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仲振 《激光与光电子学进展》1985,22(4):44
为了探测难以捉摸的引力波,已设计了一种干涉仪装置,其两路激光束长达5 km。科学家们正在试图对爱因斯坦最先提出的引力波进行首次验证性观测,按照爱因斯坦广义相对论,引力波与电磁波类似。星系的扰动,也许是超新星的非对称爆炸或两个黑洞之间的碰撞都可产生引力波,并能对地球上的物体施加微弱的影响。目前尚处设计阶段的一个雄心勃勃的探测装置涉及麻省理工学院和加省理工学院的科学家。 相似文献
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张国轩 《激光与光电子学进展》1986,23(6):47
洛斯·阿拉莫斯国家实验室的M. Piltch已设计出一种微波触发的激光开关,这种开关能以很高的重复频率提供短脉冲高功率的直流电,而且效率高,维修费用很低。 相似文献
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N/A 《激光与光电子学进展》1976,13(12):42
在不到百万分之一秒的时间内用激光束照射铝和其他合金的焊接区,可以使其具有与接合的金属同样程度的强度。这项为期二年的研究投资85200美元,据说已能成功地使铁和铝合金冲击硬化,已增加铝合金焊区的强度。预期激光束可能用于金属表面如齿轮和滚珠轴承的冲击硬化以提高其耐用性。这项研究还将扩大到一些新的合金,并期望发展一种说明激光产生冲击波的更好的理论模型。另一个目标是处理金属的表面,这样激光能量可能更为有效。 相似文献
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本文讨论了激光束在弱湍流大气中传输时平面镜反射回波的光束短期和长期扩展增加效应。结果表明激光回波的光束短期扩展反射放大率近似但大于其长期扩展反射放大率。聚焦光束的长期扩展增强率为1.52,短期扩展的增强率略大于1.52。 相似文献
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N/A 《激光与光电子学进展》1973,10(11):43
菲利浦研究实验室发展了一种利用激光束自动地测量和控制全部晶体生长过程的新方法。据说,这种方法能普遍应用,与晶体的材料、坩埚的形状或诸如此类的东西无关,并且晶体的直径可在1%范围内保持恒定。 相似文献
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徐新明 《激光与光电子学进展》1988,25(3):41
口立公司开发的“激光辅助的微型注射器”,是世界上首次采用激光朿的基因转移系统,已于1986年7月1日出售。该公司理化学研究所开发这一系统的目的是在细胞膜上瞬间形成微孔,采用具有60毫焦、朿径小于0.5微米、355纳米(紫外区)波长的徼光朿。 相似文献
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1.前言在激光束空间的图形(光束参数)的解析中,有光电二极管扫描方式和TV相机方式。但最近相机方式一般采用二维、高速、脉冲对应方式。特别是用计算机处理图像数据,所以用相机 图像处理装置 计算机进行光参量的解析、存储、数据输出的应用不断增加。 相似文献
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包国菁 《激光与光电子学进展》1985,22(4):27
高能物理实验需要使用闪烁器和光导管。在闪烁器里,高能量的元质点与辐射相互作用形成闪光。光通过光导管导向二次电子倍增器,并转换成实验中用于控制和计算的电讯号。 相似文献
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N/A 《激光与光电子学进展》1970,7(12):37
用激光束绘制复杂集成电路的图案仅需一般机械操作时间的六十分之一。美帝贝耳实验室目前用这种装有激光器的机器在影印的掩膜上产生电路图案。 相似文献
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《电子工业专用设备》1977,(2)
用光点对半导体扫描,检测光电流等从而了解半导体的特性,这种方法很早就为人们所采用了,但是将激光作为光源使用只是从1960年下半年开始的。之所以利用激光作为光源因其具有光束容易汇集,能量密度大,容易偏转等优点。扫描的优点是可将二维信息转变为一 相似文献
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用激光束精密测量费尔德常数钱小陵(首都师范大学物理系北京100037)磁光法拉第效应在激光技术、物质结构研究、化学物质鉴定等方面有广泛用途。为提高测量精度,采用激光是最佳途径。随着半导体激光器的发射波段向蓝紫发展,其优越性更为突出。目前有关的商品仪器... 相似文献
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日本电气株式会社开发了一种能在LSI生产线上高效检查极板灰尘和图形缺陷等障碍的技术“LB显示器”。 激光束对着极板斜向射入。极板上的图形有规则地排列 起衍射光栅的作用。新技术的要点是用空间滤波器去除图形的散射光。这样 正常极板发出的光不会射入显微镜。如果图形上有缺陷或吸附有灰尘 就能观察到散射光。 利用激光束检查极板以前曾有过。其光学系统比较复杂 除了物镜成像透镜外 还有中间透镜等。而LB显示器的光学系统简单 光学检查探头约为以前的一半 可实现小型轻量化。装置的设置面积可减到以前的/。以前 《激光与光电子学进展》2001,(4):63-64
日本电气株式会社开发了一种能在LSI生产线上高效检查极板灰尘和图形缺陷等障碍的技术“LB显示器”。
激光束对着极板斜向射入。极板上的图形有规则地排列,起衍射光栅的作用。新技术的要点是用空间滤波器去除图形的散射光。这样,正常极板发出的光不会射入显微镜。如果图形上有缺陷或吸附有灰尘,就能观察到散射光。
利用激光束检查极板以前曾有过。其光学系统比较复杂,除了物镜、成像透镜外,还有中间透镜等。而LB显示器的光学系统简单,光学检查探头约为以前的一半,可实现小型、轻量化。装置的设置面积可减到以前的1/5。以前的检查装置不能编入生产线,设置在另外的检查区域。LB显示器可设置在制造装置附近,因为光学头简单,故可靠性高,有利于维护。
因为能把检查结果即刻反映到生产线上,故大大提高了成品预测精度。现在,LSI生产方面的研究开发费、设备投资年年都在膨胀,为回收这笔费用,须开发新工艺、新装置,极力缩短从制作到批量生产和成品提高的时间。新技术有助于这些课题的解决。 相似文献