光纤通信中光电检测器的应用探讨

光电检测是光电技术的重要组成部分,是对光量以及大量非光物理量进行测量的重要手段。在光纤通信传输系统中,光电检测器是光接收机实现光、电转换的关键器件,它的带宽和灵敏度等特性参数直接影响着光纤传输系统总体的性能[1]。     

CMOS APS光电器件单粒子效应脉冲激光模拟实验研究

CMOS APS光电器件因低功耗、小体积的特点已成为遥感卫星成像的重要发展方向。随着半导体技术的不断进步,其单粒子效应已经成为一个影响可靠性的重要因素。针对CMOS APS光电器件,利用实验室脉冲激光模拟单粒子效应设备模拟了重离子在APS光电器件中引起的辐射损伤,分析了CMOS APS光电器件内部不同功能单元对单粒子效应的敏感性,获得了单粒子效应敏感参数。结果表明,CMOS APS光电器件在空间辐射环境中会诱发单粒子翻转和单粒子锁定。研究结果为进一步分析CMOS APS光电器件的抗辐射加固设计提供了理论支持。     

生产用自控设备应纳入计量管理

<正>自控设备是根据本身测量系统的测量值,由可编程器件运行程序,控制执行机构,实现生产的自动化。测量机构实时检测执行机构的运行状态,为控制系统发出指令提供依据,保证自控设备的正常运行。依据JJF1001-2011《通用计量术语及定义》6.1条款中将"单独或与一个或多个辅助设备组合,用于进行测量的装置。"定义为计量器具。因此,自控设备可视为具有测     

自扫描光电二极管阵列光电信号测量系统及其测试实例的研究

本文介绍了一种利用自扫描光电二极管阵列(SSPDA)图象传感器作为光电转换器件,可用于大面积显示器件图象质量评价和测微领域的测量系统。该系统由光学成象、SSPDA图象传感器、数据采集、接口电路和微型计算机等部分组成,能对各种被测量参数进行处理,并打印出数据和曲线。通过对彩色显象管(CPT)的线宽、三束间距以及光学狭缝等的测试,该系统显示了足够的测量精度。     

医用磁共振成像设备关键技术参数的测量不确定度分析与评定

正一、医用磁共振成像设备(以下简称"MR设备")关键技术参数测量简述1.测量条件及设备测量条件满足JJG(黔)16-2018《医用磁共振成像(MR)设备检定规程》规定的温湿度、大气压等环境条件。所用测量设备有:(1)磁感应强度测量仪(也称磁场强度计):测量范围为0~3T,分辨力为0.1mT,准确度等级为0.5级。(2)核磁共振性能检测模体:美国模体实验室生产,型号为SMR170,内有空间分辨力、低对     

检测实验室中的不确定度

<正>一、概述在国家计量技术规范JJF1001-2011《通用计量术语及定义》第9.46款中,检测(testing)被定义为"对给定产品,按照规定程序确定某一种或多种特性、进行处理或提供服务所组成的技术操作。"可见检测实验室的对象是给定的产品;而检测所用的仪器设备或测量设备至关重要,其正确与否需要用测量标准进行校准(参见JJF1001-2011第4.10款),其合格与否则需要进行检定(参见JJF1001-2011第9.17款),可见校准/检定实验室的对象是测量设     

三代微光器件的测试和评估技术研究

在已有的负电子亲和势(NEA)光电阴极特性评估技术的基础上,研制了三代微光器件的测试和评估系统工程样机,用于对三代微光器件的光谱响应等参数的测试和激活过程中的工艺信息监控,通过分析计算可获得三代微光器件光电阴极的表面逸出几率、载流子扩散长度和后界面复合速率等参数.利用该系统对三代微光像增强器进行了测试和评估,文中给出了测试结果并加以分析.     

MEMS在片测试系统电容参数校准技术研究

正一、引言MEMS晶圆片测试是MEMS传感器产品整个工艺流程中必不可少的重要环节,MEMS在片测试系统就是为适应晶圆片测试的特殊需求而专门配备的测试设备。该类设备的集成度和自动化程度高,能够根据需要对晶圆片上的MEMS器件芯片进行多参数的检测,测量准确度高。在片电容是MEMS晶圆片测试的核心参数,其准确程度直接影响MEMS器件的质量,因此保证在片电容参数校准的准确度至关重要。在片测试系统的电容参数技术指标如表1所示。     

非接触式光纤内螺纹测试装置

为克服接触式测量内螺纹方法的不足,研制了基于强度调制型光纤传感器的非接触测量装置.通过与特制的机械结构相结合.实现了相对效率高、速度快、且便于应用的内螺纹参数的测量.该装置主要由进给平台和光纤探头组成,同时采用半导体激光光源(LD)作光源,光电二极管为光电转换器件.测量的信号经光路转换及前置放大后,通过采样保持送入数据采集系统,经数据处理软件Matlab进行处理得出螺距误差.实验表明,经适当改进后,该方法可用于工业生产过程中内螺纹的非接触测量.     

检测和校准设备的配备和管理

正CNAS-CL01:2006《检测和校准实验室能力认可准则》第5.5条指出:"实验室应配备正确进行检测和/或校准(包括抽样、样品制备、数据处理和分析)所要求的所有抽样、测量和检测设备。"本文针对此条款,对检测和校准实验室设备配备及有关的人员要求、环境要求、设备使用、管理范围等进行探讨。一、设备配备的总体要求仪器设备是检测和校准实验室建设的一个重要组成部分,在"人、机、料、法、环、测"等几大基础     

建筑构件隔声量智能实验室测量系统的应用研究

针对传统建筑构件隔声量实验室测量方法,研制了基于物联网技术的隔声量智能实验室测量系统。通过引入无线测量方案,减少测量设备的使用,开发智能移动终端测量控制软件,满足建筑构件隔声量自动精准测量的要求,使得隔声测量更加智能和便利。实验测量结果表明:测量设备和测量系统满足JJF 1789—2020《隔声测量室校准规范》和GB/T 19889.3—2005《声学 建筑和建筑构件隔声测量 第3部分》的要求,可以实现建筑构件隔声量的精准快速测量,提高测量效率约1倍,通过不确定度分析得出隔声量的最佳不确定度为1.0dB。     

发光器件测试仪示值检定方法探讨

半导体发光器件测试仪主要用来测量半导体发光器件在可见波段范围的光、电参数。本文就发光二极管（ＬＥＤ）光电参数测试仪（以下简称为仪器）法向发光强度示值检定方法作一探讨。     

测试实验室计量认证对技术资料管理的要求及其实践

<正> 测试(test)是指对给定的产品、材料、设备、生物体、物理现象、工艺过程或其他物质,按照规定的程序确定一种或多种特性或性能的技术操作。测试也可理解为测量和试验的综合,通过测量和试验所得出的各种数据,经过分析、比较,往往被用于判定事物或物体量“多少”与品质的“好坏”,因此数据是否准确可靠,就成了测试实验室的首要问题。为此,《计量法》及《计量法实施细则》规定,凡是向社会提供公证数据的测试实验室都应通过计量认证,并按照JJG1021-90产品质量检验机构计量认证技术考核规范(以下简称《规范》)进行考核。技术资料的管理是测试实验室管理的重要组成部分,《规范》要求:     

锦富新材薄层石墨烯粉体项目中试线已进行投产

正6月7日,锦富新材在投资者关系互动平台上表示,公司参与的薄层石墨烯粉体生产中试项目,相应的中试线建设已经完成并进行试产。目前石墨烯产业还处于应用初级阶段。公司在努力稳定液晶显示模组和光电显示薄膜器件等传统业务的同时,重点开拓智能检测治具、自动化智能装备系统及曲面智能电视整机的ODM等业务以提升公司业绩。     

从参考太阳电池到太阳电池组件的量值传递技术研究

为实现太阳电池光电参数测量条件的一致性,进而保证测量数据的准确性、实验室间测量数据比对及互认的公正性,该文通过对太阳电池的开路电压温度修正、短路电流温度修正、太阳辐照强度修正等量值传递技术的研究,完成参考太阳电池在标准状态(STC)下的量值传递到室外自然环境下的太阳电池组件,实现对非标准条件下太阳电池组件光电参数的STC修正。太阳电池组件修正后的开路电压值、短路电流值与STC条件下的开路电压值、短路电流值相对偏差分别为-0.95%、0.58%。该量值传递技术及其方法为非STC条件下太阳电池组件光电参数实验室间比对及互认提供可能。     

测量过程的计量要求导出、验证和不确定度的评定

文章以"集汽联箱蒸汽压力测量过程"为例,介绍了企业在按GB/T 19022—2003《测量管理体系测量过程和测量设备的要求》标准建立测量管理体系时,计量职能部门如何导出测量过程的计量要求、如何选用(配备)测量过程的测量设备、如何将测量过程的计量要求与测量设备的计量特性进行比较实现测量设备验证以及如何按照JJF 1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》评定测量过程的测量不确定度。     

广泛用于电致发光器件测量的装置及其自动化控制

通过Vb程序平台编制了一套控制及数据处理系统,对测量电致发光器件的装置进行了自动化程序控制,使用户可以极为方便的获取不同偏压下电致发光器件的Ⅳ特性曲线及光学参数.该套系统已成功地用于中科院理化所、化学所,中国电子科技大学,北京大学等单位,是一种广泛用于评价电致发光器件的系统方案.     

广泛用于电致发光器件测量的装置及其自动化控制

通过Vb程序平台编制了一套控制及数据处理系统,对测量电致发光器件的装置进行了自动化程序控制,使用户可以极为方便的获取不同偏压下电致发光器件的IV特性曲线及光学参数。该套系统已成功地用于中科院理化所、化学所,中国电子科技大学,北京大学等单位,是一种广泛用于评价电致发光器件的系统方案。     

国外光学研究、生产单位及其业务范围简介(一)

据《光学工业与系统指南》(1972-1973年第19版)报导的材料统计,国外(苏修及东欧各国除外)研究与制造光学、光电仪器、设备、装置及其器件、元件、材料的公司,厂商企业,至1972年末为止,约共有1692家。其分布情况如下:     

计量确认中有关计量验证的探讨

为了确保测量设备的计量特性持续地满足测量过程的计量要求,对测量设备应进行计量确认GB/T19022-2003《测量管理体系测量过程和测量设备的要求》(IDTISO10012:2003)中对"计量确认"的定义为:"为确保测量设备符合预期使用要求所需要的一组操作。"同时给出的注释明确指出:计量确认通常包括校准、验证和各种必要的调整或维修及随后的再校准、所要求的封印和标签。