泰克在2009年英特尔信息技术峰会上展示最新的高速串行测试解决方案——最新解决方案支持新兴的SuperSpeed USB（USB3．0）、PCI Express 3．0、第三代串行ATA和10G以太网技术

泰克公司在2009年4月8日北京富力万丽酒店举行的2009年英特尔信息技术峰会（IDF 2009 Beijing）上展示最新的高速串行测试解决方案。作为领先的先进高速串行技术测试解决方案提供商，泰克将演示其为USB3．0、PCI Express3．0、第三代串行ATA和10G以太网开发的尖端测试解决方案。     

高速串行信号的接收端测试

随着高速串行信号速率的提高,接收机测试已经成为串行数据标准要求的一项必测项目,如USB 3.0、PCIE Gen 3、SATA Gen 3等超过5Gbps速率以上的规范均要求进行接收端性能测试.接收端测试需要测试仪器能够发出特定的协议码型并能进行误码检测.本文将简要介绍接收端测试的基本概念、基本原理以及力科的接收端测试...     

泰克公司推出业内首个针对新10 Gbps SuperSpeed USB规范的测试解决方案

中国上海,2013年7月8日——泰克公司日前宣布,推出对其USB 3.0测试解决方案的一系列增强特性,包括业内首个针对SuperSpeedPlus 10 Gb/s规范的发射器测试解决方案。其他增强包括新USB 3.0基于示波器的分层解码功能,以及针对发射器测试的增强型自动化解决方案,其可使测试吞吐量提高多     

百佳泰测试实验室青睐力科USB3.0测试套件

<正>近期,力科公司宣布百佳泰测试实验室已选择力科的USB 3.0测试套件来完成USB3.0的兼容性测试。百佳泰将利用LeCroy的测试设备为USB3.0制造商提供全面的物理层和协议层、发射机和接收机的测试。除了USB3.0,力科将为百佳泰提供测试SATA和其它高速串行数据标准的完整解决方案。     

泰克AWG7000任意波形发生器积极响应客户的速度需求 快速、强大、易用的全能型AWG应对高速串行和宽带数字RF测试挑战

2006年9月25日，泰克公司（NYSE：TEK）宣布推出泰克新型AWG7000系列任意波形发生器（AWG）。AWG7000是快速的任意波形发生器，专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计。凭借5．8GHz的带宽，10位分辨率以及高达20GS／s的取样速率，AWG7000是能够生成高速、真实波形的AWG，包括预加重／去加重以及高达10Gb／s的多电平信号。AWG7000是适用于高速串行及宽带射频信号的最快、最强大、易用的全能型信号源。     

泰克公司推出AWG7000任意波形发生器，积极响应客户的速度需求

世界领先的测试、测量和监测仪器供应商泰克公司（NYSE：TEK）宣布推出泰克新型AWG7000系列任意波形发生器（AWG）。AWG7000是世界上最快的任意波形发生器，专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计。凭借5．8GHz的带宽，10位分辨率以及高达20GS／s的取样速率，AWG7000是唯一能够生成高速、真实波形的AWG，包括预加重／去加重以及高达10Gb／s的多电平信号。AWGT000是适用于高速串行及宽带射频信号的最快、最强大、易用的全能型信号源。     

泰克DSA70000示波器和P7500探头构成新一代高速串行数据测试平台的核心

2007年2月5日，泰克公司（NYSE：TEK）宣布推出新的DSA70000系列实时数字串行分析仪（DSA）和P7500探头，这两款新面世的产品将以其领先的测试性能为新一代高速串行数据应用标准（如PCI—Express2．0、HDMI1．3和SATAⅢ）的开发提供强有力的支持。这两款新品与泰克公司最近推出的DSA8200采样示波器和AWG7000信号发生器一起组成了一套完整测试产品线，而这一处于业界领先地位的测试产品将以无以伦比的性能满足从事高速串行数据技术开发工作的工程师们的需求。所有这些仪器都针对第2代和第3代串行数据的测试要求进行特别设计，以此向工程师提供全新的高速测试平台。     

泰克AWG7000任意波形发生器

泰克公司目前宣布推出泰克新犁AWG7000系列任意波形发生器（AWG）。AWG7000专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计。评借5．8GHz的带宽，10位分辨率以及高达20GS／s的取样速率，AWG7000能够生成高速、真实波形的AWG，包括预加重／去加熏以及高达10Gb／s的多电平信号。AWG7000是适用于高速串行及宽带射频信号的全能型信号源。     

泰克提供精确的超高速USB测试解决方案

新产品为工程师进行物理层USB 3.0发射机、接收机和电缆测试提供了完整的调试和一致性测试解决方案泰克公司日前宣布,为超高速USB(USB 3.0)设备的检定、调试和自动化一致性测试提供一套完善的新工具组。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-     

泰克助力技术创新，亚太论坛全面展开

泰克公司日前宣布,2009年泰克春季创新论坛于4月至5月在台北、新竹、首尔、上海和深圳等多个城市举办。泰克创新论坛将汇聚分别来自泰克和世界领先高科技公司的技术专家,共同探讨那些重塑数字时代的先进技术。今年会议的重点将放在高速串行测试解决方案上,包括先进计算机技术如USB3．0、PCIExpress 2．0／3．0、串行ATA2．0／3．0,显示技术如DisplayPort以及存储技术如DDR2／3。     

USB3.0一致性测试方法

在2008年11月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范.USB3.0又称为SuperSpeed USB,比特率高达5Gbps,相比目前USB2.0的480Mbps的速率,提高了10倍以上.Intel的芯片组也将很快全面支持USB3.0接口.USB3.0和USB...     

泰克公司推出下一代高性能任意波形发生器

新AWG70000系列任意波形发生器提供业内领先的50GS/s采样率,助力高速测试应用和高级研究2013年3月19日泰克公司宣布,推出采样率高达50GS/s的下一代任意波形发生器——新AWG70000。通过提供业内最佳的高采样率、长波形内存和深动态范围组合,新AWG70000系列任意波形发生器可满足宽带电子、高速串行通信、光网络及高级研究应用领域的广泛和高标准的信号发生需要     

不断发展的串行标准下的生存之道

众所周知,高速串行测试面临巨大挑战。泰克、安捷伦分别推出＂高速串行测试＂解决方案。在本专题中,他们将与大家分享开发串行测试系统的心得。     

泰克公司推出业内首个针对新10GbpsSuperSpeedUSB规范的测试解决方案 同时推出新的调试、自动测试工具来帮助加快USB3．0产品的上市速度

2013年7月8日泰克公司宣布,推出对其USB3．0测试解决方案的一系列增强特性,包括业内首个针对Super—SpeedPlus10Gb／s规范的发射器测试解决方案。其他增强包括新USB3．0基于示波器的分层解码功能,以及针对发射器测试的增强型自动化解决方案,其可使测试吞吐量提高多达60％。     

USB3.0设备控制器IP核OUT端点测试平台的研究与实现

从一款自主研发的USB3.0设备控制器IP核出发,完成USB3.0设备控制器IP核OUT端点模块3种传输模式(批量传输、中断传输和等时传输)的功能验证。通过Verilog语言搭建一个完整的OUT端点测试平台,测试平台包括USB3.0设备控制器IP核、主机模块(包参数产生模块、包产生模块、链路命令产生模块、包检测模块及链路命令检测模块)和应用核模块。实验测试结果与USB3.0 OUT端点3种传输模式的协议规范完全符合。该平台能够对USB3.0设备控制器IP核OUT端点的3种传输方式进行全方位的功能验证。     

泰克推出20年来最重要的TDR测试技术成果——新型DSA8200取样示波器解决方案是数千兆串行数据网络分析应用的理想选择

俄勒冈州比弗顿2006年10月2日——全球领先的测试、测量和监测仪器供应商泰克公司（NYSE：TEK）宣布推出新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器、全新的远程取样电子模块和增强型IConnect软件，使其成为串行数据网络分析应用的理想解决方案。全新TDR（时域反射技术）和电子模块是TDR测试技术20年来最重要的成果，及时地解决了高速串行数据标准带来的更高要求和挑战。     

国奇科技USB 3.0 PHY经LeCroy测试平台验证并通过CEC专家组验收

2012年12月24日,无锡华大国奇科技有限公司自主研发的基于TSMC 65nm工艺节点的USB3.0/2.0 ComboPHYIP核通过了中国电子信息产业集团(CEC)组织的专家组的验收,其性能完全符合USB3.0协议的物理层标准规范和USBIF(USB Implementers Forum)兼容性测试要求,且     

基于PCI的高速数字信号发生卡设计

本文以高速串行测试信号传输为例,介绍了基于PCI总线的高速数字信号发生卡的设计方法。信号发生卡的数据存储在PC机硬盘中,通过PCI总线将待发送数据写入在发生卡的存储设备SRAM中,在FPGA的逻辑控制下,并串变化或通过转换芯片后以串行的方式高速的输出为设备测试提供标准或非标高速测试数字信号。本文从硬件设计,FPGA设计以及驱动开发3个方面详细阐述了信号发生卡的设计方法。该信号卡已运用于工程实践中,为设备测试提供准确的异步串行以及高达百兆的非标串行数字测试信号。     

泰克为树莓派提供当前及下一代高速接口开发测试解决方案

<正>23 GHz混合信号示波器和25 GS/s任意波形发生器帮助树莓派测试HDMI、MIPI和USB接口泰克科技公司日前宣布,它将为树莓派研发实验室全面配备泰克最新高速测试解决方案。树莓派是一家低成本、高性能计算机设计商,其新建的研发实验室将把重点放在高速串行设计和验证测试上。泰克最新测试设备将满足其当前需求,同时确保提供足够的带宽,支持任何未来高速接口,这些都要求使用最高性能的测试仪器。     

安捷伦科技2011年数字电路测试峰会掀起新技术讨论热潮

安捷伦科技于2011年7月19日在深圳举办年度数字电路测试峰会,与会的300位工程师掀起了一轮新技术讨论热潮,以两个领域话题最为引人注目,一是应用在移动便携式设备上的最新技术,包括MIPI D-PHY,MIPI M-PHY,MHL,LPDDR,SDUHS-I;一是高速串行接口最新动向,包括Thunderbolt,USB3.0,PCI-E 3.0,SATA/SAS 12Gbps;测试技术引起大家共鸣的除了芯片一级的技术创新外,大家最感兴趣的是探头连接技术的最新进展,会后,安捷伦科技将所有讲义放到网站上,供大家下载,短时间内成为安捷伦最热门的网页。