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UPS电源的实际技术指标能否满足使用要求,是顾客关心的问题,通常顾客需要对UPS进行调试。本文详细介绍了稳态测试、动态测试、常规测试和特殊测试四种测试方法,并给出了相关数据。对客户用于鉴定和验收产品有一定的帮助。 相似文献
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提出了通过统一测试模型配置文件快速建立装置整机测试模型,并由主程序按照测试模型来执行测试的继电保护测试装置系统架构思想,开发了嵌入式继电保护测试装置和测试模型组态软件。该装置具有体积小,I/O扩展灵活,测试方便快捷等优点,为继保测控装置的批量生产测试提供了统一的自动化测试平台。该装置不仅规范了产品测试程序,降低了测试工作复杂度,而且大大提高了测试效率,确保了产品测试品质。该思想已在HELP2000继保测试装置上成功应用,表明该装置具有一定的推广使用价值。 相似文献
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时万春 《电子测量与仪器学报》2007,21(4):1-4
近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是:IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFY测试、并发测试和开放式体系结构ATE。 相似文献
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本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边界扫描等板测试策略.并讨论了板测试技术运用于MCM测试的可取之处。文中分类并比较了各种测试策略。介绍了合适的MCM测试设备,随后举例说明了芯片测试、板测试以及混合测试等MCM测试策略。 相似文献
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从芯片测试和板测试方法综合MCM测试策略 总被引:1,自引:0,他引:1
本文综述了功能潮试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边界扫描等板测试策略,并讨论了板测试技术运用于MCM测试的可取之处。文中分类并比较了各种测试策略,介绍了合适的MCM测试设备,随后举例说明了芯片测试、板测试以及混合测试等MCM测试策略。 相似文献
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基于统一建模的继电保护测试装置开发研究 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了通过统一测试模型配置文件快速建立装置整机测试模型,并由主程序按照测试模型来执行测试的继电保护测试装置系统架构思想,开发了嵌入式继电保护测试装置和测试模型组态软件.该装置具有体积小,I/O扩展灵活,测试方便快捷等优点,为继保测控装置的批量生产测试提供了统一的自动化测试平台.该装置不仅规范了产品测试程序,降低了测试工作复杂度,而且大大提高了测试效率,确保了产品测试品质.该思想已在HELP2000继保测试装置上成功应用,表明该装置具有一定的推广使用价值. 相似文献
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电冰箱的机械测试是产品研发和生产过程中不可忽视的重要环节。它包括电冰箱在正常工作条件下零部件的工作可靠性与使用寿命测试、在极限温度条件下电冰箱零部件的损伤测试和电冰箱的包装测试。采用先进、合理的测试技术有利于加强对产品质量的监控,提高测试水平,加快产品研发进程,进而提高产品质量、降低产品研发和生产成本。 相似文献
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基于保护装置的硬件和软件体系架构,介绍了一种继电保护装置的白盒测试体系。白盒测试体系分为PC端测试框架和装置测试支撑系统两部分,PC端通过配置测试用例,生成测试hex文件并下载到装置,装置端通过测试支撑环境装载测试用例进行测试,并通过内部调试协议与pc端交互测试结果信息,pc端通过比对模块得到测试结果,最后由pc端测试报告模块统一生成测试报告。分别对各模块的设计和测试流程进行了详细的说明。最后以CAN测试为例介绍了测试过程以及如何完成高负荷等性能测试。 相似文献
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随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。 模拟
集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。 本文基于
XGBoost 决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试
序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。 本文讨论了故障数目、特征
重要性和 SHAP 值 3 种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是
一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过 20 PPM 的条件下实现 25%的测试参数优化。 相似文献
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基于稳态电流测试方法的IDDQ测试,因其故障覆盖率高,在集成电路测试中得以广泛应用。IDDQ测试的概念比较简单,但实现并不容易,特别是当今SOC和深亚微米技术的影响使得其实现更为复杂,有必要作以全面、系统化的研究。本文的第1节概括地总结了IDDQ测试的发展和目前的现状,对IDDQ测试广泛应用的原因作了阐述。第2节论述的是测试机理,同时用一些重要的术语和数据来说明深亚微米等技术对IDDQ测试的影响。第3节研究的是适于IDDQ测试的各种电流测量方法和结构。第4节深入地研究了CMOS电路中的物理缺陷及其电流测试方法,并用大量的图文数据作以详细说明。第5节讨论的是IDDQ测试的测试图形生成方法。第6节对深亚微米技术对IDDQ测试的影响以及测试中要注意的问题作了说明。 相似文献
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射频性能是蓝牙产品性能检测中非常关键的测试项,本文介绍了常见的三种常见的蓝牙产品射频测试方法:通过固有的蓝牙测试设备进行测试,待测产品处于工作模式时通过频谱分析仪测试,待测产品处于测试模式时通过频谱分析仪测试,并针对其优缺点对其适用条件作了说明。 相似文献
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狄德海 《国外电子测量技术》2008,27(12)
GCF(global certification forum)一致性测试十分必要。GCF一致性测试包括射频、音频、协议、SIM、杂散五大类测试项。本文全面综述这五类测试的具体内容以及测试过程中所使用的测试系统,并介绍国际和国内从事GCF一致性测试的认证实验室,便于手机研发人员对GCF一致性测试有个全面的了解,清楚知道如何准备GCF一致性测试,以及在测试过程中如何进行调试。 相似文献
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高天虹 《国外电子测量技术》2011,30(1):6-8
0引言
每天都有新的测试应用出现,这些应用带来了更具挑战的测试需求,如何更好地搭建系统完成测试任务,对厂商和工程师而言并非易事。在技术方面,软件定义的模块化系统已成为主流的测试系统构架,基于这种构架实现的应用不胜枚举,相比于前,这些应用在缩短测试时间、 相似文献
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测试领域新技术的发展及应用 总被引:3,自引:1,他引:2
随着测试需求的提高,在测试领域中新的技术得到了快速的发展,追踪研究这些新技术,对于我国研制新的先进测试系统具有一定的借鉴作用。本文首先详细介绍了近年来在测试领域中出现的新技术,包括测试仪器及先进的测试总线技术,自动化测试及综合测试技术,故障诊断及综合保障技术的发展状况及其应用。着重介绍了合成仪器技术,LXI总线技术,柔性测试技术和智能测试诊断技术。最后指出测试新技术为我国测试领域的发展带来了机遇和挑战。 相似文献
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语言测试是外语教学中的重要环节之一,是了解、检查和鉴定外语学习者语言知识和语言技能的重要手段。本文首先对语言测试理论的发展进行了回顾,叙述了20世纪60年代以来现代外语测试理论的演变和发展,探讨了这些理论中存在的问题,最后指出语言测试的意义及其对外语教学的反拨作用。 相似文献