乳腺X射线基准装置半值层的测量

用工业钼靶X射线光机作为基准的辐射源,自行设计了一种圆柱形自由空气电离室作为基准电离室。参考国际标准建立了4个规范辐射质,采用曲线拟合的方法测量了各辐射质的半值层、第二半值层和同质系数,并求出了各规范辐射质的有效能量。与国际计量局乳腺X射线基准的半值层数值进行对比,偏差在1%左右。     

热释光剂量计测量X射线半值层法初步探讨

随着国内X光机数量的迅速增多,简易有效的X光机半值层(HVL)质量检测方法也越来越重要.使用Penelope 软件模拟 N80(65 keV)、N100(83 keV)、N150(118 keV)、N200(164 keV)重过滤窄谱辐照场中氟化锂热释光(LiF(Mg,Cu,P))剂量计在不同铜过滤片厚度下的能量沉积,...     

基于电离室阵列测量X射线半值层实验的研究

目前测量X诊断医用辐射源的半值层的方法基本采用人工叠加吸收片,测量出射线穿透不同厚度吸收片后的照射量,从而采用绘图方法或插入法计算X诊断医用辐射源的半值层[1],该方法曝光次数多,光机损伤大,操作不方便。为了准确测量诊断X射线的辐射质,减少工作量,设计一种电离室阵列测量方案,通过单次测量不同厚度吸收片下的剂量值,根据衰减曲线插值计算得到给定千伏下的半值层。通过测试比较,电离室阵列测量方案操作简单,数据准确,曝光次数少,能减少光机的损耗,具有较高的应用前景。     

诊断X射线检测设备半值层测量结果的影响因素

为了保证诊断X射线设备应用的安全有效,针对三种型号的多参数测量仪,分析了测量过程中可能对半值层测量产生影响的诸多因素,比如X射线管电压、管电流、曝光时间、半值层仪的摆放位置等,设计多组对照试验.试验结果显示,管电压的偏差会导致半值层的改变,合适的曝光时间可以获得更加稳定的测量结果.     

X射线半值层测量方法研究

根据ISO 4037建立了窄谱系列规范辐射质,研究了射束宽窄与探测距离对X射线半值层测量的影响.结果显示:当X射线能量较高时,在半值层的测量中,不可忽略散射的影响,需要在窄束下测量;在依据ISO 4037建立的窄谱X射线半值层的测量中,当管电压高于60 kV,对应的射束的能量高于45.8 keV时,需要在窄柬测量;适当的增加探测距离也可减少散射对半值层测量的影响.     

低空气比释动能率系列过滤X射线辐射质的测量与研究

以ISO 4037中推荐的低空气比释动能率系列过滤X射线参考辐射为研究对象,设计合理的半值层测量实验,测量获取第一半值层的值;对建立的辐射质,利用碲锌镉能谱仪测量其过滤X射线能谱,将测量得到的脉冲高度谱经过数据处理和转换,计算出平均能量;根据X射线在材料铝和铜中的衰减规律,拟合单能X射线衰减曲线,计算出该系列过滤X射线...     

医用诊断X射线机半值层计算方法探析

本文就X射线机辐射输出的半值层各种计算方法进行了分析和比较 ,以帮助对规程的理解     

10~70 kV低空气比释动能率X射线参考辐射质的建立与能谱的模拟北大核心CSCD

为解决环境水平剂量仪表在低能X射线段量值溯源工作,参考国际规范文件ISO4037-1建立了六个低空气比释动能率X射线辐射质,实验获得辐射质的半值层、能谱、平均能量、有效能量。将实验结果与ISO4037和德国联邦物理技术研究院的数据进行比较,建立的参考辐射场满足标准规范要求。研究工作为环境水平X射线的国际比对和环境监测仪表的量传递奠定了基础。     

诊断X射线辐射质RQR系列建立方法研究

介绍了如何以现有的“X射线诊断水平计量仪检定装置社会公用标准”为基础,以IEC61267-2005《用于确定特性的医疗诊断X射线仪器辐射条件》等系列报告为依据,建立新的X射线诊断水平剂量标准装置的方法.重点介绍了使用介入式测量方法确定有效峰值电压PPV和辐射质非减弱束辐射条件RQR系列的建立中两个核心的问题.建立了国内...     

简便准确的半值层测试方法—内插法

本文介绍了有内插法检测诊断Ｘ辐射源中半值层的步骤及其数据处理。通过理论及实验进一步探讨了在采用内插法测量半值层的过程中，当Ｘ射线能谱变化时，内插间距与引入误差的关系，从而得出该方法仅引入计算误差５％。     

医用诊断半值层测量仪校准影响因素的研究

在各种诊断X射线辐射源检定规程或校准规范中都对半值层测量提出了要求,半值层测量仪也得到广泛应用,但半值层测量仪的校准方法一直未明确。探讨在校准半值层测量仪过程中的主要影响因素,结果表明探测器角度对测量结果影响最大,因此校准时要将被校半值层测量仪置于测试平面中心位置,角度偏差不应超过±1°。     

拟合法测半值层的缺陷与改进

在电离辐射计量中 ,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源中的半值层测量方法及数据处理 ,从理论上分析和实验上证实了拟和法的缺陷因素 ;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法提供重要依据。     

诊断水平X参考辐射质的建立

参照IEC 61267-2005《医用诊断X射线测量特性使用的辐射条件》关于辐射质测量与计算的方法,通过实际测量与计算确定符合JJF 1621-2017《诊断水平剂量计校准规范》对参考辐射质要求的纯铝过滤片厚度,制作了所需的纯铝过滤片并用半值层测量装置验证了辐射质,建立了校准诊断水平剂量计的X参考辐射质.     

40~125kV脉冲X射线参考辐射场的建立

为解决用于X射线诊断、安检等涉及到的脉冲X射线剂量监测仪表的时间响应修正问题,建立了模拟上述辐射条件的40~125kV脉冲X射线参考辐射场。该参考辐射场同时具备了常规辐射场特性和脉冲辐射场特性。基于栅控技术的高压发生器可以调控光管产生不同脉冲特性的X射线,使用脉冲时间测量模块对产生X射线的脉冲特性(上升和下降沿时间、曝光时间等)进行测量,得到的结果表明该参考辐射场可用于主动式剂量监测设备的时间响应修正和剂量溯源。     

对X线辐射质（半值层）测量方法的探讨

本文叙述了对Ｘ线辐射质珠一种测试方法及计算公式。     

225 kV X光机管电压、管电流及固有过滤的研究北大核心CSCD

X光机的管电压、管电流及固有过滤是X射线光机质量控制的重要参数。X光机管电压、管电流以及固有过滤的测量,对于X光机的性能评价和参考辐射质的建立是非常必要的。以一台管电压上限为225kV的X光机为例,用能谱终点法测量对X光机的管电压进行测量,得出X光机能在±0.2%的范围内显示管电压值;用指型电离室PTW30013测量了高能X光机管电流的线性,测量得到的X光机的的管电流性能良好;用半值层法测量X光机的固有过滤,固有过滤为0.058mmAl.     

建立医学诊断X射线参考辐射场技术研究

为解决国家和地区使用的X射线诊断辐射剂量仪及其相关X射线探测仪辐射计量的检定和校准问题,必须在全国范围内构建医学诊断X射线标准辐射场,提供标准辐射剂量值。按照IEC 61267医用诊断X射线设备辐射特性使用的条件标准,分析辐射质和标准辐射条件,介绍RQR、RQA、RQC、RQT、RQN、RQB、RQR-M、RQA-M、RQN-M、RQB-M的具体技术要求和建立方法 ,为国内计量部门、专业实验室、X射线设备生产企业提供建设方案和技术支持。     

医用诊断X射线半价层的测量

介绍了医用诊断X射线半价层测量的原理与曲线拟合法、平均值法、内插法、作图法等四种测量方法,结合实验数据分析了平均值法、内插法和拟合法的特点。医用诊断X射线束通常为“宽束”,曲线拟合法测量半价层需考虑积累因子的影响,通过调整吸收片厚度能快速计算出半价层;平均值法对于宽束X射线在较大的吸收片厚度范围内多次测量不能减小误差;内插法测量时内插间距的选择直接影响测量结果;采用平均值法和内插法时,所选吸收片厚度应使K/K0分布在1/2两侧。     

~(60)Coγ射线参考辐射标准装置

实验室建立了满足国家量值溯源和传递要求的60Coγ射线参考辐射标准装置,主要用于治疗水平剂量计和防护仪表的检定与校准以及相关研究工作。文章首先介绍了60Coγ射线参考辐射标准装置的结构组成、物理原理及采用的技术路线;其次利用标准剂量仪测量不同源探距下的空气比释动能率,并测量源探距为1 500 mm处辐射场的均匀区大小,实验结果表明该辐照装置辐射场的空气比释动能率很好地符合平方反比定律,辐射场均匀区尺寸大于绝大多数剂量计的尺寸,该标准装置能够很好地满足应用需求。     

X射线铅当量测量辐射质的建立和能谱模拟

医用诊断X射线防护器具的防护性能通常用铅当量表示,根据IEC 61331-1,防护材料衰减性能的测定主要是在40～150kV X射线范围内,研究纯铅、含铅和无铅材料在窄束、宽束以及逆向宽束条件下铅当量的大小。为进一步研究不同测量方法下防护材料的屏蔽性能,需要建立符合标准要求的X射线参考辐射质,并对其能谱进行模拟或测量。依托工业X射线光机,通过添加铝附加过滤和不同厚度铝吸收片,建立了40～150kV范围内8个X射线参考辐射质,测量半值层最大相对偏差为2.8%。利用EGSnrc蒙卡模拟程序,模拟了不同辐射质的X射线能谱,其平均能量与IEC推荐值的最大相对偏差不超过0.4%,满足防护材料X射线铅当量辐射质的要求。