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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
针对含先进先出存储器(FIFO)电路板故障检测的问题,提出一种基于边界扫描技术编写Macro对FIFO进行读写数据的测试方法,介绍边界扫描技术测试FIFO的基本原理。通过设计适配板,应用边界扫描测试工具ScanWorks,建立边界扫描链路,编写Macro测试代码,利用JTAG接口进行间接控制,实现对FIFO进行故障检测。给出了测试系统硬件框图、简述了适配板设计要点,提供FIFO电路连接图和软件流程图,并分析FIFO测试的完备性,最后还对FIFO进行了测试验证。  相似文献   

2.
基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试,并诊断出硬件问题。首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案。  相似文献   

3.
集成电路(IC)的迅猛发展促进了测试技术的研究和发展,支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,使得边界扫描测试技术日益被重视。Tcl语言是一种简明、高效、移植性强的语言,它与边界扫描技术的结合,扩展了芯片测试技术的应用,使得IC的测试更加灵活。本文以DualSRAM的测试设计为例,介绍了以边界扫描技术为基础的Tcl语言的应用,同时根据测试开发中遇到的问题,提出了一些可测性设计(DFT)的建议。  相似文献   

4.
边界扫描测试技术的原理及其应用   总被引:3,自引:1,他引:2  
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149.1—1990标准以后,边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术,不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位。同时,大大减少了产品的测试时间,缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点,而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构,讨论了边界扫描技术的具体应用。  相似文献   

5.
90年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革,边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术,介绍一个基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。  相似文献   

6.
机载电子设备可测试性设计已成为飞机设计的重要组成部分,可提高电子设备的可用性及飞机的综合效能。本文结合机内测试、自动测试、边界扫描测试,维修总线等测试技术,介绍了边界扫描技术在民航飞机音频系统可测试性设计中的应用,然后讨论可测试性分配问题。以便在飞机总体设计和相应的系统设计过程中全面考虑其可测试性问题,使其成为机载电子设备的固有属性。  相似文献   

7.
朱振军  林明  宋月丽 《电子设计工程》2012,20(9):127-129,133
随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器"探针",已不能满足板级测试的需求,相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析,根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程,最后在通用测试的基础上进行了二次开发,提出了提高电路板测试覆盖率的方法。  相似文献   

8.
王孜  刘洪民  吴德馨 《半导体技术》2002,27(9):17-20,29
边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用.  相似文献   

9.
IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改近的自适应测试生成算法。实验表明该算法具有完备的诊断能力和紧凑性指标较低的优点,是一种性能优良的完备测试生成算法。  相似文献   

10.
本文介绍了一款基于65nm工艺的数字处理芯片的可测性设计,采用了边界扫描测试,存储器内建自测试和内部扫描测试技术。这些测试技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案,实验结果表明该设计的测试覆盖率符合工程应用要求。  相似文献   

11.
根据IEEE1149.X标准和VXI总线规范,采用EDA技术对VXI边界扫描模块的接口电路进行了研究和设计,通过仿真和实际测试验证了设计的正确性,很好地将VXI总线技术和边界扫描技术融合在一起,成功研制了一种符合IEEE1149.X标准的C尺寸VXI边界扫描模块。在VXI总线测试领域拓展了边界扫描测试功能,不增加测试系统的成本和复杂性,解决了VXI总线应用领域集成电路的测试问题。  相似文献   

12.
边界扫描SRAM簇板级互连测试研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
由于边界扫描结构的复杂与费用的关系,在现代电子电路中广泛使用的静态随机存取存储器还很少包含边界扫描结构.本文提出了一种能完全实现SRAM簇互连测试的方法,该方法能检测SRAM簇控制线、数据线和地址线的板级互连故障,且测试长度较短.  相似文献   

13.
文章提出一种应用在SoC系统中的开发接口,用于边界扫描测试、调试、程序流跟踪等。在处理器、外设内核和开源(GDB)、商业的调试/仿真器或边界扫描测试设备之间提供支持。通过IEEE1149.1JTAG协议接口提供外部调试/仿真器、边界扫描测试设备与内核之间的连接。为了使设计具有实用价值和通用性,该设计重点实现了硬件调试功能中最基本最重要的部分,力求结构简洁、工作可靠。文中的设计通过仿真验证,证明其设计可靠、方案可行,具有很好的实用价值。  相似文献   

14.
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法。但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的Bs器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和在线仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题。为了解决上述问题,文中提出了两种基于边界扫描技术的板级动态链路设计方法。该方法不仅能完成边界扫描测试,还能完成在线编程或在线仿真等功能,具有很好的测试设计灵活性。  相似文献   

15.
针对路灯杆基站的现状进行查勘调研和安全隐患分析,在确保路灯杆基站结构承载安全、满足网络发展需求的前提下.制定新建路灯杆基站的工程设计、基础施工标准及利旧路灯杆基站的利旧改造方案,力求在路灯杆项目的工程建设中实现标准化操作,提高工作效率并节约生产建设成本,促进移动通信事业的健康发展。  相似文献   

16.
In this paper, dynamic traffic load is considered to determine optimal location of base station (BS) using evolutionary optimization algorithms. The various parameters such as site coordinates (x, y), transmitting power, height and tilt are taken as design parameters for BS placement. Coverage maximization and cost minimization are considered as two conflicting objectives with inequality constraints such as handover, traffic demand and overlap. RGA and MNSGA-II algorithms are used to solve single objective and multiobjective BS placement problem respectively. A $2 \times 2\, \text{ km}^{2}$ synthetic test system is discretized as hexagonal cell structure for simulation purposes. Receiving field strength for all service testing points is calculated using simulations and path loss is calculated using Hata model. In dynamic traffic model, both vehicle and pedestrian movements in up and side directions are considered. Dynamic movement is achieved by randomly moving vehicles and pedestrians for a fixed speed in each sample time. The results show that the RGA is able to determine the optimal BS location after considering the dynamic traffic load and satisfying inequality constraints for both coverage maximization and cost objectives. MNSGA-II algorithm gives well distributed pareto-front for the multiobjective BS placement in single simulation run. The simulation results reveal that the proposed dynamic traffic model is suitable for the real world BS placement problem.  相似文献   

17.
分析了以TD-LTE基站的最近站间距、平均站间距、站高、第1层邻区数作为分类的特征数据,以每个基站实际测试的下载速率为优化目标,构建了决策树算法,将基站类型分为5类。通过实际测试数据验证表明,该方法的精度较高,从而为TD-LTE建网初期新站规划提供了参考。  相似文献   

18.
基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术   总被引:2,自引:1,他引:2  
王宁  董兵 《半导体技术》2005,30(12):38-41
由BS器件和非BS器件组装的非完全BS电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,如何对它们应用边界扫描测试是板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题.本文从非完全BS电路板的测试性优化设计入手,举例说明了基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术的原理和过程.  相似文献   

19.
随着无线网络的发展,基站架构也不断演进。详细介绍了传统基站、分布式基站、有源天线基站的架构,对比了其优缺点,说明了演进到有源天线基站的必然性。针对有源天线,明晰其概念,给出了设计思路,探讨了其技术优势。有源天线可通过波束成形覆盖更多小区,完全可满足未来低能耗、低成本绿色移动通信系统的发展要求,将成为基站演进的必然趋势。  相似文献   

20.
cdma2000 1X+EV—DO基站系统实用配置方法   总被引:3,自引:2,他引:1  
从现实工程设计部署的连贯环节和常见外部条件出发,遵循系统原理,从1X和DO的覆盖和容量能力分析、站距站型构造、载波设置等方面对cdma2000 1X+EV—DO系统基站设置做了细节的推敲论证,给出了操作层面的建议。  相似文献   

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