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多重暗场象和多束象是两种特殊的成象技术,较一般的成象技术有其独特的功用。多重暗场象可以快速揭示衍射花样同明场和暗场象之间的关系。使用这种方法很容易确定各衍射束对象的贡献,可以直接判定试样的某些特征的结晶学方向。多束象成象技术用于衍衬象中,可增加厚试样象的亮度,观察消光轮廓S=0处缺陷(如位错等)结构,确定位错的真实位置,根据位错或层错象确定上下膜面等。目前,这一成象技术已广泛应用于衍射衬度象中。本文叙述了这两种成象技术的原理、成象条件和实验方法。并用实例阐明了这两种特殊成象技术的应用。在通常的成象方法中,我们使用透射束(仅让透射束通过物镜光栏)形成明场象,或者使用某衍射束(仅让某衍射束通过物镜光栏)形成对该衍射束有贡献的晶体学特征的暗场象。下面我们分别介绍两种同时使用透射束和衍射束来成象的成象技术。显然,这两种成象技术常常是在多束条件下成象,并不要求双束条件。 相似文献
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3~5μm波段和8~12μm波段的红外成象技术一直是国外红外成象系统发展的重点。本文简要介绍中波段(3~5μm)成象系统国外在观测、侦察、瞄准、监视、告警、跟踪、制导等方面应用,着重比较两个波段红外成象技术在远距离探测中的优缺点,给出了相对性能在各种条件下的比较曲线;大气传输、探测器性能、光学系统,对两个波段的影响;介绍了20多年 相似文献
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本文根据X射线形貌相、扫描电镜和金相显微镜的实验结果和有关位错、相图的理论,分析了位错和亚晶界、亚晶界和X射线形貌相的关系以及住错对布里奇曼技术生长的HgCdTe体晶结构完整性的影响。因位错降低能量的要求,HgCdTe体晶中的密度位错要形成亚晶界和三维位错网络等亚结构。在X射线形貌相中,亚结构的取向衬度是比位错直接象更强的成象机构。正常凝固长晶过程中HgCdTe材料的组分要变化,并使其固液界面的温度梯度也发生相应变化,由此引入的热应力在结晶过程中会在HgCdTe晶体中产生高密度位错。位错形成的亚晶界和三维位错网络等亚结构严重破坏了BridgmanHgCdTe体晶结构完整性,这使其X射线形貌相往往不好。 相似文献
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小角度旋转目标微波成象 总被引:5,自引:0,他引:5
本文讨沦了小角度旋转目标成象技术。导出了适用于双站、单站、近场和远场成象测量条件的统一的图象再现算法;研究了超分辨力成象处理技术,并给出了一种将谱外推技术与目标粗略“形状”信息相结合的新的图象再现方法;最后,简要介绍了微波暗室成象实验结果及有关结论。 相似文献
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常用的光电跟踪方式有三种,即红外、电视及激光跟踪。红外跟踪分为成象跟踪和非成象跟踪。非成象跟踪技术包括调制盘、扫描及脉冲跟踪。成象跟踪目前有两大类:前视红外系统和红外凝视系统。成象跟踪算法基本上分两种:波门跟踪算法和相关跟踪算法。波门跟踪算法又分为边缘、双边缘中心、区域平衡和形心跟踪算法。本文详细论述了成象跟踪算法及其优缺点,并列举了它们在战术武器中的应用。介绍了几种新的成象跟踪算法,如智能自适应波门跟踪器、点模式模糊松弛匹配成象跟踪算法、差分图象跟踪算法等。文中还指出了红外成象跟踪算法的发展趋势及其在现代战争中的重要地位。 相似文献
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模拟工业计算机成象(CIG)系统的进展和希望达到很宽视场的愿望导致了对显示技术发展的需要.混合计算机成象(即有时将互相冲突的光栅法和笔划法相结合的技术)进一步推动了这种发展的需要.本文叙述在生产一种满足这些需要的投影仪时所遇到的一些问题及其解决办法.文中讨论了与离轴投影、会聚和动态光斑大小控制有关的问题。高亮度点光源。第一流的系统是采用混合计算机成象技术,它兼有上述两种技术的好处。 除了利用混合计算机成象系统的要求外,还希望利用多个投影系统提供广角显示。本文讨论对这些投影系统的要求,并描述在SRL2109型笔划法彩色投影仪中如何利用和实现上述技术。 相似文献
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最近,日本东芝公司应用完美晶体(无位错、无缺陷的晶体)对完美晶体器件技术进行了研究,并且应用该技术使低噪声线性集成电路和晶体管达到了商品化程度。下面介绍一下该技术的情况。首先要明确什么是完美晶体器件技术,它的基本概念是把基极和发射极区域尽可能地形成完美晶体或接近完美晶体状态。完美晶体有两个条件,其一是无位错(<500/厘米~2)其二是无缺陷。 相似文献
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国外水下激光成象技术现状冯包根(华中光电技术研究所武汉430073)水下激光成象系统在军事上和海洋开发中都具有重要的实用价值。本文评述水下激光成象关键技术和水下蓝绿激光技术现状,介绍两种典型的国外水下激光成象系统并指出水下激光成象技术中今后重点研究课... 相似文献
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国外水下激光成象技术现状 总被引:5,自引:0,他引:5
水下激光成象系统在军事上和海洋开发中都具有重要的实用价值。本文评述水下激光成象关键技术和水下蓝绿激光技术现状,介绍两种典型的国外水下激光成象系统,指出水下激光成象技术今后重点研究课题。 相似文献
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测量位错密度常用方法之一是割线交点法,其公式为: Q=2 MN/1t式中Q—位错密度(cm/cm~3);M—照片的放大倍数;N—割线与位错线的交点数;1—照片上割线的长度(cm);t—薄膜厚度(cm)。这种测量方法产生误差的主要原因之一是难以选择适当的操作矢量gHKL以保证全部位错成象从而得到准确的 相似文献
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合成孔径雷达(SAR)是一种高分辨力的对地成象雷达,但它的数字成象要求大量的运算,造成了实时成象的困难。根据不同的地物对分辨力的要求不同这一特点,我们利用了多级成象以降低运算量的概念。本文阐述了多级成象的基本原理,讨论了多级成象中特有的分辨力自适应和各级图象之间灰度配准镶嵌等问题,初步估计分析了多级成象的运算要求,并介绍了一个实验系统及其结果。 相似文献
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实时热成象系统是一种远红外电视照相机。然而,电视照相机在反射的短波波段工作,而热成象系统则在反射和辐射混合的波段工作。迄今,人们主要的兴趣仍是对绝对温度在300°K范围、峰值辐射在8~12微米大气窗的黑体成象。上述的两种相帆在工作波长和图象对比度之间的差别是很明显的,大多数远红外成象都不能采用电视光导摄象管。过去曾采用了对远红外辐射响应的单个或集成探测器机械扫描图象取样法。可以预料,这种技术仍将占统治地位。 相似文献
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自准晶体发现以来,对准晶体中的缺陷的研究一直是人们感兴趣的课题,在准晶体中人们发现了位错、层错、小角晶界、位错圈和公度错等缺陷。这里,介绍我们利用离焦会聚束电子衍射(简称CBED)对Al_(70)Co_(15)Ni_(15)十次准晶中位错对的研究结果。图1是在Al_(70)Co_(15)Ni_(15)十次准晶中观察到的位错对的双束明场像。衍射分析表明,构成这些位错对的位错的柏格矢方向都沿着十次轴。在位错对的终端,两位错头部的黑白衬度振荡一样,说明两位错具有相同符号的柏格矢。这说明这些平行排的位错构成位错对。利用+g的弱束象分析结果也说明它们是位错对。图2(a),(b), 相似文献
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一、前言电荷耦合器件(简称CCD)是七十年代发展起来的新型固体器件,它代表了成象器件的发展方向,也可应用于微光成象。考虑到微光固体成象技术的发展,我们在现有条件下对我国研制的三相单行256位SCCLID(表面电荷耦合线阵成象器件)做了一些工作,现将初步结果介绍如下。二、原理CCD的主要噪声有输入噪声、转移噪声、暗电流噪声和输出噪声。通常CCD的各种噪声都以浮置扩散极输出电荷包电子数涨落量方均根值表示(以下设衬底为p型)。 相似文献
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介绍了弱束暗场技术的原理,及其在材料科学研究中的应用,应用这一技术观察分析了一种高温合金中的位错组态、层错结构,讨论了怎样获得最佳实验条件及实验操作中的一些问题。 相似文献