刻线量规刻线参数的设计与刻制方法的改进

本文通过将量规刻线的中心间距标注改为异名边间距标注之后,消除了由于设计基准与测量基准不相一致引起刻线宽度对被测工件公差的影响。并经过对刻刀的改进和由刻线深度控制刻线宽度的工艺方法,实现了刻线量规异名边间距的精度刻线。从而打破了刻线量规不能用于公差小于0.5mm工件测量的禁区。扩大了刻线量规的应用范围。     

量规刻线参数设计方法的改进

论述了刻线量规设计、制造，使用中存在的问题和改进方法，并介绍了以刻线中心为基准，以线深控制线宽的刻线方法。     

刻线量规设计、制造与使用中的问题

本文论述了刻线量规设计、制造、使用中存在的问题和改进方法，并介绍了在“万工显”上以刻线中心为基准，以线深控制线宽的刻线工艺方法。     

锥孔测量指示器

在机械制造中,加工和检验零件锥孔,通常使用标准锥体塞规,采用“着色法”进行锥度检查、锥孔大端尺寸又用锥度大端台阶量规或锥体刻线量规检验。由于着色检查繁琐、又慢,零件锥孔口部倒角又往往影响着测量精度。为此,我们设计制造了锥孔测量指示器。通过几年来在零件批生产使用中,感到很得心应手,深受工人和检验人员的欢迎。现就锥孔测量指示器介绍如下: 一、锥孔锥度测量指示器锥度指示器(见图1),百分表固定在量规体上,测量时把量规体插入锥孔内,使测量头前端与锥孔孔壁接触,零件锥度不同在指示器上将显示出不同读数。测量前,先用标准锥孔量规校对指示器作为计量的依据。被测锥孔     

激光干涉比长仪的瞄准方法

本文提出一种改进型的单狭缝刻线瞄准方法,通过计算刻线信号重心坐标平均值,确定刻线中心位置,实验结果表明因刻线信号形状不规则引起的误差小于4nm;通过简化算法将计算时间缩短到1s以内,实现了测量数据的实时处理。     

零位光栅刻线序列的计算机模拟设计

在使用光栅进行长度和角度测量的应用中提供可靠的参考基准是非常重要的，根据零位脉冲产生的基本理论，并结合实际应用中的一些客观要求，采用计算机模拟，寻找最佳零位刻线序列，达到了预期目的，在此基础上进行了对称式零位刻线序列的设计。     

用空间拟合函数实现线间距离的检测

介绍用线阵ＣＣＤ作刻线边缘的传感器,以光栅作为计量基准,用空间拟合函数作为计算方法,检测刻线线宽。     

万能工具显微镜玻璃刻度尺刻线脱落的修补方法

一、问题的提出万能工具的显微镜(以下简称万工显)是一种用途较广,准确度较高的计量光学仪器。因为万工显价值较高,延长其使用寿命成为我们十分关注的问题。而刻度尺刻线脱落影响了万工显的正常工作,严重的甚至会导致仪器的报废。本文介绍刻线脱落的修补方法。二、刻度尺刻线的形成及成像读数原理首先,我们看看刻度尺刻线的成像读数原理,如图所示。　　光源1发出的光线经滤光片2聚光镜3和直角棱镜5照亮200ｍｍ玻璃刻度尺6,其刻线经物镜7成像于0.1ｍｍ分划板9上,最后通过目镜11实现读数。图中4为保护玻璃,8为转向棱镜,10为螺旋分划板。图示表…     

分段累积法测量长刻线样板

在万能工具显微镜上用分段法测量长刻线样板是经常遇到的问题.万能工具显微镜的实际读数范围是200mm×100mm,如何扩大它的测量范围呢?如图1所示,有一长刻线样板,间距l=(380.15±0.018)mm,可以用分段累积测量方法.     

测长机光学系统常见故障及解决

分米双刻线像与0.1mm刻线像相对位置移动．分米双刻线像偏高或偏低。(1)如所有分米双刻线像都偏高或偏低，则是由测量头座中平行光管的直角棱镜位置与尾座中平行光管的直角棱镜位置已绕光轴移动造成。此时如分米双刻线像偏离不大．应打开尾座平行光管外罩．松开锁紧螺钉，微调直角棱镜光轴．反复调整，使0.1mm刻线像居于分米双刻线像正确位置再锁紧螺钉。有时还需要调整头座，调整方法与尾座相同。     

刻线误差与间隔误差的规律

本文通过对刻线误差与间隔误差间规律的分析，得出最大累积误差的求法。     

单刻线样板检测技术探讨

本文描述了利用现有常规检测设备，探讨出单刻线样板一种检测技术，具有很高的检测准确度。     

单刻线样板检定装置测量不确定度分析

分析了单刻线样板检定装置的测量不确定度，并分析了用该检定装置检定的单刻线样板的不确定度。     

对玻璃液体温度计刻线遮挡引入不确定度的探讨

对玻璃液体温度计刻线遮挡引入的不确定度做了定量实验,其影响量为温度计分度值的2/10～3/10.改进检定实验方法可避免这种影响.     

CCD传感器用于刻线自动瞄准的研究

本文提出一种采用CCD器件作为光学传感器来实现对刻线的自动瞄准方法，在对刻线影像数据的处理中首次提出并实现了三种不同的算法。通过对这三种不同处理算法进行了详细有效对比研究试验，结果表明：采用这种自动瞄准算法是成功和可行的，它对CCD用于刻线的自动瞄准具有普遍意义，将带业广泛的应用。     

投影立式光学计常见故障及其修理

1微米标尺在视场中斜向运动的两种情况 (1)测轴上下滑动时标尺斜向运动. 产生原因:主反射镜摆动时的转轴与分划板刻线面不垂直所造成的. 修理方法:拧下格值圈,旋松测轴组与镜管固紧用压圈,旋转轴套,使整个测轴组绕光组旋转一个角度,然后移动测轴观察视场,直到标尺像刻线端与指标线某一虚刻线始终对在一个位置上即可,误差不超过1/10短刻线,调好后再紧固分划板组与滑板组的紧固螺钉,然后装上隔热玻璃组和标牌.     

用多齿分度台检测小度盘的刻线位置误差

本文介绍了用多齿分度台检测小度盘的刻线位置误差及其数据处理方法。对检测结果的可靠性进行了分析与估算。     

分段累积法测量长刻线样板

简要介绍了万显测量长刻线样样板的方法，也就是万工显的扩大使用。     

用电解刻线深度控制量规磨损极限尺寸的检定方法

我厂对使用中的量规(主要是塞规和卡规),都是按固定周期、批量周期或班检蜡封进行检定,但都存在着管理困难、送检频繁和重复劳动等缺点。我们试验了一种用电解刻线深度控制量规磨损极限尺寸的检定方法,经过试用效果良好。如塞规的实际尺寸为d,磨损极限尺寸为d′,在塞规工作面平行于轴线方向上,用电解法刻上两条长4mm:宽0.14mm的线,其深度为h,则 h=(d-d′)/2 (1) 在使用中塞规逐渐磨损,则刻线深度也越磨越浅,当刻线磨损至看不清时,塞规的实际尺寸已到磨损极限尺寸,则停止使用,送检定     

特殊光学码盘刻线线宽测量仪

本文介绍利用ＣＣＤ扫描方式检测光学码盘刻线线宽及线间距的系统组成及其误差分析。