金属录像带技术

前言磁记录技术的发展,是不断向高密度记录进行挑战。由于科学技术日新月异的进步,推动了磁记录方式、磁记录媒体以及磁记录设备的进步和提高,导致今日磁记录技术领域繁荣发展的美好时期,磁带是其中重要的组成部分。当代高密度记录媒体,已经进入金属磁带时期,制造金属录音录像带目前有两种途     

家用录像带的存放

家用录像机的录像带与盒式录音机使用的录音带其结构和原理基本相同,都是将磁性材料涂敷在塑料带基上制成的,因此二者的存放注意事项有相同之处,笔者归纳为“四防”、“两注意”。“四防”就是防热、防潮、防磁、防尘。首先要防热。塑料带基最怕高温,受热后,录像带不仅会变脆,而且会变形,从而导致磁粉脱落,以致不能使用。最适     

长寿命He-Ne激光器的加速寿命试验

本文主要介绍一种检验He-Ne激光管寿命的新方法——加速寿命试验.     

继电器的耐久性寿命试验及其寿命分布规律

本文以某一继电器的耐久性寿命试验为例,探索了继电器的寿命分布规律,用最小二乘法按威布尔分布进行了拟合,并进行了假设检验,然后用最好线性无偏估计(BLUE)得出了该继电器寿命特征的估计值。     

金属录像带技术（续）

5.4 防锈技术涂布型金属磁带所使用的金属磁粉的组成是以铁为主要成分的合金(Fe、Co、Ni),易于氧化。这是磁带性能不稳定因素,日本各公司相继开发了防止氧化技术。就是将金属磁粉粒子的表面进行氧化物保护膜(约5     

寿命试验可靠性数据

一个器件可靠性的定义是:在设计规定条件下,在规定的时间内,完成其功能的概率。如今对集成电路的可靠性水平要求高,使得在使用应力条件下测定器件的可靠性,花费时间长且费用高,因而实际上难以实现。 能够解决这些矛盾关系的实用方法是采用加速寿命试验,也就是让器件所工作的应力水平,比它们在典型应用中正常经历到的高。 寿命试验一般是在提高温度和最大推荐的工作电压下进行的,目的是加速那些涉及到温度和电应力条件的,与时间有关的失效机理,寿命试验是预测器实际现场应用失效率的主要方法。     

关于系统保证寿命的试验研究

以四组高温电负载恒定应力对半导体收音机机芯作加速寿命试验。对寿命数据分别作图估计和最好线性不变估计。在每母加速应力下，样本寿命分布均为双参数指数分布，均匀在保证寿命。平均寿命的加速规律符合Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ方程。保证寿命与加速应力之间存在负指数关系。推算样本在正常应力下的保证寿命为５４８１小时。     

录像带转录VCD方案的一点设想

<正> 2001年第五、七期《电子世界》杂志分别刊载了有关将录像带转录成VCD影碟的两篇文章,两位作者分别撰文阐述了自已的观点。由于笔者正在酝酿购买一部家用摄像机,配合已经拥有的家用电脑和刚刚购置的光盘刻录机,组成一个家庭影像系统,所以对这个问题特别关心,经过几天在网络和各类媒体中反复搜索,得来一点相关的资料,加上使用相关的软件所作的几个试验,下面也来谈一谈我对于这个问题的一点看法。     

行波管阴极的寿命试验

微波器件的寿命往往取决于阴极的寿命,做好阴极寿命的测试是非常必要的.本文选择了常规寿命试验的方式,采用了阳控枪和水冷收集极的短管结构,在阴极工作温度1020℃、脉冲工作比10％、初始发射电流6A/cm2电流密度的状态下,进行行波管阴极寿命试验.截止目前,该试验还在进行中,累积寿命时间达8200h.     

铝电解电容器的耐久性试验和寿命试验

主要讨论了铝电解电容器在工作状态下的耐久性能，以及其期望寿命和贮存寿命。分析结果是基于长期试验而得来的。     

简单步进加速寿命试验下指数寿命产品的BAYES统计分析

1 问题的提出与基本假定1.1 问题的提出步进应力加速寿命试验是产品进行可靠性寿命试验的常用方法,对其试验数据的统计分析,通常是要求知道产品的寿命分布的有关参数与所施加的应力之间有已知的加速寿命模型,而一切的统计分析方法均以此为依据,但在一些实际问题中,加速寿命模型并不知道。本文针对这一情况,采用Bayes分析技术,给出在步进应力加速寿命试验下产品寿命数据的统计分析方法.1.2 基本假定本文给出的统计分析方法是建立在下面几个基本假定之下的。假定1 正常应力水平的S_0,加速应力水平为S_1,S_2,满足     

LED寿命试验系统的建立

介绍了LED寿命试验系统建立过程,提出了寿命试验条件,采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大.完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性.     

NEBS标准环境试验自动控制系统

针对NEBS认证标准的要求,该文提出了一种符合该标准要求的环境试验自动控制系统,该系统能自动控制环境试验设备,实时运行试验方案,自动统计试验费用,减少人工干预,防止设备故障.     

GaAs器件寿命试验及其方法比较

本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件慨述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义.     

录像带如何转录成VCD影碟片

<正> 随着生活条件的改善,人们都希望把美好的生活片段记录下来,传统的记录方式是用摄像机拍摄成录像带保存,但录像带的寿命大约为3～5年,时间稍长后便开始发霉,导致粘合不能转动。为了在家庭环境下继续保存你珍贵的录像带资料,常规的处理方法是每隔1～2年把原有的录像带转录一次,但转     

电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...