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位相板在大型几何量形位误差测量中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了利用位相板技术进行准直的工作原理和特点,以及如何利用该项技术有效地确定激光准直光束的几何基准,并介始了以此技术为基础的光学基准在大型几何量形位误差测量中的应用。 相似文献
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线阵CCD器件的应用已相当广泛,文中介绍了一种以线阵CCD为接受器件的颗粒尺寸分布测量新方法。基于群体粒子的衍射理论,一般采用以环形光电管(SSPD)为接受器件、以矩阵迭代为反演手段的测量方法;而我们采用了以线阵CCD为接受器件、以shifrin变换为反演手段的新方法,线阵CCD能在小的衔射角范围内获取大量的数据,这为我们反演的准确和测量精度的提高提供了有力的保障。对几微米以上的实际样品测试实验表明:与目前以SSPD为接受器件的测量方法相比,峰值粒径测量的精度有所提高,其相对误差在3%左右,且该法仅需要很少的预知信息,此外测量的结果更为详细。 相似文献
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面阵图像传感器在位移测量中的应用研究 总被引:1,自引:0,他引:1
许军 《工业仪表与自动化装置》2000,(5):24-26
在位移测量中,探索采用普通面阵CCD取代线阵CCD显得具有重大实用价值。本文将讨论微型CMOS电视摄像机作为图像卖座器在实时光电位移测量时的处理生能分析。理论和实际测试结果表明,在体积、成本、测量精度和抗干扰能力等方面,面阵图像传感器都优于线阵CCD。 相似文献
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介绍了一种对物体尺寸精密测量的方法.该方法采用线阵CCD作为光电传感器件,通过对CCD输出信号进行二值化处理并从计算机获得数字式信号,从而实现对物体尺寸的精确检测.测量结果表明:与其他传统的检测方法相比,该方法具有测量精度高、速度快,操作简单,检测过程中运行稳定等优点,在工业生产的尺寸测量中有实用价值. 相似文献
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用面阵CCD测量不规则平面物体的面积 总被引:14,自引:1,他引:13
文中介绍了利用面阵CCD测量不规则平面物体面积的原理和方法。对影响测量精度的各种因素进行了分析,比较了利用面阵CCD进行测量和利用线阵CCD进行测量的不同。通过实际测量,证明本方法具有测量速度快,测量精度高,适应性强等特点,具有广泛的应用前景。 相似文献
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CCD摄像法在工件尺寸测量中的应用 总被引:22,自引:4,他引:22
建立了用于工件尺寸测量的 CCD摄像测量系统。讨论了 CCD摄像测量法的基本原理 ,简要介绍其软件系统 ,给出了部分工件尺寸的测量结果。实验表明 ,测量系统可快速、精确、非接触地测量工件的边长与直径等尺寸 ,测量精度误差小于± 2 .5 %。 相似文献
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透射电镜CCD数字图像接收处理系统 总被引:2,自引:0,他引:2
本文简单介绍了积累型TV扫描CCD数字成像处理系统,并将该系统成功地安装于北京有色金属研究总院的JEM-2000FX透射电镜上。 相似文献
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CCD图像传感技术的现状与应用前景 总被引:11,自引:0,他引:11
CCD是在MOS集成电路技术基础上迅速发展起来的一种新型半导体器件。本文首先从CCD图像传感器的像素集成度、灵敏度、驱动频率等角度出发,详细介绍了近年来在CCD图像传感技术研究方面的突破性进展,然后借助几个典型实例说明了CCD在图像传感领域内的广泛应用。最后,探讨了CCD技术的应用前景。 相似文献
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介绍了一种基于CCD传感器的人体运动图像检测新方法,它采用图像动态采集及标志点自动识别跟踪技术,实现了运动图像的在线采集与分析;利用该方法构建了二维和三维人体运动图像检测分析系统,并将其用于人体步态和人手运动分析。 相似文献
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研究和实现了采用面阵CCD器件的半导体材料应力测试仪。介绍了测量原理,设计完成了相应的光学测量系统、硬件控制系统和控制测量所需的软件。最后介绍了对硅上SiO2、Si3N4膜应力实际测量的结果。 相似文献
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CCD技术在工业现场钢管长度测量中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
本文介绍了一种应用于工业现场的钢管长度自动测量系统,该系统采用CCD摄像头进行图像捕捉,通过软件进行图像处理和长度计算,达到较高的精度。系统构成简单,安装方便,在标定方法上别具一格,减小了测量误差,提高了测量精度。 相似文献
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DSP技术在线阵CCD测量系统中的应用 总被引:21,自引:0,他引:21
本文介绍数字信号处理器DSP在线阵CCD信号实时采集与处理系统中的应用。测量系统采用CCD传感器光采样与ADC数据采集、DSP数据处理三级流水线结构。结合AD采样技术, 充分发挥DSP处理器片内存储器容量大,快速灵活运算能力的特点,使用DSP片内双数据缓冲区交替对CCD进行信号采集和数据处理;在进行数据处理过程中,DSP以中断方式读取AD采样结果。文章还介绍了DSP的线阵CCD系统在LAMOST光纤定位单元定位精度检测装置中的应用。 相似文献
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研究和实现了采用面阵CCD器件的半导体材料应力测试仪。介绍了测量原理,设计完成了相应的光学测量系统、硬件控制系统和控制测量所需的软件。最后介绍了对硅上SiO2、Si3N4膜应力实际测量的结果。 相似文献