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一个极大平面图若是从K4出发,不断地在三角面上嵌入3度顶点得到的,则称此极大平面图为递归极大平面图。唯一4-色极大平面图猜想是指:一个平面图是唯一4-可着色的当且仅当它是递归极大平面图。此猜想已有43年历史,是图着色理论中继四色猜想之后另一个著名的未解猜想。为此,该文相继深入研究了哑铃极大平面图与递归极大平面图的结构与特性,结合该系列文章(2)的扩缩运算,给出了证明唯一4-色极大平面图猜想的一种思路。 相似文献
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业已证明四色猜想的数学证明可归结为刻画4-色漏斗型伪唯一4-色极大平面图的特征。为刻画此类极大平面图的结构特征,本文提出一种构造极大平面图的方法 扩缩运算。研究发现:此方法的关键问题是需要清楚一种构形,称为多米诺构形。文中构造性地给出了多米诺构形的充要条件;在此基础上提出并建立了一个图的祖先图与子孙图理论与构造方法。特别证明了:任一最小度4的n(9)-阶极大平面图必含(n-2)-阶或(n-3)-阶祖先图;给出极大平面图的递推构造法,并用此方法构造出6~12-阶所有最小度的4极大平面图。扩缩运算是本系列文章的基石。 相似文献
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设G是一个k-色图,若G的所有k-着色是Kempe等价的,则称G为Kempe图。表征色数3的Kempe图特征是一尚待解决难题。该文对极大平面图的Kempe等价性进行了研究,其主要贡献是:(1)发现导致两个4-着色是Kempe等价的关键子图为2-色耳,故对2-色耳的特征进行了深入研究;(2)引入-特征图,清晰地刻画了一个图中所有4-着色之间的关联关系,并深入研究了-特征图的性质;(3)揭示了4-色非Kempe极大平面图的Kempe等价类可分为树型,圈型和循环圈型,并指出这3种类型可同时存在于一个极大平面图的4-着色集中;(4)研究了Kempe极大平面图特征,给出了该类图的多米诺递推构造法,以及两个Kempe极大平面图猜想。 相似文献
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1979年,Shamir提出的(k,n)-门限密钥分散管理的概念使密钥管理更加安全灵活,但这一方案也有其不完善之处,因为在现实中参与密钥管理的人在系统中所处的地位不尽相同,有许多活动要求某些特定的人必须参与才能进行。本文考查了此类情形,将(k,n)-门限方案加以推广,提出了更为一般的(t,k,n)-门限方案,并利用(k,n)-门限方案给出了实现(t,k,n)-门限方案的方法。 相似文献
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为了有效解决脉冲噪声环境下的稀疏系统辨识(Sparse system identification, SSI)问题,以l1 -范数为约束构建稀疏递归互相关熵准则(Recursive maximum correntropy criterion, RMCC)算法来解决脉冲噪声对于辨识性能的影响。结合带遗忘算子的互相关熵准则和l1 -范数作为代价函数,推导出一种递归形式的算法,其相对于传统的最大相关熵算法具有快的收敛速度及小的稳态误差。仿真实验结果表明:该算法对于脉冲噪声干扰环境下的SSI问题具有强的鲁棒性。 相似文献
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广义(k,n)-门限方案 总被引:13,自引:1,他引:13
1979年,Shamir提出的(k,n)-门限密钥分散管理的概念使密钥管理更加安全灵活。但这一方案也有其不完善之处,因为在现实中参与密钥管理的人在系统中所处的地位不尽相同,有许多活动必须要求某些特定的人参与才能进行。本文考查了此类情形,将(k,n)-门限方案加以推广,提出了更为一般的(t,k,n)-门限方案,给出(t,k,n)-秘密分享矩阵的概念,并利用(t,k,n)-秘密分享矩阵实现(t,k,n)-门限方案。 相似文献
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(n,1,m)递归系统卷积码的盲识别 总被引:1,自引:0,他引:1
递归系统卷积码(RSC码)是Turbo码子编码器常采用的编码形式。针对(n,1,m)递归系统卷积码的盲识别问题,给出了完整的编码参数和生成多项式识别方法。首先,采用矩阵分析法先求得卷积码参数,避免后续识别生成多项式时因参数循环估计带来的额外计算量。然后,根据RSC码的特性推导出生成多项式识别模型,给出了模型的具体求解步骤,并对所采用的Walsh-Hadamard变换算法进行了介绍。最后,运用Matlab平台进行仿真验证。仿真结果表明,该方法容错性能明显优于常规方法,在误码率为10-2条件下成功识别概率能达到90%,对于Turbo码的进一步研究具有重要意义。 相似文献
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简析了利用单向函数给出的一个基于计算安全的(t,n)-门限多级密钥共享方案,并给出了该方案的一个改进方法,此方法可以检测欺骗者. 相似文献
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(n,F,k)系统由n个单元组成,当且仅当大于F个单元发生故障,或者k个或k个以上相邻单元发生故障,则系统失效本文提出了(n,F,k)系统可靠性的一般计算公式,并给出该系统可靠性的上下界。 相似文献
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A k-within linear connected-(r, s)-out-of-(m, n) failure system is a two-dimensional grid whose components are ordered like the elements of an (m, n)-matrix. A k-within circular connected-(r, s)-out-of (m, n) failure system consists of the intersection points of m circles centered at the same point with n rays starting from that point and crossing the circles. The components of both systems either operate or fail. By definition, a k-within (linear or circular) connected-(r, s)-out-of-(m, n) failure system fails if at least one (r, s)-submatrix contains k or more failed components. These systems are used as mathematical models for design and operation of many engineering systems. For systems with statistically independent and identically distributed components, a lower and upper bound of system reliability are derived using improved Bonferroni inequalities. These bounds are easy to compute and provide good estimates for system reliability. New bounds for the reliability of other connected-(r, s)-out-of-(m, n) failure systems existing in the current literature are also obtained. Several failure systems with various values of the parameters k, r, s, m, n and p are used as numerical examples for comparison and illustrative purposes. 相似文献
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ZHANG Xian-di 《电子科技学刊:英文版》2004,2(4):72-75
The diameter of a graph G is the maximal distance between pairs of vertices of G. When a network is modeled as a graph, diameter is a measurement for maximum transmission delay. The k-diameter dk(G) of a graph G, which deals with k internally disjoint paths between pairs of vertices of G, is a extension of the diameter of G. It has widely studied in graph theory and computer science. The circulant graph is a group-theoretic model of a class of symmetric interconnection network. Let Cn(i, n/2) be a circulant graph of order n whose spanning elements are i and n/2, where n4 and n is even. In this paper, the diameter, 2-diameter and 3-diameter of the Cn(i, n/2) are all obtained if gcd(n,i)=1, where the symbol gcd(n,i) denotes the maximum common divisor of n and i. 相似文献
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介绍RTD器件几种主要器件结构及每种器件结构的优、缺点和应用前景,并介绍了RTD通用制造工艺和工艺中的关键问题。 相似文献