电子元器件可靠性增长的分析技术

从元器件可靠性物理分析技术角度,系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、密封器件内部气氛分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术。将元器件质量与可靠性分析技术融入元器件产品设计、制造过程是实现元器件可靠性增长的必然趋势。     

声表面波器件压电芯片粘接工艺的可靠性研究

本文对声表面波(SAW)器件失效模式以及SAW器件粘片失效模式进行了初步分类和探讨。通过对粘片工序几种失效模式的对比试验，总结了一套针对该工序的较为完整的粘片可靠性增长的控制措施。     

用显微红外热成像技术分析功率器件可靠性

利用显微红外热成像技术对功率器件进行热可靠性分析。先从理论上阐述了显微红外热成像技术的原理,进而尝试利用该技术进行微波功率器件可靠性筛选工作,通过分析获取了显微红外图像中的温度分布和峰值温度,大大提高了器件可靠性筛选工作的准确性。在功率器件失效分析方面,利用显微红外热成像技术对发生失效的器件进行热成像和分析,通过定位失效点找到器件发生失效的原因。另外,还利用该技术来验证器件热设计的成功与否,通过显微红外热成像获取的温度信息如峰值温度、温度分布等来判断器件的热设计是否符合要求,在实际的器件设计过程中起到了良好的效果。     

某型军用通信设备功放可靠性增长设计

在某型军用通信设备的设计与研制中,功放的质量和可靠性水平是影响整个设备性能指标的关键因素.分析了该型功放的故障模式和失效机理,对其进行了可靠性增长设计.该方案经过了多项试验验证,能够达到功放可靠性水平提高的目的.     

MEMS加速度计可靠性评价技术

MEMS加速度计是动作识别设备、姿态控制设备等电子设备的核心器件,其功能失效会严重影响设备的可靠性。而目前国内外还没有MEMS器件的可靠性实验标准,这在一定程度上制约了MEMS加速度计的应用与发展。针对该现状,深入研究了MEMS加速度计敏感部件的失效模式及失效机理,得到了典型环境应力与器件失效的关系,分析了加载环境应力可能导致器件失效的环境实验,并选取了相应的MEMS加速度计产品进行了可靠性实验验证,得出了MEMS加速度计可靠性评价的初步试行方案。     

声表面波器件压电芯片粘接工艺的可靠性研究

对声表面波(SAW)器件失效模式以及SAW器件粘片分离模式进行了初步分类和探讨，通过对粘片工序几种分离模式的对比试验，总结了一套针对该工序的较为完整的粘片可靠性增长的控制措施。     

基于MEMS工艺的微机械失效分析研究进展

随着微电子机械系统(MEMS)消费市场的不断增长,微器件的可靠性问题将是未来数年MEMS研究面临的新挑战.针对国内外近年来在微机械失效方面的主要研究内容,综述了基于MEMS工艺微机械的主要失效形式、失效机理和失效预防措施的最新研究成果和主要研究方法,着重总结了微机械的断裂、疲劳、磨损、黏附和蠕变等失效形式,并分析了这些失效形式对微器件的功能和性能的影响以及对这些失效的预防措施,通过结构优化、器件设计和加工质量控制等措施可降低失效的发生,提高可靠性.最后总结了微机械失效分析中存在的主要问题和以后的发展方向,提出建立通用的失效预测模型、标准的可靠性测试方法是未来微机械失效分析的研究重点.     

机电产品可靠性自然增长检验方法研究

针对机电产品投入使用初期存在的可靠性自然增长问题,提出了机电产品可靠性自然增长检验方法,分别提出了针对单台时间截尾、单台失效截尾、多台时间截尾和多台失效截尾条件下的检验方法,并分别用实例进行了分析.分析结果表明,这些方法能够有效地判定产品或系统是否存在可靠性自然增长趋势,可以为机电产品运行初期的状态监控和维修保养提供决策支持.     

CMOS／SOSCC4066器件的可靠性研究

本文介绍了CMOS/SOS CC4066器件长期可靠性试验结果。对失效器件的分析表明,硅-蓝宝石技术没有新的失效机理。该器件的可靠性不低于国内体硅MOS IC能达到的水平,并接近“七专”器件的水平。     

浅谈可靠性增长工程及其管理

1 可靠性增长 可靠性增长是可靠性工程中一个很重要的概念。产品的生产定型,虽已符合技术标准等要求,但还算不上是完美产品。因为这样的产品其初期可靠性不可能达到预期可靠性水平。必须通过一个采取了各种纠正措施的增长过程,或者通过广泛使用,暴露其缺陷,然后加以改进、提高,才能达到预期的可靠性水平。这一过程一般需要较长一段时间。为了缩短这一过程,可以采用人工模拟诱发缺陷提前产生,然后进行失效分析,找出其失效机理,再采取相应措施加以改进,使其可靠性达到预期目的。这一过程在工程上称之为可靠性增长。可靠性增长不仅适用于产品研制阶段,也适用批生产阶段。但可靠性增长工程的重点应该放在研制阶段,因为这对设计作出更改的困难程度相对较小,且花费的费用也较少。     

电子产品研制阶段可靠性增长试验研究

在现代电子系统设备和可靠性增长工作的推动下,可靠性技术和工程实践得到了深入发展。结合工程实际经验,深入讨论了可靠性增长过程及实现途径。在保持试验条件和改进过程不变的条件下,实施了对具体型号电子产品的可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,并且利用可靠性增长试验的数学模型(AMSAA模型)来评估产品的可靠性增长,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义。     

自然增长与计划增长

可靠性增长有两种方式：一种是自然增长,另一种是计划增长。前者是不与可靠性目标值相联系的增长方式;后者是受可靠性目标值制约的增长方式。讨论了自然增长和计划增长的概念、内涵和特点,并举例阐述了二者之间的本质区别。     

电子产品研制阶段可靠性增长试验研究

结合工程实际经验,深入讨论了可靠性增长过程及实现途径,在保持试验条件和改进过程不变的条件下,实施了对具体型号电子产品的可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,并且利用可靠性增长试验的数学模型(AMSAA模型)来评估产品的可靠性增长,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义.     

机载电子设备可靠性增长与管理

可靠性低是我国机载设备存在的最突出的质量问题 ,提高可靠性的必由之路是开展可靠性增长。介绍在可靠性增长工程实践中 ,研究和应用了综合化可靠性增长技术及其系统工程管理模型 ,探索了一条经济有效并能按期达到目标值的可靠性增长途径     

有效的可靠性增长管理技术

可靠性增长是提高航空电子设备可靠性的重要途径 ,已为军方和工厂企业所重视。有效的可靠性增长是通过强有力的可靠性增长管理才能实现的。通过机载导航产品可靠性增长实践 ,论述了有效的可靠性增长管理技术 ,包括 :增长目标值、组织保证体系、管理策略、TAAF和FRACAS等等     

元器件可靠性增长评估

在总结元器件可靠性增长工作经验的基础上,通过比较、分析可靠性增长寿命试验的前后结果和现场可靠性数据。提供了评估元器件可靠性增长效果的实用方法。应用GJB／Z 299B《电子设备可靠性预计手册》中各类元器件基本失效率随工作应力变化的关系,评估增长后在使用状态下的可靠性水平,为评估可靠性增长开拓了便捷的途径。文中以实例说明评估方法．以具体数据体现增长效果。     

机载电子设备首次生产可靠性增长研究

在现役机载电子设备可靠性增长工作的推动下，可靠性工程技术和工程实践得到了深入的发展，但可靠性工程的最终目的是为了提高产品的实际使用可靠性水平。研究了机载电子设备首次生产可靠性增长问题，正是立足于提高交付使用产品的可靠性水平，确保产品满足实际使用的高可靠性要求。     

某型现役光电跟踪设备可靠性增长

分析现役光电跟踪设备可靠性增长特点，研究改进设计与可靠性增长的关系。     

BP神经网络在可靠性增长分析中的应用

为了提高可靠性增长分析的准确性,可以应用BP神经网络来产生与原数据统计规律相同的数据。应用具体的试验数据对这种方法进行了分析和验证,效果不错,在可靠性增长分析领域中,具有更多的系统研究和推广的价值。     

设备可靠性摸底增长试验方法探讨

多年来,相关标准为我国开展设备可靠性鉴定、验收和可靠性增长试验工作提供了基本的原则和方法,为保证和提高我国设备的质量与可靠性起到了重要的作用.但是,近年来这些工作也受到研制周期和经费的限制,某些产品的可靠性试验工作无法按要求实施,例如:某些设备的可靠性指标要求高,对其开展上述试验,存在时间周期长、试验费用高的问题.探讨了采用可靠性摸底增长试验方法来保证设备可靠性的可行性.