共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(Coating)。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达优的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度都有了明确的要求。 覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法,磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂… 相似文献
3.
纳米薄膜厚度的X射线测量 总被引:5,自引:0,他引:5
研究了通过小角度X射线衍射(XRD)技术测量纳米薄膜沉积厚度与沉积速率的方法,并测定了在SiC表面沉积Fe纳米薄膜的厚度和沉积速率。结果表明,采用小角度XRD技术测量纳米薄膜厚度和沉积速率,能克服基片性质、表面平整度和金属膜氧化的影响,准确、方便地测量纳米薄膜的厚度和沉积速率。 相似文献
4.
5.
对高压环境中聚合物玻璃化转变温度(Tg)测量方法的现状与进展进行了综述。在常压测量法基础上发展起来的高压测量方法主要有:高压差示扫描量热法(HP-DSC)、蠕变柔量法等;原位光学法则是新近发展起来的一种非接触式测量方法。随着超临界流体技术与应用的发展及仪器科学自身的不断进步与完善,必将涌现出更多先进的测量技术与方法。 相似文献
6.
有的热电偶(如铂铑-铂、镍铬-考铜等热电偶)测量温度时,其内阻随温度的变化有较大的变化,从而给温度测量带来一定的误差。因此,必须测量该热电偶的动态电阻,本文介绍两种测量方法——电桥测量法和万用表测量法。 相似文献
7.
8.
9.
10.
透明致密ZnO薄膜的恒电流沉积及生长过程研究 总被引:2,自引:0,他引:2
采用阴极恒电流沉积方法, 以Zn(NO 3)2水溶液为电沉积液, 在经电化学预处理后的ITO导电玻璃上生长了具有c轴高度择优取向、均匀致密的透明ZnO薄膜. 采用X射线衍射、扫描电镜和光学透过谱等技术, 对不同沉积时间条件下薄膜的结晶特性、表面和断面结构、光学性质等进行了研究. 结果表明, 沉积时间对ZnO薄膜质量影响明显: 在薄膜生长后期(120min), ZnO薄膜的结晶性和表面平整度明显降低, 晶粒尺寸增大, 可见光透过率下降, 表明高质量ZnO薄膜的电化学沉积有一最佳生长时间; 此外, 薄膜厚度随时间呈线性变化, 表明可通过生长时间实现对ZnO薄膜厚度的精确控制. 相似文献
11.
骨量的测量方法较多,大致可分三类,即形态学法、X线照片密度测量法和CT及光子吸收测量法,其中以测量骨皮质厚度的形态学法简便易行. 相似文献
12.
13.
本文研究测量PVD(物理气相沉积)镀膜与基材结合力的一种新方法——动态拉伸法。即在扫描电子显微镜(带有微型拉伸实验台)下观察产生恒应变的试样表面镀膜的裂纹萌生、扩展及脱落过程,并根据不同形变量来判断其结合力的差异。此种方法可以直接观察得到半定量的测量结果。 相似文献
14.
阐述了机械结构间同轴度、光轴间同轴度、光轴与机械轴间同轴度的定义,介绍了引伸计同轴度
测量方法、应变计同轴度测量方法、百分表同轴度测量方法、三坐标测量机同轴度测量方法、激光对中仪法等
机械结构间同轴度测量方法的原理和优缺点;分析了干涉比较测量法、反射式定心测量法、透射直接测量法等
光轴间同轴度测量方法的特点;介绍了基于图像处理和机器视觉技术的光轴与机械轴之间同轴度测量方法的原
理及应用。指出机械结构间同轴度的测量方法较为传统,存在测量效率低、需要人为判断等缺点;同轴度测量
技术将向高精度、自动化、非接触的方向发展。 相似文献
15.
等离子增强化学气相沉积法(PCVD)是在物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)基础上发展起来的一种沉积方法。它兼有 PVD 和 CVD 方法的优点。介绍了 PCVD的原理和所研制的一台 PCVD 设备。分析了用 CVD 法和 PCVD 法制备的硬质膜的性能。所分析的性能有:显微硬度、抗弯强度、粘结牢度、机加工性能。 相似文献
16.
17.
首先对调质处理状态的H13钢进行了渗氮、物理气相沉积(PVD)镀膜、渗氮+PVD镀膜三种不同的表面处理,然后在UMT-3型摩擦磨损试验机上,对处理后的试样进行600℃的高温摩擦磨损试验,研究了不同工艺下H13钢的高温耐磨性能。结果表明:试样的磨损形式主要是粘着磨损+磨粒磨损,经表面处理后试样的表面硬度大幅度提高,摩擦系数大幅度降低;其中渗氮+PVD镀膜表面处理试样的高温耐磨性能最好。 相似文献
18.
目前,在材料的表面处理领域中,为了提高材料的耐蚀、耐摩擦、硬度高的特性,一种利用真空条件的物理气相沉积(PVD)方法引人注目。常用的在材料的表面形成薄膜的方法有电镀、涂敷、化学气相沉积(CVD)等。然而,经过电镀、化学气相沉积法处理以后,有废液、废气造成的公害问题。干式的物理 相似文献
19.
20.
介绍了利用激光光谱分析法测量介质厚度的一种高精度测量方法,与一般的测厚方法不同,测量越薄的介质.精度越高,并解释了其原理.通过激光垂直照射平板基体上的介质,利用光谱仪分析仪来精确测定相邻带波数差△(1/λ),利用简洁、方便的检测过程和计算,精确地得到介质的厚度. 相似文献