数字集成电路故障检测仪

根据数字系统测试与可测性的原理,应用布尔差分算法推导出TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路芯片的最小测试集.以单片机为核心,由可编程I/O接口、E2PROM、RAM、键盘和LED显示器等组成数字集成电路故障检测系统,能完成对TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路器件的功能测试.     

数字集成电路的微机控测系统

本文论述了用ＭＣＳ－５１系列单片微机控制的数字集成电路，ＡＤＣ器件、ＤＡＣ器件，集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计，研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比，具有体积小，重量轻，扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能／价格比高的便携式测试仪。     

数字集成电路的混合模式内建自测试方法

为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖，提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器（LFSR）的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间，对上述伪随机测试中未能覆盖的故障，采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法。对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率，特别适合数字集成电路的内建自测试。     

一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法

在IC产业链中，测试是必不可少的环节之一，而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A／D转换器静态参数的低成本测试方法，并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有普遍的适用性，对降低数模混合信号集成电路的测试成本具有重要意义。     

新型单片开关电源在超薄型DVD电源中的应用

当前DVD产品正朝着轻巧便携的超薄型方向发展，而采用TOPSwitch系列和TinySwitch系列的开关电源集成电路，就可充分利用其在体积、效率和可靠性等方面的优势，应用于超薄型DVD的电源设计中。着重于介绍DVD的各组电压如何分配使用TOPSwitch系列和TinySwitch系列的单片开关电源及其设计原理。     

基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化，该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比，采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性，此方法对组合电路和时序电路以及对大规模集成电路的内测试和外测试皆试用。     

数字集成电路的微机控测系统

本文论述了用MCS-51系列单片微机控制的数字集成电路,ADC器件、DAC器件、集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计,研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比,具有体积小、重量轻、扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能/价格比高的便携式测试仪。     

火炬计划专栏

超能电路维修测试仪超能电路维修测试仪是一种新型的维修测试工具。主要功能是能够对焊接在电路板上的元器件进行功能测试,以确认其是否失效从而达到元件维修的目的。超能电路维修测试仪主要提供三种测试手段:①集成电路功能测试。②集成电路状态测试。③VI 曲线分析。     

火炬计划专栏

超能电路维修测试仪 超能电路维修测试仪是一种新型的维修测试工具。主要功能是能够对弹接在电路板上的元器件进行功能测试,以确认其是否失效从而达到元件维修的目的。超能电路维修测试仪主要提供三种测试手段:①集成电路功能测试。②集成电路状态测试。③Ⅵ曲线分析。     

C-310系列电子式温度调节器

C-310系列温度调节器是用热敏电阻作测温敏感元件,经由集成电路转换、放大、输出的电子式温度调节器。该系列调节器为开-关双位调节式,可调节0.3～4％(满刻度)的微差隙。连接方式有二种:插入式和螺旋夹式。一、特点1.内设集成电路转换、放大,性能、可靠性高;2.采用与温度成比例的热敏电阻作敏感元件,可互换,导线影响很小,适宜于远距控制;3.输出触点为H-C-L式,加热,冷却均适用;4.小型轻量,测试简易。     

集成电路在线测试技术

介绍集成电路在线测试的原理与方法,着重介绍使用通用集成电路测试夹(CLIP)进行集成电路在线测试的几种不同仪表的工作原理与特点.文中对静态法集成电路在线测试仪表的硬件结构,软件组成作了重点阐述.     

CSM型数字面板表系列

广州金星仪器厂研制成功的CSM型数字面板表系列,于85年4月13日在广州通过了技术鉴定。 CSM型数字面板表系列采用大规模集成电路和发光二极管显示器,与各种传感器配套使用,可实现各种电量和非电量的测量,是各种高精度数字化测试仪器的理想显示仪表。与指针式仪表比较,具有读数方便、性能稳定、灵敏度高、输入阻抗高、抗干扰能力强等优点。CSM型数字面板表系列共有两种型号九种规格,其主要技术参数见下表:     

一种IEEE—488微机接口卡及应用

本文扼要地介绍了利用一种８２５５芯片和５片７４系列芯片构成的ＩＥＥＥ－４８８微机接口卡，它可插接４８８微机接口卡，它可插接在任何一台ＩＢＭＰＣ或兼容机上，成为自动测试系统中的控制器，使控制器具有控者，讲者和听者三大基本功能。     

专用集成电路入检测试系统

专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途。被测对象的主要技术指标．测试系统的组成、功能殛主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法。开发研制了集成电路入检设备．该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。     

混合信号集成电路测试中的约束条件分析

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求.本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励.     

悬臂梁式MEMS探卡的设计和制造

集成电路圆片级测试探卡主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量。随着集成电路设计和制造技术的发展，芯片焊盘密度日益增加，电路工作速度不断提高，由此产生的寄生电容和寄生电感效应会对传统测试探卡的正常工作造成影响，难以得到正确的测试结果。结合先进的MEMS技术，提出了一种采用铝通孔导电、金属自隔离结构的MEMS探卡，探卡由台阶结构的悬臂梁探针陈列构成，探针的具体结构排列依据待测芯片（DUT）的管脚分布，同时测试探针电学导通电阻小于1Ω，详细叙述了探卡的结构设计和制造方法。     

CDMS－1型电视线宽测量仪设计与检测

本文介绍了中科院上海光机所研制的ＣＤＭＳ一１型电视线宽测量系统设计及检测。线宽测量技术主要用于集成电路生产的在线测量，以及掩模制造中的质量控制，ＣＤＭＳ一１型电视线宽测量仪利用计算机对集成电路图像进行数字处理，从而保证了仪器测量精度。经检测表明该系统的各项测试指标均达到原设计要求。     

“集成电路力电检测与可靠性评估”专题征稿通知

<正>随着集成电路设计技术和制造工艺的飞速发展,针对高性能混合集成电路的高速高精度检测技术、基于物理/电特性的力电综合检测及寿命预测技术等,逐渐成为集成电路测试发展的前沿和热点方向,综合考虑应力特性及电特性的力电检测技术对提高集成电路检测效率、故障定位、提升应用系统的可靠性和安全性等,具有重要的价值和意义。鉴于此,《仪器仪表学报》特邀电子科技大学程玉华教授担任专题主编,特别策划了"集成电路力电检测与可靠性评估"专题,涵盖主题如下(但不限于):高速数字集成电路测试技术、大规模混合集成电路测试技术、工艺过程测试技     

微型计算机控制的芯片自动测试系统

一、概述用电子计算机或微型计算机实现对集成电路芯片的自动测试,是提高集成电路芯片测试效率的重要手段。以前,集成电路的计算机辅助测试,大多采用中小型电子计算机来实现,这不仅成本高,而且可靠性也低,不易维护与使用。由于微型计算机具有高可靠性,使用灵活,结构简单,功耗小,成本低廉的优点而日益广泛地应用于各个领域,在集成电路自动测试方面,也采用了微型计算机控制。中小规模集成电路芯片的自动测试,对计算机的要求并不高,只要有一定的输入输     

占空比可调的方波数字信号源电路设计

电子设计自动化(EDA)是集成电路(IC)技术领域的一种重要设计手段.以Altera公司的MAX 7000系列CPLD为载体设计方波数字信号源电路,选用当前主流的EDA软件MAX+PLUSII作为技术开发平台,采用VHDL作为硬件描述语言,通过芯片下载测试和波形仿真,实现了方波数字电路的功能,为方波数字电路的设计提供了...