全能型任意波形发生器应对高速串行和宽带数字RF测试挑战

AWG7000系列任意波形发生器（AWG）专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计，可以创建、复现、生成理想、失真或“实际环境”信号，包括噪声、抖动、毛刺以及其他非理想信号。凭借5．8GHz的带宽，10位垂直分辨率以及高达20GS／s的取样速率，AWG7000能够生成高速、真实的波形，包括预加重／去加重以及高达10Gb／s的多电平信号。AWG7000可以在5．8GHz频带内直接产生5GHz（每个周期四个数据点）精确信号，利用编程功能以及对众多不同波形排序，还产生随时间快速变化的信号。用户可以直接控制输入数据和脉冲形状，此外噪声量、波幅变化、抖动等都可以加到信号中。     

任意波形发生器在通信测试中的应用

任意波形发生器(AWG)提供的新功能,将为通信电路设计人员提供很多帮助,让他们更快地将产品推向市场。在设计阶段,这些功能可以简化电路验证和性能测试;而在制造测试阶段,可以加快故障检测作业。 AWG可以产生多种信号,供设计人员用于测试其设计的TDMA(时分多址)、FDMA(频分多址)及CDMA(码分多址)无线装置。这种通用仪器还可以模拟产生脉宽调制信号、幅度调制信号、频率调制信号及正交相移信号。     

浅析模拟与混合信号电路测试与故障检测方法

模拟和混合信号电路本身具有相当高的复杂性及专业性,使得模拟和混合信号电路测试与故障检测无法在传统数字电路测试方法下得到满足。文章通过介绍模拟和混合信号电路测试与故障检测的研究现状,分析了模拟与混合信号电路的测试与故障检测方法,并在传统测试技术的基础上研究了新的诊断方法,具有参考价值。     

双通道矢量信号分析仪测试系统延迟特性

使用双通道分析仪表测试两路相位相参的调制信号间的时间关系．一方面验证使用互相关技术方法测试信号间时间关系的可行性．另一方面通过对被测电路器件的输出和输入信号的相关测试．得到电路在复杂激励状态下的延迟特性。[编者按]     

基于LabVIEW的多路VF/IF系列电路测试系统设计

设计了一种VF/IF系列电路测试系统,计算机通过LabVIEW程序控制电压信号Vin,对三路VF/IF系列电路输出的相应脉冲信号进行采集和处理,实现了VF/IF系列电路功能和参数的自动测试。     

基于单片机的高速信号测试接口板的实现

介绍了一种基于单片机的高速信号测试接口板，通过该测试板连接计算机与数字单元电路．可以在计算机上比较和分析高速数字单元电路的短时输入和输出。从而测试其电路性能。该测试接口板设计简单，易于实现，应用灵活．在验证FPGA电路性能方面得到了实际应用。     

手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计

文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发，提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离，保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性，采用边界扫描方式进行测试，提高了测试的灵活性，减少了测试电路的面积。电平敏化扫描链的引入．大大提高了Source Driver测试的可控制性。该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试。     

信号处理机的高速ADC模块动态性能在线测试

本文介绍了一种基于DSP技术在线测试信号处理机的高速ADC转换电路动态性能参数的方法。实现了电路板的ADC器件及周边电路性能的在线评估，对工程实践有一定的指导作用。     

混合信号总线测试实验

使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的，同时指出其局限性。     

业界要闻

产业动态Industry Dynamic泰克推出全新AWG5000信号发生器>>>泰克公司今天宣布推出AWG5000系列任意波形发生器(AWG)。最新的AWG5000采用了与泰克新近推出的AWG7000系列任意波形发生器相同的平     

用于功率MOSFET的新型栅电荷测试电路

栅电荷是用于衡量功率MOSFET开关性能的重要参数,通常采用在栅极输入电流阶跃信号的方法来测量。一种新型的栅电荷测试电路被提出,该测试电路使控制信号从MOSFET的源极输入,从而消除了控制信号对栅极输入电流的影响。因为输入电流太小不能直接测量,测试时采用测量电压阶跃信号的方法来衡量电流阶跃信号的性能。与以往的测试电路对比结果表明,该电路可以使MOSFET栅极输入的电流更接近于理想的电流阶跃信号,该信号上升时间小于100 ns,并且上升后稳定,因此提高了栅电荷测量的准确度。     

测试系统延迟特性双通道矢量信号分析仪显身手

双通道分析仪表可用来测试两路相位相参的调制信号间的时间关系,并验证该方案在两项应用中的可行性.一方面验证使用互相关技术方法测试信号间时间关系的可行性,另一方面通过对被测电路器件的输出和输入信号的相关测试,得到电路在复杂激励状态下的延迟特性.通过实验测试,检验双通道矢量信号分析仪分析测试双路调制信号时间关系的功能和性能.     

双通道矢量信号分析仪测试系统延迟特性

测试目的使用双通道分析仪测试两路相位相参的调制信号间的时间关系,验证该方案在两项应用中的可行性。一方面验证使用相关技术方法测试信号间时间关系的可行性,另一方面通过对被测电路的输出和输入信号的相关测试,得到电路在复杂激励状态下的延迟特性。通过测试,检验Agilent双     

伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用

混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这一问题进行研究,详细讨论了利用伪随机技术进行混合信号电路测试的方法。     

美国理想携全线测试测量产品亮相全国电子展

日前美国理想工业公司参与第68届全国电子展，并在展览会上展示了其全线测试测量产品，包括电气测试与测量产品，如万用表系列、钳表系列、交流分支电路测试、接地与绝缘测试、电能质量分析、相序测试、以及通用与专用工具。     

一种混合信号测试系统的设计及实现

针对一款混合信号的视频编解码芯片的参数测试要求,依据电路内部的测试结构,设计了一个基于纯数字自动测试设备（ATE）的混合信号电路测试系统。该测试系统通过增加MCU、ADC、DAC、FIFO、运放、可控开关等外围电路实现对芯片参数的测试。详细阐述了测试系统的总体方案、硬件设计和软件设计。通过软件和硬件的协同工作,该测试系统能够对含有AD、DA模块的混合信号电路相关参数进行测试,实现电路整体性能的评估。该测试系统原理清晰,结构简单,扩展灵活、方便。     

双音多频电路的测试技术

引言双音多频（DTMF—DualToneMulti－freuuency）电路是在电话机、程控交换机及无线电通信设备中应用较为广泛的集成电路,它包括DTMF发送器与DTMF接收器,DTMF发送器主要用于按键式电话机的发号器,根据不同的按键发出相应的一组DTMF信号,DTMF接收器主要用于程控交换机和无线通信设备的收号器。由于DTMF电路所承载信号的复杂件．在普通数模混合测试设备上不能测试DTMF电路,该类电路的测试只能在有关性能指标都比较高的设备上进行。有两条思路可供我们选择、其一是在现有满足DTMF电路测试要求的人型测试系统上（比如LTX…     

泰克AWG7000任意波形发生器积极响应客户的速度需求

俄勒冈州比弗顿，2006年9月25日——世界领先的测试、测量和监测仪器供应商泰克公司（NYSE：TEK）宣布推出泰克新型AWG7000系列任意波形发生器（AwG）。AWG7000是世界上最快的任意波形发生器，专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计。凭借5．8GHz的带宽，10位分辨率以及高达20GS／s的取样速率，AWG7000是唯一能够生成高速、真实波形的AWG，包括预加重／去加重以及高达10Gb／s的多电平信号。AWG7000是适用于高速串行及宽带射频信号的最快、最强大、易用的全能型信号源。     

PAL-D制彩色电视解码电路测试信号的研究

在ＰＡＬＤ－制彩色电视解码电路存在多种误差参量的条件下,对现有的４种类型测试信号的输出进行了分析和比较,并给出对应测量和调整步骤,结果表明,隔行色度信号是目前从电路角度测量和调整ＰＡＬ－Ｄ制彩色电视解码电路最有效的信号,值得尽快开发和应用。     

混合式IRFPA读出电路参数测试系统

读出电路是红外焦平面阵列(IRFPA)的关键组成部分之一。它的质量直接影响到IRFPA的质量,因此读出电路参数的测试非常重要。本系统采用信号模仿的方法,对IRFPA读出电路注入电信号,调节电信号即可模拟不同的测试条件,利用读出电路的输出就可测试其主要参数的技术指标。系统采用虚拟仪器系统的精密数据采集卡(DAQ)和用于数据处理的软件(LabVIEW)来构建出混合式IRPFA读出电路参数测试系统。采集卡对读出电路输出信号进行采集,并利用软件的运算功能模块对采集的数据进行统计运算,就可定量得到各项参数指标,从而判断读出电路性能的好坏。采用本系统对128×128元读出电路进行测试,实验结果表明了系统的可行性,测试结果可以反映读出电路的质量。