温度、风速对湿度传感器响应时间影响的研究

湿度传感器在实际使用过程中,温度和风速会对湿度传感器的响应时间产生影响。为了研究温度和风速对电容式湿度传感器阶跃响应时间的影响规律,通过分析实验数据发现湿度传感器的响应时间随着温度的升高和风速的增大而逐渐减小,并采用神经网络算法拟合湿度传感器的阶跃响应时间和温度、风速之间的关系,最后对影响机理进行分析研究。     

220kV低零值绝缘子红外检测技术应用研究

为研究输电线路绝缘子低零值红外检测方式,分析绝缘子串的电压分布及发热功率,利用耐压设备对含有劣化绝缘子进行红外分析,获取了低零值绝缘子红外热像图谱特征。现场检测结果表明,红外热像技术可通过遥测绝缘子串温度特征来判断绝缘子绝缘性能,并总结出该方法实际应用的优势和缺陷,提出应用该技术的策略建议,为研究绝缘子带电检测低零值提供参考。     

异常发热复合绝缘子温升的影响因素研究

对异常发热复合绝缘子在不同环境湿度、温度、风速以及电场强度作用下的温升进行测试。新绝缘子在不同温湿度条件下几乎不出现温升,伞 套材料劣化复合绝缘子的温升随环境湿度的上升而升高,随着风速的提高而减小,随均压环屏蔽深度的增大而减小。材料劣化为复合绝缘子出现异常 发热的前提。环境温湿度通过影响材料在交变电场下极化损耗所产生的发热能量以及绝缘子的散热条件,从而影响绝缘子的温升。风速将影响绝缘子 的散热条件。电场强度的变化将直接影响材料极化损耗所引起的发热能量,均压环对高压端场强的削减作用将有效抑制绝缘子的温升。     

风速及风向对复合绝缘子闪络特性的影响

电力系统复合绝缘子闪络故障往往与有风天气状态有关,除因风引起的风偏闪络外,本文统计发现低风速状态下仍存在一定数量的复合绝缘子闪络故障,而目前有关不同风速及风向对复合绝缘子闪络特性的研究数据尚十分缺乏。为了研究风速和风向对复合绝缘子闪络电压的影响,在风洞试验室搭建了工频闪络特性试验平台,来模拟自然界中不同风速和风向,通过复合绝缘子人工闪络试验,获得了不同风速及风向条件下复合绝缘子的闪络电压。结果表明,不同的风向角下复合绝缘子闪络电压会随风速的增加而升高,绝缘子闪络电压受风向角影响明显,风向角越接近90°,闪络电压越高,紫外摄像表明空气流对复合绝缘子闪络的形成和发展起到抑制作用。研究结果有助于指导对复合绝缘子闪络故障的现场分析。     

雾室环境下污秽度和湿度对瓷质绝缘子放电特性的影响

人工模拟绝缘子污秽试验时雾室是必不可少的部分,因此本文结合仿真与试验研究了雾室环境下污秽度和湿度对瓷质绝缘子放电特性的影响.首先用Comsol Multiphysics软件仿真了110 kV输电线路中洁净和污秽绝缘子在有无雾室时电场的分布.其次,提出了通过降低有雾室时的试验电压使有无雾室时绝缘子高压端附近电场近似的方案,并用仿真中求得的电压做试验.结果 表明:与无雾室时洁净绝缘子周围的电场相比,有雾室时洁净绝缘子周围的电场在高压端变大,低压端变小;雾室中绝缘子周围的电场随污秽度的增大而变大.试验结果验证了仿真结果,绝缘子污秽度越大,湿度越大,放电光子数越多.本研究提出通过降低人工雾室中试验电压的方法来优化绝缘子污秽放电试验的方案,试验效果更贴合实际现场应用现状.     

污秽对红外成像法检测劣化绝缘子的影响

瓷绝缘子串中劣化绝缘子的存在将威胁电力系统的安全运行。为此通过实验室和现场试验研究了不考虑环境因素时污秽对红外成像法检测劣化绝缘子的影响,其中重点分析了污秽轻重和其状态、污秽劣化绝缘子的位置、型式、布置方式、表面颜色,检测距离对红外成像法检测劣化绝缘子的影响。研究结果表明:绝缘子表面干燥污秽存在有利于红外成像法的检测;湿润污秽和绝缘子表面颜色及布置方式会影响检测的准确性;绝缘子型式和污秽度大小对红外成像法的检测基本无影响;红外成像法易于检测绝缘子串高压端的污秽劣化绝缘子,低压端次之,中部最低。因此,红外成像法可以实现非接触式检测污秽劣化绝缘子。     

风速对复合绝缘子覆冰增长及其闪络特性的影响

风速和电场均是影响绝缘子覆冰的重要因素,在多功能人工气候室对不同风速下的复合绝缘子进行了人工雨凇带电和不带电覆冰试验研究,分析了风速和电场双重作用对冰棱生长、覆冰量、覆冰密度、厚度及闪络电压的影响。研究表明:随着覆冰期风速的增大,绝缘子的冰棱长度、倾角、伞面冰厚、覆冰密度和覆冰重量均逐渐增大,在覆冰时间相同的条件下,其闪络电压随着风速的增大而逐渐降低;电场在风速较低时对覆冰参数和闪络性能都有明显的影响,但随着风速的增大,此种影响逐渐变得不明显,在风速较大的条件下可以不考虑电场的影响。     

温度湿度控制器

本文介绍了以PIC系单片机为核心,主要用于空凋设备的可编程温度湿度控制器。该控制器可根据用户自定义的温度和湿度标准值来控制室内温湿度的调节,并能实时显示温湿度的当前值,以及加湿器的工作情况。在设计过程中,充分利用了单片机的各种资源,尽量将硬件和软件设计简单化,以便于使用和操作。     

考虑环境相对湿度和污秽度的零值绝缘子红外检测方法

零值绝缘子红外检测方法因精准、高效、安全等优点得以广泛应用,但其测量结果易受环境相对湿度和污秽度影响。为此,文中首先建立污秽绝缘子串电-热-流场耦合模型,分析零值绝缘子位置、环境相对湿度和污秽度对绝缘子串温度分布的影响;然后提出一种基于相邻温升差的零值绝缘子红外检测方法,并进行试验验证。结果表明:零值的存在会使绝缘子串连续性马鞍型温度分布遭到破坏;绝缘子离回转中心轴越远,温升越小,反之越大,最大温升出现在铁脚与下表面连接处;随着环境相对湿度和污秽度的增加,绝缘子串的整体温升逐渐增加,零值绝缘子与正常绝缘子温升差逐渐变大。试验结果证明了所提方法用于现场零值绝缘子检测的可行性和有效性。     

温度和湿度对变压器油微水含量和绝缘性能的影响

研究了气候条件对变压器油微水含量及其绝缘性能变化的影响。     

红外、紫外检测技术在绝缘子检测中的应用

运行中的复合绝缘子长期经受强电场、机械应力作用,可能会发生破损、开裂甚至掉线等事故,对输电系统的安全运行造成巨大威胁。因此,绝缘子运行状态的实时检测非常重要。目前,国内外有多种复合绝缘子实时检测的方法,包括电场法、超声法、红外测温法、紫外检测法等。现结合实例对红外和紫外检测技术进行介绍。     

干衣过程中滚筒内温度和湿度分布研究

本文针对烘干过程中滚筒内的特殊环境,利用无线传感网对烘干过程中滚筒内温度和湿度分布进行了研究,并对滚筒进行了合理的简化,得到了温度和湿度分布情况。     

绝缘子污层受潮过程中湿度和温差的作用

染污绝缘子的污闪电压与其表面污层的受潮程度有关,而湿度和温差均对污层受潮过程有显著影响。为此,采用固体涂层法中的定量涂刷法对XP-70型普通悬式电瓷绝缘子试品进行染污,在温湿度可控制的小雾室中进行了湿度试验和温差试验,研究了在运行电压的作用下相对湿度以及温差在绝缘子试品约1h的污层受潮过程中所起到的作用。研究结果表明,单靠湿度作用且相对湿度未达100%时,污层受潮是一个很缓慢的过程,约1h的受潮时间不能使污层充分受潮,导致人工污秽中的可溶性盐(氯化钠NaCl)不能充分溶解,湿度对污层表面电导率的贡献受到限制;相对湿度达到100%时能够使污层很快充分受潮。研究结果还表明,温差在短时间污层受潮过程中的作用很明显;绝缘子初始温度与雾室露点温度之间的差值会直接影响绝缘子表面泄漏电流的强弱;温差仅在污层受潮的初始阶段起着主导作用,随着温差的消失,湿度成为导致污层受潮的主导因素;温差起主导作用所能维持的时间与试品的比热容及散热面积有关,比热容越小,且散热面积越大,则温差起作用的时间越短。     

利用径向温度分布特征检测绝缘子污秽等级

为了实现绝缘子污秽状况的红外热像在线测量,提出一种基于径向温度分布特征的绝缘子污秽等级检测新方法.人工截取绝缘子图像区域,采用复小波广义交叉确认GCV阈值去噪方法抑制白噪声干扰,通过直方图包络线提取阈值分割图像,利用二值图像水平扫描采样绝缘子盘面边缘点,应用最小二乘拟合盘面边缘椭圆方程,获得椭圆内长轴以上图像区域,并提取径向温度分布特征表征绝缘子污秽程度,采用最近邻湿度条件下的最小距离分类器评定待检测绝缘子的污秽等级.试验结果验证了该方法的可行性和有效性.     

紫外成像法带电检测绝缘子的影响因素分析

阐述了紫外成像仪的特点及其工作原理,通过试验检测绝缘子并对国内外使用紫外成像仪检测绝缘子实例进行研究,分析了各种因素对紫外成像结果的影响。     

高压绝缘子泄漏电流与温、湿度的灰关联分析

灰关联分析了现场220 KV绝缘子在线监测的大量实时数据及相对湿、温度和温度变化率对绝缘子泄漏电流I的影响程度。结果表明相对湿度影响最大,关联度>0.9。通过研究可初步确定温、湿度气象因素对I影响的权重,以供研究绝缘子泄漏电流与其表面污秽状况的对应关系参考。     

较低湿度下含糖污秽绝缘子放电特性

部分地区外绝缘表面污秽含有大量有机物,影响绝缘性能。本文通过化学分析、模拟试验、污闪试验及分子动力学与量子化学计算,研究了较低湿度下葡萄糖污秽对绝缘子放电的影响,弄清了某变电站在较低湿度下由葡萄糖污秽引起的外绝缘大面积放电的特性。结果表明:由于葡萄糖吸湿性强,当污秽物中葡萄糖含量超过0.10mg/cm~2时,污层泄漏电流远大于常规污秽。电流热效应使含葡萄糖污秽的绝缘子表面电位分布更不均匀,显著降低污秽绝缘子起始放电电压;同时葡萄糖具备较活泼化学性质,在强电场中或强烈放电时,电能使葡萄糖断键,生成带电荷的自由基,加快绝缘子表面的电子转移速率,增加放电强度。葡萄糖的物理和化学特性是造成较低湿度下外绝缘沿面放电现象的原因。     

污秽绝缘子泄漏电流与环境温、湿度相关分析

由于污秽绝缘子泄漏电流受环境温、湿度影响较大,泄漏电流与环境温、湿度关系研究具有重要的现实意义,为此基于多因子环境试验箱内单片XP-70绝缘子的人工污秽试验,运用泄漏电流测量系统和环境温、湿度采集系统记录了不同等值盐密(equivalent salt deposit density,ESDD)、灰密(non-soluble deposit density,NSDD)、环境温度θ和相对湿度RH下的电流、电压波形,通过分析泄漏电流幅值随污秽度和环境温湿度的变化规律,建立了一种基于泄漏电流、污秽状况及环境温、湿度的数学模型。利用非线性回归分析方法,拟合出盐密、灰密、温度、相对湿度与泄漏电流幅值之间的关系,此表达式为Im=0.084ρ0ES.0D5D4(e0.008RH+15.170e-0.069r-0.076/ρNSDD)e0.026θ。研究成果表明:随着盐密、灰密、温度和相对湿度的增加,泄漏电流也逐渐增加,所得表达式能更为精确地表达出绝缘子泄漏电流和环境温湿度及污秽度的定量关系。此研究结果可为评估瓷绝缘子的污秽状态提供方法和思路。     

温度对瓷支柱绝缘子机械性能影响仿真研究

利用有限元软件对40.5 kV瓷支柱绝缘子在温度剧变条件下的机械性能进行了仿真研究,包括温度剧变产生的温度应力以及对弯曲载荷和扭转载荷的影响,温度范围为-40^+80℃(初始温度为20℃)。研究发现,在低温或者高温条件下,瓷支柱绝缘子不同介质的连接位置均会出现明显的应力集中现象;同时,在施加弯曲载荷时,高温会使瓷支柱绝缘子承受更大的应力,而在低温时应力会随温度的降低而减小;而在施加扭转载荷时,瓷柱的不同位置在不同温度下所承受的应力有所不同,上瓷根所受应力随温度升高而减小,下瓷根所受应力随温度升高而升高。该研究结果为绝缘子在不同环境下的运维提供了一定的理论指导。     

污秽绝缘子泄漏电流与湿度及盐密关系综述

介绍了污秽绝缘子泄漏电流形成的原因、对它与盐密、湿度的关系进行分析。