IEC 61967系列-集成电路辐射发射测试方法分析

本文介绍了国际标准IEC 61967系列标准中关于集成电路辐射发射测量方法.同时,对标准给出的TEM小室和GTEM小室法、表面扫描法、IC带状线法的测试原理,试验布置及测试方法的特点进行了说明,以帮助测试人员根据不同种类的IC进行选择相应的试验方法.     

基于横电磁波小室的IC辐射发射测试方法研究

集成电路(IC)的发展呈现出小型化和集成化的趋势,使得IC电磁辐射越来越强,准确测试出IC电磁辐射对于集成电路电磁兼容设计有重要意义。横电磁波(TEM)小室法是目前最常用的IC辐射测试方法,它使用方形测试板,测试四个角度(0°, 90°, 270°, 360°)的IC辐射值,然而IC电磁辐射具有角度效应,仅用四个角度无法准确测试出IC最大电磁辐射水平。文中基于TEM小室全波仿真模型,使用单根微带线,验证了角度对于IC辐射的影响。设计了基于STM32芯片的圆形测试板和方形测试板,利用TEM小室测试了不同角度、不同模式下的STM32芯片电磁辐射,测量结果证实了不同模式下圆形测试板的测试结果都要大于方形测试板,最大偏差达到16 d Bm,因此圆形测试板更能准确测出芯片的最大电磁辐射水平。     

IEC 62132抗扰度测试方法研究

介绍关于集成电路电磁抗扰度测量方法的国际标准IEC 62132。对标准给出的四种方法——TEM小室和宽带TEM小室法、大电流注入法、射频功率直接注入法及工作台法拉第笼法的测试原理,试验布置及测试过程中的注意事项进行了说明,列出四种方法的不同点,以帮助测试人员根据不同的IC特点选择相应的试验方法。     

集成电路辐射敏感度混响室测试方法

介绍了混响室测试法的工作原理,并通过对GTEM法与混响室法的测试方法和测试结果的对比分析,表明混响室测试方法在1 GHz以上的高频范围测量集成电路(IC)的辐射敏感度更有优势.     

2010 IEEE EMC学术研讨会——获奖文章

用等效的偶极子模型模拟集成电路（Ic）的电磁辐射情况。由于Ic的高度通常远远小于其长度和宽度，所以只需要三个偶极矩就足以模拟Ic的电磁发射特性。偶极矩模型可以通过三次TEM小室测量提取出来。     

集成电路工程化测试方法研究

现今集成电路测试需求不断增加,为保障批量工程化生产测试环节的顺利进行,提高测试机的测试效率,对目前批量测试过程中容易出现的OS和功能工程测试环节故障进行诊断分析,排除一些常见的故障,实现芯片的快速生产测试。     

集成电路电磁骚扰测试方法

分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理,简要说明了集成电路电磁骚扰的几种测试方法及其理论依据,介绍了法拉第笼法与磁场探头法的测试系统及其在产品设计方面的应用前景.     

集成电路测试的质量

文章从技术的角度出发,讨论了保证集成电路(IC)测试质量的一些问题,内容涉及IC测试的硬件基础,关于IC测试软件的若干要素和必要的规章制度等三个方面。     

集成电路FT制程高压测试方法研究

随着经济发展和科学技术的进步,集成电路(Integrated Circuit)产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。     

汉字识别专用集成电路测试方法研究

本文扼要阐述了汉字识别专用集成电路THGA3640的原理和功能。通过分析该电路的逻辑功能,给出测试此类电路的故障模型、测试算法和测试方案,提出了算法测试反写响应法的测试方法AUTRWM(Algorithms Used forTesting and Rewriting Method)。作者应用这种方法得到了一套可信的测试码和比较可信的预期输出测试集和测试图案。通过对该电路大量芯片测试,表明效果较好。     

电能计量专用集成电路的测试方法研究

随着微电子技术的飞速发展，电子数字式电能表是近年来发展很快的一种电能表，它应用微电子技术把被测电能变成一串脉冲，由电子计数器计数，并用数码管直接显示电能，为智能电表、LED显示电表、预付费电表、集中抄表系统等方向发展奠定了基础。     

集成电路(IC)人才成才规律研究

在当前全国IC产业蓬勃发展之际，IC人才需求及培养已成为业界人士共同关注的话题，本文通过对IC人才特点与成才之路的研究，认识到IC产业人才成长的若干规律，并由此探索了相关的成才之路。     

集成电路测试仪器选购点滴

集成电路是微电子产业的主流产品,是电子产品的核心部分。集成电路测试仪器是研究、设计、试制、生产、应用集成电路必不可少的关键仪器,集成电路被用于什么领域和部门,集成电路测试仪器也就随之进入什么领域和部门。从用途来说,集成电路测试仪器只用于测试集成电路。从应用领域来说,它用于一切和集成电路打交道的单位:不管它是工厂、企业,还是科研机构和学校;不管它是军用或民用机构,还是生产和维修机构;不管是计算机行业、通信行业,电视机行业、家用电器行业、医疗设备行业,导弹卫星行业,还是其他什么行业。随着集成电路技术进步、品种增多、用量增大,其应用日益广泛。关心和应用集成电路测试仪器的单位和部门也越来越多。怎样选购集成电路测试仪器,就成了大家普遍关心的问题。这里,简要介绍选购集成电路测试仪器的各种问题供大家参考。     

ETS系列新一代集成电路测试系统

测试IC/PCB/MCM……测试数字电路,混合信号电路…… 25兆赫—100兆赫测试速率 100ps、50ps分辨率 32 I/O管脚——512 I/O管脚 64Mbyte/s超高速接口     

集成电路（IC）电压基准

集成电路(IC)电压基准器件虽小却是现代化电子系统中的一个关键性器件。选择适当,使用正确能使系统达到高超的性能。集成电路电压基准是有源器件,在设计、封装和使用上都潜藏着许多技巧。使用得当能使其性能始终一致,高度准确和稳定,充分发挥其效能。集成电路电压基准现已广泛地应用在通信系统和数字化系统中。例如用于设定解码器的门限电平,数字电压表中的电压基准,锂电池充电器设定关断点等。为了充分发挥其性能,除了选用技术指标适当又经严格挑选的型号之外,在印制电路板上的安装位置也要讲究,如装在恒温装置里和应力小的位置上。