment. 相似文献
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玻璃空间电离辐照着色损伤动力学研究 总被引:1,自引:0,他引:1
空间电离辐照主要由能量连续变化的粒子组成, 绝大多数粒子穿透能力小, 因此, 空间电离辐照对玻璃的着色损伤必然随深度而呈现一种复杂的变化, 针对这一现象, 并且考虑到玻璃中色心的弛豫消失, 本工作建立了一种适用于玻璃空间电离辐照着色损伤动力学研究的方法. 以K9-HL玻璃为研究对象, 利用空间电离辐照作用在玻璃中随深度变化的Monte Carlo模拟结果, 研究了该玻璃在轨(近地点350 km, 远地点425 km, 轨道倾角51.6°)电离辐照着色损伤过程, 讨论了航天器用玻璃抗辐照性能考核方法, 分析了玻璃空间电离辐照着色损伤的深度分布, 提出了航天器用玻璃材料抗电离辐照损伤加固的关键点. 此外, 对不同石英玻璃防电离辐照层保护的K9-HL玻璃在轨光学性能做了研究. 相似文献
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Reitz G 《Radiation protection dosimetry》2006,120(1-4):387-396
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S. B. Umesh S. R. Kulkarni R. Sandhya G. R. Joshi R. Damle M. Ravindra 《Bulletin of Materials Science》2005,28(5):473-476
Several very large scale integrated (VLSI) devices which are not available in radiation hardened version are still required
to be used in spacecraft systems. Thus these components need to be tested for highenergy heavy ion irradiation to find out
their tolerance and suitability in specific space applications. This paper describes the high-energy heavy ion radiation testing
of VLSI devices for single event upset (SEU) and single event latch up (SEL). The experimental set up employed to produce
low flux of heavy ions viz. silicon (Si), and silver (Ag), for studying single event effects (SEE) is briefly described. The
heavy ion testing of a few VLSI devices is performed in the general purpose scattering chamber of the Pelletron facility,
available at Nuclear Science Centre, New Delhi. The test results with respect to SEU and SEL are discussed. 相似文献
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