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针对一种基于折叠集的test-per-clock结构的混合模式BIST进行了低功耗优化设计.该设计方案针对伪随机测试序列与折叠测试序列采用了不同的方法来优化测试生成器,在电路结构上利用双模式LFSR将两部分测试生成器有机地进行了结合. 相似文献
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本文提出了一种用于存储器测试的新方法:"透明"的可编程BIST方法.该方法可以覆盖几乎所有的故障模型,并且,由于测试生成算法和数据背景的结合,提供了灵活无约束的数据背景,因而增加了检测非模型化故障的可能性.通过实验评估了本文方法的性能和面积开销. 相似文献
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复杂可编程逻辑器件(CPLD)以其运算速度快、编程方便等优点得到了广泛的应用。本设计采用CPLD为核心,设计了28输入/24输出数字逻辑可编程控制器。通过外围电路的设计、硬件描述语言编程和程序下载等实验,制作了一种新式可编程控制器。可以应用自顶向下设计方法设计复杂的系统工程,实现在系统编程,满足一般的工业现场控制要求,并且在程序执行速度和性价比上远优于现有可编程控制器(PLC),具有使用和进一步开发价值。 相似文献
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提出了一种基于分层结构的内建自测试(BIST)设计方法—3DC-BIST(3D Circuit-BIST)。根据3D芯片的绑定前测试和绑定后测试阶段,针对3D芯片除底层外的各层电路结构,采用传统方法,设计用于绑定前测试的相应BIST结构;针对3D芯片底层电路结构与整体结构,通过向量调整技术,设计既能用于底层电路绑定前测试又能用于整体3D芯片绑定后测试的BIST结构。给出了一种针对3D芯片的BIST设计方法,与传统方法相比减少了面积开销。实验结果表明该结构在实现与传统3D BIST方法同样故障覆盖率的条件下,3D平面面积开销相比传统设计方法减少了6.41%。 相似文献
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随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memo- ry build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的 Mbist 方法,通过3个计数器驱动的可编程 Mbist 控制模块和算法模块集成8种测试算法,提高故障覆盖率和灵活性。采用 Verilog 语言设计了所提出的 Mbist电路,通过 Modelsim 对 1 Kbit×36 的 BRAM进行仿真并在自动化测试系统上进行了实际测试。 实验结果表明,该方法对 BRAM 进行测试能够准确定位故障位置,故障的检测率提高了15.625%,测试效率提高了26.1%, 灵活性差的问题也得到了很大改善。 相似文献
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新概念永磁电机--记忆电机的设计研究 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了记忆电机的设计方法,分析了记忆电机的磁场分布特点.分析发现,当电机的其他尺寸一定时,永磁体的极弧系数对气隙磁密幅值的影响比径向长度的影响明显,永磁体靠近轴侧的一定范围内磁密为零,因此记忆电机的永磁体存在一个有效径向长度. 相似文献
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本文介绍了一种高性能可编程光衰减器的设计方法。首先分析了光衰减器的光学原理,然后详细介绍了其电机定位系统。结合主要的技术指标,分析其实现方法以及产生误差的原因。最后给出了测试方法和测试结果。 相似文献
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介绍了可程控直流电源模块的设计与制作,对全桥驱动电路、PWM波形产生电路、主变压器设计、隔离电路等设计的难点做了分析,样机经实际使用后,满足技术指标要求。 相似文献
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针对内建自测试(BIST)技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单元,实现了测试壳在各种工作模式下的指令操作,并结合BIST的工作原理设计了测试控制器的结构和工作流程。最终以8位超进位加法器为例,在Quartus II环境下对整个测试系统进行了功能验证。验证结果表明,IEEE 1500测试壳可在BIST控制器作用下正确完成指令和数据传输,本设计对IP核的测试功能有效可行。 相似文献
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本文提出了采用电荷耦合器件(CCD)对瞬态信号进行数字存贮的新方案。该方案的优点是,避免了使用价格昂贵的高速模数转换器(ADC),因而大大降低了高速数字存贮的成本。采用国产CCD的数字存贮系统业已实现,文章介绍了该系统的工作原理、主要电路设计,并给出实验结果。 相似文献