在万能测长仪上检定大型内径千分表示值

一、检定装置本装置如图1所示,利用该仪器读数显微镜作为检定时滑动测杆1移动值的定位。取下原仪器尾座2上的尾管,装上内径千分表3。由于原尾管直径为28毫米,而内径千分表外形直径小于28毫米(各制造厂均不一致),这样不易用紧固螺钉4把它固紧,因此,在尾座的内孔与内径千分表架之间加一套筒(图2)。     

电感测微仪在渐开线检查仪上的应用

我厂使用的22F109渐开线检查仪,是一台机械式杠杆测头,表类读数的渐开线齿形检查仪器(见图1),使用至今十二年,测头及传动读数装置磨损严重,用计量院检定的误差为3μm的渐开线样板校正仪器,不能测出误差数据。我们对该渐开线检查仪进行了检查,除测头及读数装置外,其它精度项目尚在仪器出厂时要求的范围内。如果能把这部份改进一下,测试灵敏度、准确度就能大为提高。为此,我们在反复比较、不断试验前提下,选用了中原量仪厂DGB—4型电感测微仪代替原来的测头及读数装置,它的测试原理见图2。电感测微     

工具显微镜内螺纹测量装置

众所周知 ,在工具显微镜上如何实现内螺纹有关参数的测量是大家共同感兴趣的研讨课题 ,现经笔者理论上分析和实验验证 ,成功地实现了这一测量热点 ,其系利用光学定位器 ,双向刚性球形测头及其相应的专用测量杆 ,并借助高精度光面环规来实现的。兹介绍于下。1　中径测量图 1图 1为测量中径的示意图。被测螺纹环规中径的计算式 :Ｄ2 =Ｍ1+Ｄ -Ｍ2+ ｄ1+ｄ221ｓｉｎ(α / 2 ) - 1- Ｐ2 ｃｔｇ(α / 2 )式中 :Ｍ1-双向测头与螺纹环规左右两侧牙槽接触时仪器上的读数 ;Ｄ -光面环规的实际孔径 ;Ｍ2 -双向测头与光面环规孔臂两侧接触时仪器上的读…     

读数显微镜的利用

JSX-1型入射式读数显微镜(上光产品)是精密机械仪器中的一种读数装置。我室利用它与自制千分表示值检具,可检测量范围为0～1毫米的千分表示值。它的结构简单,体积小,使用方便。千分表示值检具结构如图1所示。图中:     

怎样将螺旋角误差换算成齿向误差

齿向误差是评定齿轮接触精度的常用指标,其数随在JB179-60和JB305-67中都有规定。但是,使用某些仪器或方法测量齿向时,不能直接测出齿向误差,只能测出被测齿轮的分度圆螺旋角或基圆螺旋角;为了与我国现行齿轮公差标准取得一致,必须将所测结果加以换算。这类仪器主要有马格型齿向检查仪、蔡司万能测齿仪齿向附件等,在万能工具显微镜上用直角坐标法测量齿向也属于这种情况。图1表示的是马格型齿向检查仪的测量原理。该仪器使用齿条形测头,其齿形角等于被测齿轮的原始齿形角。测量时,将测头插入被     

一种检定塞尺的简便方法

我们采用测长仪来检定塞尺,其效果很好。检定时,测长仪的固定测量端用φ8的平面测帽,活动端用球测帽。选用200g以下的重锤。仪器调整好后,记下球面测帽与平测帽接触时测长仪的读数(最好取整数),然后把被检塞尺放到仪器中进行测量,此时仪器读数减去仪器零位时的读数和塞尺的标称尺寸,即为塞尺在被检点的误差值。最后依次测量塞尺其他被检点的误差。     

小圆弧测量

半径小于4毫米的小圆弧,可在工具显微镜(“小工显”、“大工显”、“万工显”)上利用测角目镜中米字分划板的标准角度来进行测量。一、测量方法把被测件置于工作台上,对圆弧半径为2～4毫米零件使用1~×物镜;对圆弧半径为1.3～2毫米零件可使用2~×物镜;对圆弧半径为1～1.3毫米零件可使用3~×物镜;对圆弧半径小于1毫米零件可使用4~×物镜。移动工作台使目镜中米字分划板中小交角的两根细实线与小圆弧的两边相切(图1),从工作台横向读取读数     

长度计量基础知识讲座（三十三）

第三十三讲光切显微镜 1结构和工作原理 光切显微镜其外形结构如图1所示,由基座、立柱、横臂、移动工作台、显微镜主体等组成。显微镜包括物镜和测微目镜。光切显微镜的物镜可根据被测件表面粗糙度的高低可换。通常轮廓的深度在30-80μm时，采用7倍物镜；10-30μm时，采用14倍物镜；2-10μm时，采用30倍物镜；0．8-2μm时，采用60倍物镜。小于0．8μm时，该仪器无法测量。     

在701A型孔径测量仪上用切弦法寻求直径的方位

使用701 A型孔径测量仪时,如果测量线和被测孔的直径不重合,测量触点将偏移直径方位(图1),产生偏移距离C或倾斜角a,其误差为: △D(?)D/2·a~2(?)2C~2/D式中:D-孔径;此时应调整测球对孔径的直径方位。应用单测球测量孔径时,通常用切弦法寻找和确定直径方位。所谓切弦法,是先将测球与被测孔壁一边接触,并读取横向读数,然后横向移动测球与对应边接触并第二次读取横向读数,二次读数平均值即为孔的直径方位。在具体测量中,通常把确定直径方位的两     

码盘光电检验仪

码盘是供在光电条件下进行自动读数的一种特种度盘,它刻线数多,精度要求高,因而用一般光学方法进行检验,困难很大。码盘光电检验仪是对码盘刻划精度进行光电自动检验的仪器,它的基准是一块用十个读数头进行平差后的光栅度盘,使用时,将被测盘装在仪器主轴上,开动马达使仪器连续运转,被测盘与标准盘各输出一路信号,通过相位计进行相位比较,最后将误差曲线自动描绘在记录仪上。仪器每转一圈约需4分钟。这台仪器经过两年多的使用考验,     

检定HB—3000型布氏硬度计经验

ＨＢ—３０００型布氏硬度计广泛应用于冶金、机械制造行业及科研院所做各种金属布氏硬度值的测定。通过对该仪器的日常检定发现以下常见故障 ,现将检修方法做一介绍。一、测量读数显微镜的正确使用与调整在对布氏硬度计检定时 ,经常发现读数显微镜 ,微分筒零位刻线与分划板零位刻线不重合 ,偏离较大。这样给测量结果带来误差 ,测量读数显微镜的正确使用是很重要的 ,正确的使用才能保证测量结果准确可靠。１ 测量读数显微镜的正确使用（１）读数显微镜使用前首先检查微分筒零位刻线与目镜中分划上零位刻线（相互垂直十字线）是否重合 ,如不…     

英制内螺纹中径的简便测量方法

由内螺纹中径的测量原理可知,为测得内螺纹实际中径D′_2,就要按其名义中径D_2组合一个“标准”尺寸组合体(如图1),并由它来调整仪器的初始读数A_0,然后对工件测量并读得其读数A,则被测内螺纹工件的实际中径值D′_2,就是此两读数值之差,即D′_2=A-A_0。     

JJG571-2004中物镜放大倍数的检定方法

一、JJG571-2004《读数、测量显微镜》检定规程中存在的问题读数、测量显微镜都属于光学计量仪器。对于光学计量仪器来说,其光学系统是仪器的核心,而物镜又是光学系统中一个非常重要的光学元件。在光学计量仪器的     

带表卡尺的结构原理及调修

一、结构原理带表卡尺是将被测尺寸引起的尺框相对尺身的直线位移(即两测量爪间的相对移动的距离)通过固定在尺框上的齿轮机芯组对尺身齿条组的啮合传动和放大,转变为指针在刻度盘上的角位移,加上尺框前端的读数板指示尺身上的毫米整数,从而读出被测尺寸。图1为桂林量具刃具厂生产的带表卡尺结构图,该带表卡尺由以下几部分组成:1.双向单面啮合消除间隙的弹簧机构;2.缓冲防震机构;3.调零机构及读数机构等。读数原理见图     

一种长高深样板的测量方法

我厂产品生产,在零部件加工过程中,尺寸检验大量采用专用量规,其中就包括不少的长高深样板。以前,这些样板在新制入库和返还检定时,有的是在万能显微镜上用影像法测量;有的是在长方平尺上用量块测量。我们觉得,用影像法测量,只是用边缘压线,反应实际尺寸误差较大,用量块组合测量的办法精度较高,但比较麻烦,效率也很低。后来,我们组织有实际经验的同志,一块研究,群策群力,在卧式测长仪上增加一个专用测量尾座(附图),利用仪器的玻璃尺直接读数的办法,来检查长高深样板,经过多次验证和使用,测量结果比较可靠,效率也大大提高。使用方法;1.架上专用测量尾座,使其基面A 和仪器基准导轨面紧靠,以保证测量基面与仪器测杆的测量轴线垂直。2.仪器调零,在尾座的测量基面2处放一量块(5毫米左右),使装有平面或刀口测帽的测杆在重锤作用力下与量块接触,调整中间体的可调螺丝,找到测帽与量块的最小接触点,适当移动测体部分,使玻璃刻度尺的读数正好等于所放量块的尺寸。此时,测量基面与测帽间距     

DJ6-1型光学经纬仪读数光学系统的调整

ＤＪ6 - 1型属于Ｊ6级光学经纬仪 ,是北京光学仪器厂的产品。适用于地形测图、各种工程测量等。其常见故障有 :机械部分的故障、光学零件发霉及读数光学系统的故障等。本文主要对读数光学系统进行分析。ＤＪ6 - 1型光学经纬仪的光学系统如图 1,图中18- 2 1构成望远镜光学系统 ,其余为读数光学系统。图 11.反光镜 ;2 .毛玻璃 ;3 .照明棱镜 ;4.竖盘 ;5 .竖盘照准棱镜 ;6.竖盘转象棱镜 ;7.水平度盘 ;8.场镜 ;9.水平盘照准棱镜 ;10 .显微物镜组 ;11.玻璃平板 ;12 .测微尺 ;13、15 .转象棱镜 ;14 .读数窗 ;16.转象透镜 ;17.读数目镜组 ;18.望远镜…     

测量透镜通光口径的检具

我们把百分表原有测头换成有机玻璃的测头2,并装入自制的铜套管1内(见图),套管的下端孔径φ与被测透镜的外径相同,以α-α面为基面,用一圆平面调整百分表零位。当在孔径φ内放入被测透镜(图中虚线)后,百分表的有机玻璃测头便与透镜的凹面中心接触(图中的虚线),百分表给出一个读数。根据     

改善传统几何量光学测量仪器的照明光源问题

一、传统光路特点目前,市场上在用的传统几何量光学测量仪器主要有万能工具显微镜、测长机、光学分度头等,一般都包括瞄准测量光路和读数系统光路两部分。随着技术的不断更新,仪器的读数系统逐渐被光栅和数显系统所替代,但测量瞄准系统仍然未变,这类测量瞄准系统均采用物方无穷远光路,由放置在聚光镜物方焦点上的光源提供照明,经聚光镜后形成一束平行光照射被测件,由显微瞄准系统进行定位并测量。     

可见分光光度计透射比示值误差对测量结果的影响

透射比示值误差是指仪器透射比测量值与被测样的实测值之差.误差来源包含系统误差和随机误差,即仪器结构、光电转换特性和测量中环境变动,仪器不稳、读数误差.所以仪器在测量中存在一个与光辐射功率大小无关的绝对不确定量,而且对仪器的分析测试结果有影响,这样对被测浓度的结果也有影响.     

利用小型测量显微镜测量盲孔

ｊ１ｃ小型测量显微镜是计量室中常见的一种光学仪器。由于它具有结构简单、操作方便、适用范围较广等一系列优点 ,因此被广泛地应用于通孔、外圆直径、孔间距、键槽或狭缝的测量 ,以及各种角度样板或具有复杂几何形状的零件的测量。仪器的光学系统如图１所示。使用８Ｗ日光灯代替了自然光线Ｓ,则视场亮度大为提高 ,效果良好 ,使仪器能测量被测件的盲孔。测量时 ,首先将被测件１的盲孔孔口倒角Ａ处涂以划线用的龙胆紫 ,然后把被测件按孔口朝上的方向置于工作台载物玻璃上 (如图２) ,便能得到盲孔孔径的清晰影像 ,影像呈紫色 ,轮廓分明 ,极易…