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光栅纳米测量的研究与进展 总被引:2,自引:0,他引:2
概括分析了光栅纳米测量中双光栅测量系统、炫耀光栅测量系统、基于误差修正技术的纳米光栅测量系统的测量原理及其关键技术,重点讨论了基于二次莫尔条纹原理的纳米光栅测量系统的测量原理。在对上述各测量系统分析研究的基础上,指出光栅纳米测量进一步研究的关键在于:研究基于新型测量原理的光栅纳米测量系统,研制光栅纳米测量系统的精密机械调整机构、光电信号处理和细分技术、误差分离和修正技术等。 相似文献
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纳米材料的性质强烈依赖晶料尺寸大小。测量纳米超微粉中晶料尺寸的技术无论从制备上还是从应用上都具有重大的意义。本文以纳米氧化锡晶料尺寸测量为例,分析比较子透射电镜(TEM),扫描电镜(SEM)高分辨电子显微镜(HREM)和X射线衍射(XRD)测量结果。对它们在工业上应用价值进行了综合评述。 相似文献
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纳米测量技术的挑战与机遇 总被引:6,自引:0,他引:6
纳米测量技术是纳米科学技术的基础学科之一。纳米科学技术的快速发展,不但给纳米测量技术提出了挑战,同时也给纳米测量技术提供了全新发展的机遇,综述了国内外纳米测量技术发展的现状,重点讨论了纳米材料,纳米电子学和纳米生物学等领域所涉及的纳米测量与性能表征的难题和挑战,论述了纳米科技成果给纳米测量技术带来的发展机遇,最后对纳米测量技术的发展方向做了展望。 相似文献
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谢华锟 《世界制造技术与装备市场》2001,(5):23-27
第七届中国国际机床展览会上国内外著名量仪厂商的参展产品显示了当今机械制造业(尤其是机床工具行业)中测量技术的最新发展趋势,即测量技术面向生产一线,服务于加工制造现场,与加工制造过程有机融合,成为加工制造技术中不可缺少的重要组成环节。在信息技术、材料科学、集成制造技术飞速发展的有力推动下,测量技术融入制造技术的进程不断加快,随着CAD/CAM/CAI一体化技术在机械制造业中的推广应用,有力促进了现代加工制造技术的不断发展。 相似文献
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目前大多数化工设备设计均采用SW6— 98进行计算 ,但设计中对利用软件计算还存在一些理解上的误区 ,这将直接影响设备的安全可靠性 ,所以必须引起足够重视。 相似文献
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目前在工厂生产线上对于轴类零件回转精度的测量,仍采用千分表等传统仪器进行手工测量,视觉误差以及手工测量数据的少的问题,难以对零件数做出准确的评价。为此,针对轴类零件本文设计了一种计算机辅助测试的新装置,它采用计算机控制,实现轴类零件测量数据的自动采集、处理和评价。它不仅适用于单一参数的检测,同时也适用于多参数的检测。 相似文献
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设备状态检测在企业的日常设备管理中日益受到重视,其中设备振动参数的检测必不可少。本文就设备振动相对标准的实际使用情况进行总结,着重介绍设备振动相对标准在旋转设备故障诊断方面的应用。 相似文献
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介绍的是在检验过程中遇到一些难以直接测出结果而用间接测量可准确获得数据的几种可行的方法。采用这种直接测量方法能够使采用传统测量方法无法精确测得数据成为可能。实践证明这几种间接测量方法简单、可靠完全能够保证检测数据的准确性,从而能将不合格产品杜之门外。 相似文献
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针对目前绝对直线场式时栅无法满足全闭环数控系统要求的增量式直线位移反馈的问题,采用测量基准转换方式从时间域的角度处理绝对直线场式时栅的空间位移信息,运用时间序列算法分析绝对式时栅采样数据序列的内在相关性,建立自适应递推算法。通过时间触发采样将时栅传感器过去的测量数据作为样本集,递推时栅下一个采样时刻的位移,在下一个采样周期内将直线时栅的绝对位移代表的增量式时间脉冲通过脉宽调制的方式连续发出,实现绝对式直线时栅到增量式直线时栅位移传感器的转换设计。实验表明在76.604 mm的范围内增量式直线时栅位移传感器达到±2μm的测量精度。此研究可将原绝对式直线时栅位移传感器运用于全闭环增量式直线运动数控系统,具有重要现实意义。 相似文献
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国家标准GB/T 14250-2008《衡器术语》自2008年12月30日发布,2009年9月1日实施以来,由于没有组织有效的宣贯,在一些杂志的论文上、企业的上报材料上、签订的产品销售合同上、甚至专业标准上不能准确使用与衡器有关的名词。 相似文献