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我厂承制的北京谱仪主漂移室(以下简称主漂移室),是用于正负电子对撞机工程中的大型薄壁铝制桶形构件,长2.2m,直径2.3m.桶两端的端面板上钻有3.6万多个小通孔,孔心距偏差为0.04mm。其中24对φ10×40mm的光学孔的对应孔心距偏差为0.25mm,测量允许误差为±0.125mm。考虑到主漂移室空间尺寸大、相对精度高、易变形、调整及测量复杂的特点,试采用光学经纬仪、精密水准仪组合测量的方法(见图1所示)测量其对应孔心偏差。 相似文献
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《制冷与空调(四川)》2018,(5)
高精度三坐标测量室对空调环境的要求极高,空调系统设计具有一定的复杂性和特殊性。通过调研五个项目的高精度三坐标测量室,对空调系统进行分析研究,总结出高精度三坐标测量室的空调系统特点,提出三坐标测量室空调系统建议方案,为此类精密空调系统优化设计提供参考。 相似文献
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吸收剂量量热计要求其测温元件—珠状热敏电阻的标称值R_T和电阻温度系数α_T的年漂移量分别不大于0.02%和0.1%。本文叙述了为满足此要求而对热敏电阻进行“老化”、测量它的R_T、α_T装置、方法及测量结果。 相似文献
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采用光电高温计光谱响应度测量装置,对LumiSpot型高亮红光LED的相对光谱亮度分布进行了实验研究。应用光电高温计定量描述LED光谱亮度漂移特性。测量了0.01A、0.05A、0.15A和0.3A电流下LED的相对光谱亮度分布,其峰值波长的在不同电流下的漂移在3nm以内。并在0.05A,0.15A,0.3A的电流下,测量了光谱亮度的漂移特性。引入缓慢线性漂移阶段及单位时间相对漂移量的定义,后者在(1.7×10^-5~1.5×10^-4)S。范围内,在非线性测量过程中,可在缓慢漂移段做线性漂移处理。 相似文献
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简述双室平衡容器各主要部件组成、作用、测量原理、工作特性、测量过程中补偿原理的建立及在大庆乙烯裂解炉汽包液位实际测量中保温伴热的要求及维护要点。 相似文献
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本文针对X射线光刻机联调中发现的工件台定位测量漂移现象进行了实验分析和理论计算,证实电机发热是导致工件台温升和定位漂移的主要因素。这种现象在微细加工光刻机中是普遍存在的,可以通过合理的结构设计和必要的措施减少热漂移,以满足微细加工的要求。 相似文献
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烟气连续排放监测系统(CEMS)测试的数据作为排污收费的法定依据,但大多数已经安装的CEMS存在数据漂移超过规定、准确度低等问题。以某火电厂安装的CEMS为对象,在不同的锅炉负荷状态下测试其SO2/NOx及烟尘排放子系统,评估其相对准确度。当SO2/NOx监测子系统相对准确度超出标准要求时,要作数据修正,使烟尘测量相对准确度符合法规。为保证测量数据的准确性,CEMS应定期进行相对准确度及校准漂移的测试。 相似文献
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研究了亚微米聚焦离子束(FIB)系统的漂移现象,给出了测量漂移的方法,分析引起漂移的原因及降低漂移的措施。发现了偏转电极上钝化层及污染物充电电荷所引起的漂移现象;测出了各电极电压变化所引起漂移的大小;发现了由于外壳温度不均匀引起离子枪轴线相对样品变化所引起的漂移。提出了制作透镜电极时保持轴对称、特别是限制光栏必须位于透镜光轴上的必要性。所给出的漂移数据既包含早期曾研制的单级透镜FIB系统的数据,也包含近期研制的二级透镜可变束流FIB系统的数据。 相似文献
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仪器信号的漂移是四极杆质谱法精密度提高的主要限制因素,内标法可以在某种程度上降低漂移的影响,效果往往不理想。本文针对信号漂移特点,采用校正方法对数据处理,提高分析测试的准确度和精密度。试验数据表明,经过校正,Pb、Cd、Cr的准确度均有显著提高,测量精密度分别提高2.7倍、1.9倍和3.5倍。该方法具有方便、快捷、灵活且限制因素少的特点,有效消除仪器漂移对统计结果造成的假象和误判,可应用在质谱仪的数据分析与统计。 相似文献
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一、干涉条纹漂移(或称干涉条纹跑正、跑负)仪器干涉条纹漂移是由仪器空气室的空气折射率(na)和甲烷室被测气体的折射率(nc)变化引起的,产生的原因有以下几种: 相似文献
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研究李亚微米聚离子束(FIB)系统的漂移现象,给出了测量漂移的方法,分析引起漂移的原因及降低漂移的措施,发现了偏转电极上的钝化层及污染物充电电荷所引起的漂移现象;测出了各电极电压变化所引起民漂移的大小;发现了由于外壳温度不均匀引起离子枪轴线相对样品变化所引起的漂移。提出了制作透镜电极时保持轴对称、特别是限制光栏必须位于透镜光轴的必要性。所给出的数据漂移数据既包含早期的单组透镜FIB系统的数据,也包 相似文献
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一种药室参数测量新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种新的火炮药室参数测量方法.采用环行激光投影、CCD摄像及数字图像处理的方法测量药室直径;采用圆光栅在药室内壁滚动的方法测量药室长度,根据直径和长度数据求得药室的容积;对各测量参数的精度进行了理论上的分析.结果表明,该方法具有很高的测量精度,能够满足药室参数实际测量的需要. 相似文献