镀层厚度自控—一种改进的安培小时计

为适应电铸镍生产的需要，在普通直流安培小时计的基础上改进研制了一种数字式镀层厚度自控仪。该仪器直接显示所需要的镀层厚度；镀前只需将镀件面积和所需镀层厚度预置进去；电镀时显示的是还需要沉积的厚度；到显示为０时，即可自动报警并切断电源。     

一种测量镀层厚度的新方法

介绍以ＭＣＳ－５１单片机为核心,利用霍尔集成电路,集成函数运算放大器、Ｖ／Ｆ转换器等组成的新型镀层厚度测量仪。适合于对导磁工件上镀（涂）有非导磁材料的镀（涂）层厚度的测量。     

涂层镀层厚度的检测（二）

涂层镀层厚度的检测（二）化工部涂料工业研究所深圳华丰化工有限公司王叔孙二、校准测量要准确，要达到仪器规定的指标，使用前就必须校准，校准的原则是无覆层的校准试样与被测物的基材应具有：相同成分，相同厚度（在厚度小于仪器规定的最小值以下时），相同的曲率半径...     

镀层厚度对热镀锌热轧板耐蚀性的影响

为模拟热镀锌板的实际使用情况,以剪裁后不同镀层厚度的热镀锌热轧板为研究对象,采用光学显微镜(OM)观察镀锌前后基体组织,通过中性盐雾试验分析镀层厚度对热镀锌热轧板产生白锈和红锈的影响规律。结果表明:在腐蚀过程中,腐蚀沿镀层由四周向内部扩展,同时由钢基体向表面扩展和锌层表面向内部扩展;随着镀层厚度增加,腐蚀扩展时间增长导致腐蚀时间增长,热镀锌板抗白锈能力增强,意味着耐蚀寿命增加;但抗白锈能力与镀层厚度呈非线性关系,涂层较厚时,通过增加镀层厚度提高热镀锌板抗白锈能力的效率降低。     

金属镀层厚度测量结果的一致性研究

利用带有特殊台阶构造的Cr/Ni类型实验样品,分别采用X射线光谱法、轮廓法和截面法进行表面镀层厚度的测量,对三种方法测量结果的一致性问题进行探讨。实验结果表明,X射线光谱法的镀层厚度测量值较其它两种方法明显偏小,相对偏差甚至超过50%。由于利用X荧光测厚仪进行分析时未考虑实际样品与校准工作曲线用标准厚度片的密度差异,因此导致镀层厚度的测量值出现较大偏差。考虑到工业实际上目前普遍利用商品化标准厚度片进行X荧光测厚仪的校准,提出应对该类仪器现有计量校准体系做进一步研究。     

镀层厚度测量仪器及其检定、校准方法探讨

本文介绍了几种常用的镀层厚度测量仪器,阐述了不同仪器的工作原理、测量范围和优缺点,并对仪器的检定和校准方法进行了探讨。     

涂层镀层厚度的检测（一）

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(Coating)。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达优的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度都有了明确的要求。 覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法,磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂…     

涂镀层厚度检测方法的发展现状及展望

准确测量零件表面涂镀层的厚度,对保证表面涂镀层的性能和节能节材具有重要的作用.目前采用的涂镀层厚度测量方法主要有电量法、电解法、磁性/涡流测厚法、X射线测厚法、超声波测厚法以及光学测厚法等.对各种涂镀层厚度测量方法的测量原理、适用范围以及发展现状进行了综述,探讨了涂镀层厚度测量未来的发展.指出,进一步提高厚度测量精度、加速便携式涂镀层测厚仪器和涂镀层厚度在线测量的研发应为涂镀层厚度测量的主要发展方向.     

锌浴中镍含量对热浸锌镀层厚度的影响

应用SEM,EPMA等方法研究了锌浴中镍含量对热浸锌镀层厚度的影响,试验结果表明,当锌浴中镍含量小于0．12％（wt)时,镀层随镍含量增加而减薄,当镍含量大于0．12％时,镀层则随镍含量增加而增厚,在热镀锌生产线上对0．10％以下的不同镍含量锌浴的应用结果表明,为了兼顾不同产品对最低镀层厚度的要求,镍含量可在0．04％－0．10％间选择,这时由于减少镀层超厚,节锌效果明显。     

X射线荧光法测量金薄膜和镀层的厚度

采用X射线荧光能谱仪,分别测量基底元素的强度,以求得金薄膜和镀层的厚度。用镀金片检验,当薄膜和镀层厚度t<3.0μm时,测量偏差<0.10μm,方法简便,可方便地用于镀层厚度的控制生产中。     

在线工业镀层及涂层厚度分析仪

产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。为满足分析要求,介绍了自行研制的同位素X射线荧光分析仪的主要技术方法及具体应用。实际应用效果表明该分析仪在对工业镀层和汽车涂层厚度进行在线测量时其测量精度可达2%～4%,是一种具有快速、简便、无损等优点的新型分析方法。     

检测片状电阻器镀层厚度的金相制样法

片状电阻器是由陶瓷材料和金属镀层构成 ,因不同型号的片状电阻器仅 2mm× 0 .5mm和 2mm× 1mm ,镀层仅 0 .5mm× 0 .5mm ,要从侧面测试片状电阻器镀层的厚度 ,对包埋样品的粘合剂的粘合性能 ,粘合剂的硬度与被测物的硬度是否一致提出了较高要求。经大量实验 ,用快干腻子固定和镶嵌片状电阻器试样 ,达到了理想的效果     

X荧光光谱分析法在镀层厚度测量中的应用

基于X射线荧光光谱的基础理论,简要分析了能量色散X射线荧光光谱分析方法的工作原理及其在镀层厚度测量中的应用技术.通过对一组相同结构不同厚度标准片的实际测量,在薄膜厚度测量非线性数学模型条件下,通过评估测量中各种不确定度来源和大小,总结出校准标准片在总不确定度中起的主导作用,为实际测量应用中提高精度提供理论基础.     

微光束X—射线荧光测量线材上的镀层厚度

为了保证电子元件的质量，金属线上可焊性镀层的厚度是一个必须控制的参数，可焊性镀层的厚度必须保持在非常牢固的极限范围内，开发的X－射线荧光设备具有非常小的采样面积，可以测定直径小于50μm的金属线，该设备测定结果比常规方法至少精确50nm。     

一种新型的减摩耐磨复合电镀层

利用复合电镀方法将ＴＮＴ／ＲＤＸ（５０／５０）混合炸药爆炸后生成的爆炸黑粉（由超微细石墨。金刚石及无定型碳组成）与Ｎｉ共沉积制备了Ｎｉ基复合电镀层，实验结果表明，复合电镀层呈非晶化趋向，其硬度和耐磨性能明显改善，而且还具有较好的自润滑性。     

X射线光谱法测量仿金TiN装饰镀层厚度的程式设计

采用真空离子镀技术在单晶Si片、316不锈钢片表面制备金黄色仿金TiN装饰镀层。用扫描电子显微镜和能谱仪对离子镀仿金TiN装饰镀层厚度及成分进行研究分析。结果表明,离子镀仿金(金黄色)TiN镀层成分为Ti77 wt.%、Ni23 wt.%,Ti、N原子比为1:1.01;设计了一种现今装饰及钟表行业中316不锈钢制品上离子镀仿金(金黄色)TiN装饰镀层厚度的X射线荧光测试程式:Ti50%N50%/316。X射线荧光镀层厚度测试法在设计了准确的测试程式后,是一种准确、快速、无损检测方法,检测不受产品外观的影响,可极大地提高工作生产效率。     

电子元器件镍金复合镀层厚度测试方法研究

目前,电子元器件复合金属镀层厚度的测量主要采用具有破坏性的金相切片法,该方法会对样品造成不可逆损伤。鉴于此,该文提出先培养基片,再通过X射线荧光测厚仪测量复合镀层厚度的基于过程工艺控制的无损检测法,并探究双层和三层镍金复合镀层结构,得到内层镀层对外层镀层测量的影响因子,并研究其测量误差。实验结果表明:该培养基片法在不破坏样品的情况下实现电子元器件复合金属镀层厚度的精确测量,为电子元器件生产过程中复合镀层厚度的控制提供技术支持,进一步完善电子元器件镀涂工艺。