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设计了一种新型的、不随电源电压变化的、温度系数很小的nA量级CMOS基准电流源,并分析了该电路的工作原理。该基准电流源不需要使用电阻,大大节省了芯片的面积。基于TSMC 0.18μmCMOS厚栅工艺,使用Spectre对电路进行了仿真。仿真结果表明,在输出基准电流为46 nA的情况下,该电路的温度系数为24.33 ppm/℃,输出电流变化率仅为0.028 9%/V,电源抑制比(PSRR)最高可达-85 dB,电路消耗的电流小于200 nA。 相似文献
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针对实际电路中的电源噪声对带隙基准精度的影响问题,设计一款具有高电源抑制比的带隙基准源。设计包含专用的电源抑制比提高电路,辅以启动电路、带隙主体电路、温度补偿电路等。利用电压负反馈技术,使带隙基准输出电压获得高电源抑制比,减少电源对输出基准电压的干扰。对带隙基准电路设计温度补偿,显著减小温度漂移,可稳定输出2.5 V基准电压。电路在Candance Spectre环境下进行温度特性和电源抑制比的仿真,实验结果表明带隙具有较的低温度系数和较高的电源抑制能力,适用于A/D转换器,DC-DC转换器等高精度电路应用场合。 相似文献
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设计一种新颖的低电压CMOS带隙基准电压源电路.电路采用了适合低电源电压工作的nMOS输入对管折叠共源共栅运算放大器,并提出一种新颖的启动电路.基于SMICO.35μm标准CMOS工艺,Cadence Spectre仿真结果表明:在低于1-V的电源电压下,所设计的电路能稳定工作,输出稳定的基准电压为622mV,最低电源电压为760mV.不高于100KHz的频率范围内,电源噪声抑制比为-75dB.在-20℃到100℃范围内,温度系数20ppm/℃. 相似文献
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基于TSMC 0.18μm标准CMOS工艺,提出了一种新型无电阻低温漂电压基准源。通过采用CMOS阈值电压(Vth)和与温度成正比的电压(VPTAT)作为基础线性温度单元加权求和的方式,消除了电压基准源输出中残留的非线性温度分量,最终得到高精度的电压基准输出。其中CMOS阈值电压由无电阻结构产生,VPTAT的产生和与CMOS阈值电压的加权求和由非对称差分运放完成。实测结果证明,在-55℃~125℃温度范围内,电压基准源输出为1.23 V,温度系数为4.5 ppm/℃。在无滤波电容的情况下,基准电源抑制比可达-93 dB。 相似文献
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设计了一种采用0.25μm CMOS工艺的高精度带隙基准电压源,该电路结构新颖,性能优异,其温度系数可达5ppm/℃,电源抑制比可达到62dB。在此基础上设计了一种基准电流源,其温度系数可达6ppm/℃,输出电流变化率仅为0.03%/V。 相似文献
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一种高精度BiCMOS带隙电压基准源的设计 总被引:1,自引:2,他引:1
在对传统典型CMOS带隙电压基准源电路分析基础上提出了一种高精度,高电源抑制带隙电压基准源。电路运用带隙温度补偿技术,采用共源共栅电流镜,两级运放输出用于自身偏置电路。整个电路采用了UMC 0.6um BiCMOS工艺实现,采用HSPICE进行进行仿真,在TT模型下,仿真结果显示当温度为-40℃~80℃,输出基准电压变化小于1.5mV,低频电源抑制比达到75dB以上。 相似文献
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针对传统电流源受工艺参数影响较大的问题,提出了一种利用电压差平方电路来解决这个问题的思路;设计了一种新颖的受工艺参数影响较小的基准电流源电路,该电路采用0.6μm的BiCMOS工艺设计,利用Hspice进行仿真验证;结果表明,该电路在典型边界条件下-40℃~85℃范围内输出基准电流温度系数为17ppm/℃,变化率约0.2%,在6种不同边界条件下输出基准电流变化约为±1.72%。 相似文献
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设计了一种基于亚阈值技术的全MOS电压基准源,采用共源共栅结构来增大PSRR,使用MOS管代替电阻,优化温度特性,使电路中大部分MOS管工作于亚阈值区。基于0.18μm CMOS工艺进行设计、版图绘制、和前、后仿真,在后仿真中得出相关参数值。对各参数做出详细分析,包括:一定温度范围内的温度系数;常温下基准输出电压;不同电源电压条件下的线性调整率、基准源静态电流及功耗,并对不同频率下的电源电压抑制比进行了对比。实验结果表明达到了低功耗高性能的设计目标。 相似文献
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在模数转换技术中,为提高小输入信号的分辨率,通常采用提高其前级通道的放大倍数的方法.这里,提出一种新的能够根据输入信号自动改变满量程电压值以改善小信号输入分辨率的方法.应用对象为一种包含A/D转换器的混合信号单片机,其A/D转换器的满量程模拟值是由参考电压VERF决定的.因此可通过数字电位器改变VREF来改变其A/D转换器的一个满刻度值,以达到改善小信号分辨率的目的.这种方法简洁有效,实验证明了方法的正确性. 相似文献
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提出一种新的基于改进同步坐标变换的电压凹陷检测方法。该方法针对单相凹陷,只需单相电压数据,对凹陷电压及其导数进行同步坐标变换,然后再对变换的结果进行低通滤波,得到含基波幅值和相位的直流分量。该方法不需对电网电压锁相,只需两个采样点数据就可准确求出基波的幅值和相位,所检测的凹陷起始时间没有延时,截止时间误差小。该方法原理简单,计算量小,具有工程实用意义。 相似文献
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分析了基于失配电流控制的高阶补偿带隙基准的补偿原理,并研究了工艺偏移对基准电压温度系数的影响。基于失配电流控制的补偿策略具有结构简单、控制精度高,而且可以通过调整失配电流和多晶电阻阻值,使带隙基准具有较低的温度系数,同时具有较强的工艺健壮性。模拟分析表明,在-25℃-125℃温度范围内,在 TT(Typical -Typical)工艺角下,带隙基准的温度系数为4.8ppm /℃,同时在其他工艺角下,带隙基准的温度系数都可控制在9.0ppm /℃以下。通过无锡上华科技(CSMC)0.18μm CMOS 工艺实验验证,采用这种简单失配电流控制的高阶补偿带隙基准,在3V 电源电压下,在-20℃-120℃温度范围内,带隙基准的温度系数最低为6.9ppm /℃。 相似文献
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提出一种新的基于改进同步坐标变换的电压凹陷检测方法。该方法针对单相凹陷,只需单相电压数据,对凹陷电压及其导数进行同步坐标变换,然后再对变换的结果进行低通滤波,得到含基波幅值和相位的直流分量。该方法不需对电网电压锁相,只需两个采样点数据就可准确求出基波的幅值和相位,所检测的凹陷起始时间没有延时,截止时间误差小。该方法原理简单,计算量小,具有工程实用意义。 相似文献