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周仁 《电子标准化与质量》1998,(4):17-18,41
本文猜测了美国电子工业协会标准EIA554-1988《用百分率(PPM)表示检出不合格品水平的差估计》方法A中“(d+0.7)/n”的来历,同时推荐了波氏(Borchev)算式并给出了直接计算之BASIC程序。 相似文献
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周仁 《信息技术与标准化》1998,(5)
(上接1998年第4期第41页)四、波氏算式从上述情测“(d+07)/n”来历的过程中不难看出,EIA554-1988%出的实用近似计算式非常简便,但由此算式给出的结果有点偏大。为此,笔者推荐用波氏(Borchev)近似计算式’嘈代EIA554-1988方法A给出的实用近似计算式。即Zm,x,。‘、P二百7千六大>一口1)”BZn-d+m,。。一,其中n是被检测过的电子元器件总数,d是在被检测过的电子元器件中发现的不合格电子元器件总数,m。。查本文表l。[例则若n=IOO.d=O,则据(2)式把[例1]得出的ps=O·O()代入(l)式等号左边算出门一O… 相似文献
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周仁 《信息技术与标准化》1998,(4)
本文猜测了美国电子工业协会标准EIA554-1988《用百万分率(PPM)表示检出不合格品水平的点估计》方法A中“(d+0.7)/n”的来历,同时推荐了波氏(Borchev)算式并给出了直接计算之BASIC程序。 相似文献
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杨建军 《激光与光电子学进展》2004,41(4):39-47
随着科学技术的不断发展,世界正在向光子时代迈进.目前的各种电子元器件正在被全光学元件所取代,并将其逐步微小化和集成化在一个紧凑的功能系统内,成为高速信息处理的新兴发展方向。对光通讯来说,这就意味着要在一个单独的“芯片”上生产出包括方向连接器、带通滤波器、多路复用器、 相似文献
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《电子产品可靠性与环境试验》2006,24(5):6
86 GB/T 5594.7—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测定方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for liquid permeability 相似文献
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《电子产品可靠性与环境试验》2005,23(3):44
1.GB/T 1772—1979电子元器件失效率试验方法Determination of failure rate of electronic elements and components。 相似文献
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《电子产品可靠性与环境试验》2006,24(4):45
GB/T5594.3—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法,GBfr5594.4—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法,GBfr5594.5—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 相似文献
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随着电子技术的飞速发展,电子元器件的体积和功耗逐步减小,印制电路板的布线密度越来越大(线宽和线间距减小),对铜箔提出了更高的要求,导致电解铜箔生产技术和工艺日趋复杂、愈来愈先进。多年来,惠州联合铜箔公司一直致力于高档电解铜箔的研制工作,经过不懈的努力,攻克了无数的技术难关,开发出具有国际先进水平的多种高档电解铜箔产品。该产品采用独创的“连体机”生产工艺设备,克服了国内同类产品在外观形态等方面的缺陷,产品质量全面达到或超过IPC(美国电子电路管理经验连与封装协会)技术标准,性能价格比高,是优良的进口替代产品。 相似文献
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大家都还记得1997年好莱坞那 部卖座的科技搞笑片动作《黑 超特警组》(Men In Black,简 称MIB)吧?这部片子里,两大红星汤米·李·琼斯和威尔·史密斯饰演未来超级警察,身着简练帅气的黑衣黑裤,头戴功能超强的墨镜,大展身手,电影卖座的同时也令这套经典装束成为了当年流行全球的青少年打扮。当打开这套雅锐音箱 相似文献