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提出了一种较好的抗闩锁CMOS结构——阶源结构.对阶源结构和常规结构的CMOS反相器进行了电触发闩锁特性和激光器辐照实验研究,就实验结果进行了分析讨论. 相似文献
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CMOSIC抗闩锁、抗静电的测试及防护措施的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
通过对三种CMOSC4069 电路抗闩锁灵敏度、抗静电敏感度测试的研究和比较,提出高可靠性电路的质量评估。除对器件功能参数(直交流参数) 高低温参数测试外, 还必须对抗闩锁、抗静电敏感度进行测量和评估, 可真实反映器件的可靠性。避免CMOS器件在包装、运输和使用中带来隐患, 提出静电防护措施 相似文献
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相比于P+衬底CMOS工艺,P-衬底0.35 μm BiCMOS工艺中CMOS管的抗闩锁性能更差。为了提高CMOS管的抗闩锁性能,利用光触发方式,基于Medici器件,仿真研究了BiCMOS工艺中深槽对CMOS管闩锁性能的影响。结果表明,深槽可以提高CMOS管的抗闩锁性能。在光触发脉冲宽度为50 ns,深槽深度为3、5、7 μm时,深槽BiCMOS工艺中CMOS管的闩锁触发电流分别是无深槽BiCMOS工艺中CMOS管的3.13,6.88,11.12倍。 相似文献
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通过对三种CMOS C4069电路抗闩锁灵敏度、抗静电敏感度测试的研究和比较,提出高可靠性电路的质量评估。除对器件功能参数(直交流参数)高低温参数测试外,还必须对抗闩锁、抗静电敏感度进行测量和评估,可真实反映器件的可靠性。避免CMOS器件在包装,运输和使用中带来隐患,提出静电防护措施。 相似文献
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A new trench gate IGBT structure with a floating P region is proposed,which introduces a floating P region into the trench accumulation layer controlled IGBT(TAC-IGBT).The new structure maintains a low on-state voltage drop and large forward biased safe operating area(FBSOA)of the TAC-IGBT structure while reduces the leakage current and improves the breakdown voltage.In addition,it enlarges the short circuit safe operating area(SCSOA)of the TAC-IGBT,and is simple in fabrication and design.Simulation results indicate that,for IGBT structures with a breakdown voltage of 1200 V, the leakage current of the new trench gate IGBT structure is one order of magnitude lower than the TAC-IGBT structure and the breakdown voltage is 150 V higher than the TAC-IGBT. 相似文献
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本文提出了一种具有P型浮空层的新型槽栅IGBT结构,它是在之前所提的一种积累层沟道控制的槽栅IGBT(TAC-IGBT)基础之上引入了一浮空P型层。此结构在维持原有TAC-IGBT低的正向导通压降和更大正向偏置安全工作区(FBSOA)的同时,减小了器件的泄漏电流,提高了器件的击穿电压,也使得器件的短路安全工作区大大提高,且制造简单,设计裕度增大。仿真结果表明:对于1200V的IGBT器件,具有P型浮空层的新型槽栅IGBT结构漏电比TAC-IGBT小近一个量级,击穿电压提高近150V。 相似文献
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一种双发射极沟槽栅超结IGBT 总被引:1,自引:1,他引:0
本文对传统沟槽栅超结IGBT进行了改进,得到一种沟槽栅双发射极超结IGBT,本结构第一个发射极区域和传统IGBT结构一样能够发射电子、接收空穴,在p型柱顶部的第二个发射极区域能够起到空穴分流的作用,在有效地提高器件抑制闩锁的能力的同时,保持了超结IGBT器件的高击穿电压(BVoff)和低关断损耗(Eoss)。仿真显示在VGE=10V的条件下,改进结构的闩锁电流从15000A/cm2 提升至 28300A/cm2,器件的击穿电压为810V,在导通压降为1.2V的条件下,关断损耗为6.5 mJ/cm2。 相似文献
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IGBT并联设计参考 总被引:1,自引:0,他引:1
本文主要分析如何实现并联IGBT静态和动态过程的均流,并提出了一些用于减少电流不平衡的相关并联方法,以便于客户并联设计。重点突出一些荔实现并联方案的IGBT模块新封装,叉提出一些实现并联均流的均衡措施。用相关的试验证实一些分析结论。 相似文献
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IGBT强驱动电路的设计 总被引:1,自引:1,他引:0
根据脉冲渗碳电源要求,设计一种具有高可靠性、信号传输无延迟、驱动能力强等特点的IGBT强驱动电路,详细分析了工作原理,并对电路测试中出现的电流尖峰进行了抑制。在此基础上得出几个主要影响驱动电路的因素。实际用于大功率IGBT桥电路驱动,工作稳定可靠。结果表明,所设计的电路结构简单,驱动能力强,可靠性高,且对用变压器驱动大功率全桥电路有通用性。 相似文献
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IGBT模块一般采用多芯片并联的方式进行封装,但由于模块参数、驱动控制等差异,模块内部存在电流分布不均衡的问题。相比于稳态电流分布,瞬态电流分布的影响因素众多,是研究的热点。针对IGBT的芯片参数开展了模块内部各支路瞬态电流分布特性的研究。通过建立IGBT芯片模型及芯片并联的瞬态电路分析模型,计算单一芯片参数与多种芯片参数作用下IGBT模块的瞬态电流分布,提出新的适用于芯片支路瞬态均流分析的评价指标,得到了IGBT芯片参数对并联瞬态均流影响的规律。研究结果表明阈值电压、跨导和栅极电阻是对瞬态均流影响最大的3个芯片参数,且需要关注阈值电压与跨导的共同影响。研究结果对IGBT的芯片筛选及并联后的瞬态均流计算具有指导意义。 相似文献
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本文对传动装置IGBT元件自损坏产生的后果、各种检测原理等内容进行了分析说明。重点介绍了一种快速检测IGBT元件自损坏的方法,该方法已在传动装置中得到实际应用。 相似文献
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对辐射感应闭锁窗口现象的解释 总被引:1,自引:0,他引:1
中、大规模CMOS器件受到瞬态辐射时,出现了闭锁单窗口、多窗口现象。为了获得闭锁窗口的出现原因,借助对窗口现象的有关参考文献的研究,利用计算机电路模拟软件,分析了CMOS器件多个闭锁路径之间的相互作用。在此基础上,提出了解释窗口现象的“三径”闭锁模型。应指出的是,该闭锁模型还需要试验上的进一步验证与支持。 相似文献
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闩锁(latch-up)效应严重影响了CMOS集成电路的可靠性,如何对其进行快速有效地测试是很有必要的,本文主要介绍了代表了当今世界测试仪器技术发展方向的虚拟仪器技术(VI)及其在开发集成电路闩锁测试系统过程中的应用. 相似文献