集成SOC芯片系统的关键技术

集成SOC芯片系统是21世纪的发展方向.它是微电子技术按摩尔定律发展的必然结果.但为了实现SOC,还需要克服一系列设计和工艺上的难关.我国国家自然科学基金委和科技部对SOC发展已作了部署,可望我国在SOC芯片上取得快速发展.     

一种基于SOC技术的加固型嵌入式计算机系统的设计

单一芯片系统SOC(System On A Chip)是嵌入式系统实现的一种形式,是目前嵌入式应用领域的热门话题。本文作者对一种SOC芯片进行了研究和分析,并以这种芯片为核心设计了一种加固型嵌入式计算机;介绍了这种计算机的结构、性能、特点以及应用领域。     

SOC功能测试系统的设计与实现

针对SOC（System On Chip）功能特点。设计一种能够方便的完成SOC功能测试的测试系统。该系统在稍作修改的情况下可完成对不同SOC的功能测试,具有较好的移植性和扩展性,节省测试时间。介绍了SOC的组成及其测试现状,设计一种测试系统,并通过该系统完成对东南大学自主研发的SOC芯片SEP5010的功能测试。     

SOC功能测试系统的设计与实现

针对SOC(System On Chip)的功能特点,设计一种能够方便的完成SOC功能测试的测试系统。该系统在稍作修改的情况下可完成对不同SOC的功能测试,具有较好的移植性和扩展性,节省测试时间。介绍了SOC的组成及其测试现状,设计一种测试系统,并通过该系统完成对东南大学自主研发的SOC芯片SEP5010的功能测试。     

一种基于COS技术的加固型嵌入式计算机系统的设计

单一芯片系统SOC（System On A Chip)是嵌入式系统实现的一种形式，是目前嵌入式应用领域的热门话题，本文作者对一种SOC芯片进行了研究和分析，并以这种芯片为核心设计了一种加固型入式计算机，介绍了这种计算机的结构，性能，特点以及应用领域。     

无线传感器网络SOC芯片的低功耗设计

该文提出了一种无线传感器网络节点的SOC解决方案,介绍SOC设计的要点及VLSI低功耗设计的特点,在此基础上,着重分析了无线传感网络节点的体系结构,并从系统级,结构级,RTL级及物理设计几个方面阐述了无线传感网络节点芯片的低功耗设计。整个设计在FPGA上通过验证,并且完成了芯片的物理设计。     

中国芯C*Core设计及应用

随着集成度的提高,在嵌入式应用中,人们倾向于把CPU、存储器和一些外围电路集成到一个芯片上．构成所谓的系统芯片（简称为SOC）,而把SOC上的那个CPU成为CPU芯核。大部分嵌入式CPU都是针对某个应用。文中介绍了苏州国芯设计的C＊Core及其SOC设计平台,进一步了解由我国国内自行设计的CPU的特点及开发前景。     

嵌入式系统设计的新思路—SOC

90年代以来,SOC（Sytem On Chip)已成为微电子芯片技术发展的热点,SOC技术的出现表明了微电子技术由传统的IC（电路集成）向IS（系统集成）发展,它的出现拓展了嵌入式系统的设计思路,提高了设计的功能与效率。本文以便携式MP3播放器的设计为例,从一个方面展示了SOC技术的特点和优势。     

基于SOC工控系统的总线控制器设计

通过对工控PC104总线协议的分析,在一个SOC中设计了一个同步的总线控制器。基于面向航空领域应用中断响应速度快、低功耗、可靠性高的要求以及SOC系统的特点,对设计相关方面做出改进,主要包括对SOC片上外设数据通路的优化、SOC片上外设总线周期加速、关键信号去噪音处理、总线周期超时自结束。实验数据表明,改进后的设计,在启动操作系统时间速度比原来缩短了7.3%,功耗下降了17.1%。集成了该控制器的一款SOC芯片流片成功,实际运行系统可靠性高,中断响应速度加快了14%。     

SOC可测试性设计与测试技术

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题．对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述．从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作．最后,展望了SOC测试未来的发展方向．     

使用SystemC设计UART IP核

IP核技术是系统芯片SOC设计中的一个重要部分，如何实现和利用IP核减小SOC设计的复杂度成为目前微电子设计中的热点。将UART通信技术核心功能设计成紧凑的IP核，易于应用在各种嵌入式环境。本文说明了如何使用SystemC语言工具设计该IP核。     

基于嵌入式内核SOC IDDQ可测试设计方法

由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高，导致电路的静态漏电流不断升高，深亚微米工艺SOC(系统芯片)IC在IDDQ测试的实现方面存在巨大挑战．虽然减小深亚微米工艺亚阈值漏电开发了许多方法，如衬底偏置和低温测试，但是没有解决因为SOC设计的规模增大引起漏电升高的问题．首先提出了SOC设计规模增大引起高漏电流的可测试性设计概念．然后制定了一系列适合于SOC的IDDQ可测试设计规则．最后提出了一种通过JTAG指令寄存器控制各个内核电源的SOC IDDQ可测试设计方法．     

基于量子进化算法的层次型SOC测试结构优化

以减少系统芯片SOC测试时间为目标,研究了层次型SOC的多层次TAM优化问题。根据嵌入式IP核的分类,将层次型SOC测试结构优化转变成了平铺型SOC测试结构优化,并建立了基于量子进化算法的数学模型。通过对群体的观测,决定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现了包含TAM-ed且wrapped的嵌入式核的层次型SOC测试结构优化。针对国际标准片上系统芯片验证表明,与GA、ILP和启发式算法相比,该算法能够获得更短的测试时间。     

SOPC硬件系统设计概要

在系统设计复杂度不断提高及新产品市场周期不断缩短的压力下,把FPGA及微处理器核心内嵌在同一芯片上,构建成为一个可编程的SOC系统体系框架结构,建成所谓的可编程芯片系统SOPC(System on a Programmable Chip),从而为系统设计者提供了又一灵活快捷的设计方法与途径。     

基于SOC芯片C8051F300的轮胎气压监测系统

本文分析了汽车轮胎气压工况的特点，提出了一种基于片上系统SOC(System On Chip)芯片C8051F300的轮胎气压监测解决方案，讨论了设计过程中相关技术细节。     

SOC与芯片设计方法

本文介绍了以超深亚微米技术为支撑的SOC的定义以及芯片设计方法，并阐述了软硬件协同设计理论、IP核生成及复用技术、超深亚微米IC设计面对的难题以及SOC测试与验证技术。     

IP软核的测试技术研究

随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法。并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法。     

基于遗传算法的软硬件划分方法

针对SOC软硬件协同设计中的软硬件划分问题,首先构建了软硬件划分的系统模型,讨论了影响SOC性能的价格、执行时间、功耗、面积等因素及其相互关系。在此基础上,提出了一个旨在实现最优性价比的目标函数,并结合软硬件划分问题自身的特点对传统遗传算法的遗传操作进行了改进,在Matlab中进行了软硬件划分方法的仿真,仿真实验获得的结果有力地证明了算法的稳定性和有效性。同时,该算法在MPEG-2视频解码芯片设计中得到了实际应用,芯片设计的结果良好地反映了设计目标,证明了算法的实用性。     

基于SOC芯片的指纹数据采集系统设计

介绍一种基于SOC芯片μPSD3234A和指纹数据采集芯片FPS200设计的指纹数据采集系统;首先分析了指纹数据采集系统的各个功能模块.然后给出了系统的总体设计、各硬件接口电路和软件编程的设计,其中μPSD3234A与上位机的通信采用USB方式,总线接口采用MCU接口模式,用以实现实时的数据采集;该设计可靠性比较高,易于二次开发与扩展,避免了设计冗余,提高了系统性价比;实验结果表明,采集得到的指纹图像比较清晰,失真较小.     

小身材显现大智慧：迷你台式机2011年的发展趋势

台式机为何能做得日益小巧？这要拜多功能合一的芯片所赐。在这里我们首先要重新认识一个名词——SOC（System－on－Chip），也就是“系统级芯片”。SOC已经诞生有一段时间了，其存在形式多种多样。如今，几乎所有的原始设备制造商都在努力研发SOC，希望能在单个芯片上纳入更多功能，这项技术的典范是英特尔Atom处理器。